[技术]Shack Hartmann传感器的模拟 [复制链接]

摘要 W-!dMa  
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对于电磁场的全面表征，不仅是能量密度的信息，而且是相位的信息都具有关键价值。虽然在模拟中我们可以直接从数字数据中计算出这些信息，但在真实的实验室中，则需要更复杂的方法。测量这种信息的常见工具是Shack Hartmann传感器，它使用微透镜阵列（MLA），通过焦平面上相应光点的位移来重建一个入射场的波前。为了研究这类设备，我们演示了Shack Hartmann传感器的模拟，以不同的波前作为输入。 `O jvt-5}E  
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任务描述 R=QM;  
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a) 平面波 @nW'(x(  
- 波长640nm fVv$K&  
- 与原点的距离无限大 ar=hx+  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) VN!^m]0  
b) 倾斜的平面波 dfXV1B5  
- 波长640nm ],!pp3U  
- 2.5°倾斜 w`"W3(  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) Dj/Q1KY$m  
c) 弱球面波 lTd+{TF.  
- 波长640nm WoJ]@Me8  
- 与原点的距离为100毫米 $t%"Tr  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) ^S3A10f,  
d) 强球面波 KS8\F0q  
- 波长640nm Y~<rQ  
- 与原点的距离为40毫米 :r[W'h_%  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) r]xdhR5  
微透镜阵列 Y&~5k;>'_  
- 材料：N-BK7 @)+i{Niuv  
- 凸面-凸面 Pm'.,?"  
- 曲率半径：5毫米 l,ZzB,"  
- 200 μm × 200 μm 透镜尺寸（长方形）  ; \Y-  
- 5×5个微透镜 )bF)RLZ  
探测器 ye9QTK6$,  
- 输入场的波前 {_+>"esc  
- 理想平面波聚焦面的电磁场的能量密度 oM m/!Dc  
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系统构件 - 组件 }P7xdQ6  
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\=TWYj_Ah  
微透镜阵列组件允许轻松定义任意形状的微透镜阵列。材料和尺寸通过 Solid选项卡定义，而微透镜的表面形状则使用堆栈概念进行配置，并可通过单独的Surface Add-Ons选项卡访问。
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该组件可以通过整个结构或单个微透镜进行模拟。 zkw0jX~  

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系统构件 – 探测器 L+`}euu5  
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Camera Detector能够计算出系统中任何一点的电磁场的能量密度。Electromagnetic Field Detector计算出纯的、复值的场数据。如果用户希望看到这些信息，它还可以计算和提取所述场的波前。 yS(=eB_  
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总结 - 组件... /61ag9pN  
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仿真结果 vs)HbQ  
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光线和场模拟的第一印象 3w6JV+?  
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MLA前的波前 UeC%Wa<[