(Rs<'1+> 时间地点 %&e5i 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
I uhyBo 苏州黉论教育咨询有限公司
HykJ}ezX4 授课时间:2024年9月20(五)-22(日)共3天 AM 9:00-PM 16:00
/mqEc9sq, 授课地点:深圳市光明区凤凰街道光明大道与科裕路交汇处尚智科园1栋1B座1503室
nQ/(*d 课程讲师:讯技光电高级工程师
q(a6@6f"kD 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐)
y"2#bq 63F0Za}h 课程简介 2R|2yAh 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。
HM ^rk 课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5天)
&/a/V !~>u\h 课程大纲 k]I<% 1. 杂散光介绍与术语
S{fNeK 1.1 杂散光路径
M{hA` 1.2 关键面和
照明面
: @YZ6?hf 1.3杂光内部和外部杂散光
9J l9\y9 2. 基本辐射度量学-辐射
)RA7Y}e|m 2.1 BSDF及其散射模型
J*$ !^\s 2.2 TIS总散射概念
>Q"eaJxE!l 2.3 PST(点源透射比)
NhpGa@[D 3. 杂散光分析中的
光线追迹
Vf O0 z5& 3.1 FRED软件光线追迹介绍
Yckl,g_ 3.2构建杂散光模型
V{c
n1Af 定义光学和机械几何
.,tf[w 71 定义光学属性
9) mJo( 3.3 光线追迹
xr.fZMOh4 使用光线追迹来量化收敛速度
kdgQ -UN$ 重点采样
Av+R~&h 反向光线追迹
CUY2eQJ{U 控制光线Ancestry以增加收敛速度
>f}rM20Vm 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
*3.
] 使用GPU来进行追迹
FDpNM\SR1l RAM内存使用设置
y{"8VT)
h9SS
o0]F 4.散射模型
umD . 4.1来自表面粗糙的散射
okr'=iDg 低频、中频、高频
H-0deJ[> RMS粗糙度与BSDF的关系
bha_bj 由PSD推导BSDF
O+z-6:` 拟合BSDF测量数据
P +oCcYp 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
rS6iZp, 4.3 来自颗粒污染的散射
a-8~f8na{( 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
ioh_5
5e 颗粒密度函数模型
-u)06C*39 案例:计算
激光通过金属粉尘的吸收
S(/@.gI:f 4.4 来自黑处理表面的散射
[(UQQa=+ 4.5 孔径衍射
a Se.]_ 杂散光程序中的孔径衍射
8Ck:c45v 衍射元件的衍射特性
zBqr15 案例:衍射杂散光分析
[=.. #y!U 5. 大气湍流散射
[wIyW/+ 6 热辐射
GawLQst[+ 红外热辐射的杂散光分析
Z`<
+8e 冷反射仿真
rpy`Wz/[ 7. 鬼像反射
")ZHa qEB 鬼像反射
ezHj?@ 表面镀膜
/kNr5s 表面镀AR增透膜的仿真
pE15[fJ` 8.
光学设计中的杂散光控制
`(Ei-$
>U& 8.1使用视场光阑
W6~<7 8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量
a08B8 8.3使用眩光光阑(Lyot stop)
qlDLZ. 8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射
jZ.+b
j > 8.5 使用滤光
wBCnP 8.6 显微镜中的杂散光分析
lzl4pnj 9. 挡板和冷窗的设计
4!iS"QH?;^ 9.1主挡板和冷屏的设计
:n>:*e@w% 9.2 挡光环的设计
b%T-nY2 槽型挡光环
uK): d&]Ux 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔
/`2VJw 案例:望眼镜系统的挡板的
优化 := *>:*.Kb 10. 角分辨散射光测量技术
9 Q].cDe[ 10.1 PSD测量技术与PSD转BSDF
[yjC@docH 10.2 BSDF散射测量仪光路结构介绍
,CwhpW\Y 10.3 BSDF散射测量关键
参数介绍
ZYu^Q6b3 10.4 使用BSDF测量数据提升仿真精度
鬼像路径在3D视图中的渲染和照度分析
%3"3OOT7 11.答疑
9.PY49| 对此课程感兴趣,可以扫码加微联系 /sJk[5!z pmHd1 Wub