时间地点:
SEsc"l8 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司;苏州黉论教育咨询有限公司
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Ia 授课时间:2023年11月27(一)-29日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00
#n&/yYl9(l 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
[!9dA.tF 课程讲师:讯技光电高级工程师
qd\5S*Z1 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
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`X23 课程简介:
A;VjMfoB 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。
.1R:YNx{/ 课程大纲:
k{_ Op/k}V 1. 杂散光介绍与术语 NMq#D$T 1.1 杂散光路径
\7M+0Ul1 1.2 关键面和
照明面
P{2V@ <} 1.3杂光内部和外部杂散光
_cra_(b 2. 基本辐射度量学-辐射 *h6Lh]7 2.1 BSDF及其散射模型
oL?(;
`"& 2.2 TIS总散射概念
+%vBDcf 2.3 PST(点源透射比)
LB*qL 3. 杂散光分析中的光线追迹 c"qaULY
O 1TJJ8 3.1 FRED软件光线追迹介绍
g%()8QxE1 3.2构建杂散光模型
BxR%\ 定义光学和机械几何
%JmRJpCvR 定义光学属性
J[E_n;d1 3.3 光线追迹
o+(>/Ou 使用光线追迹来量化收敛速度
s|iph~W!L 重点采样
WT(inf[ 反向光线追迹
]L0GIVIE 控制光线Ancestry以增加收敛速度
lZT9 SDtS 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
FO"8B 使用GPU来进行追迹
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