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    [技术]通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究 [复制链接]

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    离线infotek
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-05-10
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    通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率，瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为，当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时，就可以分辨它们。在这个例子中，我们根据瑞利的理论，检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。 hOwVm;:  
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     从Zemax OpticStudio®导入透镜系统 a2g15;kM  
    - 从Zemax导入光学系统 [用例] \?GMtM,  
     分析实际透镜系统的成像性能 ~5JXY5 *o  
    - 分析高NA物镜聚焦 [用例] )fC^h=Qp  
     使用Debye-Wolf积分作为参考 ^ 5UIbA(  
    - Debey-Wolf积分计算器 [用例] + 1cK (Si  
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