Ef%8+_ 时间地点 /D1Bf:'( 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
"*+epC|ks 苏州黉论教育咨询有限公司
S~(4q#Dt- 授课时间:2024年9月20(五)-22(日)共3天 AM 9:00-PM 16:00
e!tgWYN 授课地点:深圳市光明区凤凰街道光明大道与科裕路交汇处尚智科园1栋1B座1503室
?=r!b{9 课程讲师:讯技光电高级工程师
j@GMZz< 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐)
y^;qT_)# R3?~+y& 课程简介 R&ou4Y:DG 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。
oYJ&BPuA' 课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5天)
VZAdc*X 3-o ]H'6 课程大纲 <i]%T~\Af) 1. 杂散光介绍与术语
3q pkMu3 1.1 杂散光路径
<>j,Q 1.2 关键面和
照明面
Vg:P@6s 1.3杂光内部和外部杂散光
KOi%zE% 2. 基本辐射度量学-辐射
\?3];+c9 2.1 BSDF及其散射模型
OR?8F5o?p 2.2 TIS总散射概念
})mez[UmZ 2.3 PST(点源透射比)
?ZDx9*f 3. 杂散光分析中的
光线追迹
,l0s(Cg 3.1 FRED软件光线追迹介绍
~Rv U+D 3.2构建杂散光模型
UwE^ij 定义光学和机械几何
A8Jbl^7E+ 定义光学属性
.*Hv^_ 3.3 光线追迹
}Ecm 使用光线追迹来量化收敛速度
\GMudN 重点采样
n0vPW^EQ 反向光线追迹
}}_WZ},h 控制光线Ancestry以增加收敛速度
DU 8)c$ 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
"H G:by 使用GPU来进行追迹
da I-* RAM内存使用设置
Ho\+xX
!%Z1"FDm/ 4.散射模型
QQ!,W': 4.1来自表面粗糙的散射
0
?2#SM 低频、中频、高频
^xqh! RMS粗糙度与BSDF的关系
NoKYHN^*w 由PSD推导BSDF
w~Y#[GW 拟合BSDF测量数据
jBE=Ij 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
$7BD~U 4.3 来自颗粒污染的散射
X(WG:FP27 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
{|rwIRe 颗粒密度函数模型
7kJ,;30) 案例:计算
激光通过金属粉尘的吸收
Q45rP4mQ 4.4 来自黑处理表面的散射
E&[ox[g{ 4.5 孔径衍射
n"dT^
g 杂散光程序中的孔径衍射
Pc4sReo' 衍射元件的衍射特性
GbL,k?ey 案例:衍射杂散光分析
E*
lqC h 5. 大气湍流散射
HuK'tU# 6 热辐射
<?Lj!JGX 红外热辐射的杂散光分析
w6wXe_N+M 冷反射仿真
/5=A#G 7. 鬼像反射
DH9?~| 鬼像反射
E3gQ`+wNg? 表面镀膜
a(J~:wgd 表面镀AR增透膜的仿真
H>Fy 2w 8.
光学设计中的杂散光控制
?iia 8.1使用视场光阑
Sk1yend4 8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量
F`38sq 8.3使用眩光光阑(Lyot stop)
(TY^
ky Sr 8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射
#v~5f;[AAs 8.5 使用滤光
,$*IJeKx 8.6 显微镜中的杂散光分析
= j}00,WH 9. 挡板和冷窗的设计
.79'c%3} 9.1主挡板和冷屏的设计
`[:f;2(@ 9.2 挡光环的设计
TnKe"TA|9 槽型挡光环
;e[-t/SI 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔
0#yo\McZ 案例:望眼镜系统的挡板的
优化 9wI1/> 10. 角分辨散射光测量技术
+Uk/Zg
w^ 10.1 PSD测量技术与PSD转BSDF
: 0%V:B 10.2 BSDF散射测量仪光路结构介绍
n\P{Mc 10.3 BSDF散射测量关键
参数介绍
0<P
-` |X 10.4 使用BSDF测量数据提升仿真精度
鬼像路径在3D视图中的渲染和照度分析
IB?5y~+h 11.答疑
K}wUM^ 对此课程感兴趣,可以扫码加微联系 a"ht\v}1 \.*aC)