9%T~^V%T7 时间地点 OeLM*Zi 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
bis}zv^%v 苏州黉论教育咨询有限公司
Er509zZ,[ 授课时间:2024年9月20(五)-22(日)共3天 AM 9:00-PM 16:00
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b 授课地点:深圳市光明区凤凰街道光明大道与科裕路交汇处尚智科园1栋1B座1503室
Z\c^CN 课程讲师:讯技光电高级工程师
Xfo3fW)s 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐)
vkUXMMuf+e |,#DB 课程简介 5P'o+Vwz 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。
rKxIOJ ,T 课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5天)
$De1 4 nK[T.?Nz 课程大纲 e1ts/@V 1. 杂散光介绍与术语
_sLSl;/t 1.1 杂散光路径
x\0(l5> 1.2 关键面和
照明面
DD5S
R 1.3杂光内部和外部杂散光
3*INDD= 2. 基本辐射度量学-辐射
Zcst$Aro 2.1 BSDF及其散射模型
tjLp;%6e 2.2 TIS总散射概念
d^b(Uo=$ 2.3 PST(点源透射比)
cC@.& 3. 杂散光分析中的
光线追迹
YNHQbsZUI, 3.1 FRED软件光线追迹介绍
Q5%$P\ 3.2构建杂散光模型
v_=xN^R 定义光学和机械几何
~hiJOaCzM 定义光学属性
SUGB)vEa 3.3 光线追迹
;6+e !h'1 使用光线追迹来量化收敛速度
Em6P6D>S>, 重点采样
pAK7V;sJ 反向光线追迹
(h&XtFul} 控制光线Ancestry以增加收敛速度
d6RO2^ 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
j:k}6]p} 使用GPU来进行追迹
e8E*Urtz RAM内存使用设置
Qk`ykTS!
`eZ
+Pf". 4.散射模型
R;yi58Be 4.1来自表面粗糙的散射
%PF:OB6[| 低频、中频、高频
''.P= RMS粗糙度与BSDF的关系
(_2Iu%F 由PSD推导BSDF
M( euwy 拟合BSDF测量数据
WxE^S ??| 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
MZPXI{G 4.3 来自颗粒污染的散射
[v0[,K 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
u
V[:e|v 颗粒密度函数模型
/i!3Fr" 案例:计算
激光通过金属粉尘的吸收
:2v^pg| 4.4 来自黑处理表面的散射
[l`_2{: 4.5 孔径衍射
@$:T]N3m 杂散光程序中的孔径衍射
6(M^`&fl 衍射元件的衍射特性
8VWkUsOoI 案例:衍射杂散光分析
J~jxmh 5. 大气湍流散射
&Hl*Eg
f 6 热辐射
4k7
LM] 红外热辐射的杂散光分析
E8gbm&x* 冷反射仿真
fC4#b?Q 7. 鬼像反射
JyiP3whW 鬼像反射
LA +BH_t& 表面镀膜
pYxdE|2j 表面镀AR增透膜的仿真
:NCY6?
[Dz 8.
光学设计中的杂散光控制
h=a-~= 8 8.1使用视场光阑
mKTa. 8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量
!PySYY 8.3使用眩光光阑(Lyot stop)
T> < Vw 8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射
JkfVsmc<{h 8.5 使用滤光
n7A %y2 8.6 显微镜中的杂散光分析
9e aqq 9. 挡板和冷窗的设计
K-<kp!v 9.1主挡板和冷屏的设计
B)L=)N 9.2 挡光环的设计
o)B`K." 槽型挡光环
*m>XtBw. 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔
wO-](3A-8P 案例:望眼镜系统的挡板的
优化 e6
&-f 10. 角分辨散射光测量技术
LK>J]p 10.1 PSD测量技术与PSD转BSDF
9y$"[d27;+ 10.2 BSDF散射测量仪光路结构介绍
kO)+%'L!8 10.3 BSDF散射测量关键
参数介绍
hRc.^"q9 10.4 使用BSDF测量数据提升仿真精度
鬼像路径在3D视图中的渲染和照度分析
Le?yzf 11.答疑
p?Rq 对此课程感兴趣,可以扫码加微联系 6he (v l<DpcLX