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光学测量>显微镜 EDAVU \-eDNwJ:#@  Hgf eSH "H"4]m1Wc 亮点 9u%S<F"
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 xTV3U9 v U?W?VEOO!7 在显微镜系统中，完整的矢量分析光栅 -ZKo/ N>6} 数秒内快速的高性能分析复杂系统 XaH%i~}3 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 XI8rU) q 研究偏振效应 ouO<un |o0?u: 说明：光源 W^sH|2g 角向偏振光 p^/6Rb"e
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 \&Bvh4Q ~SD8#; v2  d4[mR~XXT H}}g\|r& 径向偏振光 VzZ'W[/7)B R3\o LT4  _ A5. /QT"5fxKJ 说明：透镜系统 S{. G=O NJ ];Ck  1 Ka,u20 b,MzHx=im 说明：样品结构 %V2 A}78 RV{'[8gM  SZ )AO8&
(I7s[ 说明：探测器 BL?Bl&p( a
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