[分享]SPEOS应用：将Rayfile光源转换为面光源 [复制链接]

本文将讲述如何rayfile转换为面光源，Rayfile光源文件包含有限数量的光线，表面光源有无限量的光线，这使得表面源对于使用逆模拟，得到清晰可视化仿真特别有用。 byM%D$R  
-Q? i16pM  
表面光源均匀地从几何形状表面的每个点发射光，这种简单的方法可以在没有指定光源的早期开发阶段使用。 rN1]UaT  
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高阶段的表面光源通过使用从rayfile文件光源获取光信息，更准确的以模拟面光源代替rayfile光源，打破rayfile光源内有限光线数对仿真的限制。 JD*HG]  
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下面将在本文中介绍这种转换方法: "(=g7,I4  
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步骤1:用一个初步的模拟获取rayfile(s)光源属性。 e66Ag}Sw|  
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步骤2:使用先前获取的属性文件再创建表面源。 %bw+>:Tr  
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当然为了创建一个表面光源，需要4个元素，获取这些元素数据，可以确保表面光源在近场和远场的正确建模： #$UwJB]_D  
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Flux光通量：在数据表中查找，或通过初步模拟获取。 a;[\nCK
 
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Exitance：一般是常数，或通过初步模拟以辐照度探测器获取XMP文件。 QGN+f)  
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Intensity：数学定义，或通过初步模拟用强度探测器获取XMP文件。 &$s:h5HoX  
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Spectrum：在数据表中查找，或通过初步模拟获取。 .=:f]fs  
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步骤 gdIk%m4  
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步骤1:用一个初步的模拟获取rayfile(s)属性 xoVd[c!   
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创建辐Irradiance照度探测器，在LED最后可见表面前面距离处(例如0.1 mm)创建一个辐照度探测器。 x<I[?GT=  
OV{v6,>O  
t,YRM$P  
对于可见波长，“type”应设置为photometric。 {XU!p: x  
syu/"KY^!  
对于UV/IR波长，“type”应设置为radiometric。 M"*NV(".g  
w6Gez~8  
4D&L]eJ  
创建Intensity强度探测器，在与辐照度探测器相同的位置创建一个强度探测器。强度探测器“方向”应以90°为起始角的Conoscopic，要获取波长信息以表现光源的打光颜色，“type”应设置为spetral。调整波长设置，以包括所需的波长范围和采样，更高分辨率的采样将得到更准确的转换。 ;?u cC@  
y],opG6  
|mMsU,*gB  
运行direct模拟，使用LED的rayfile光源和创建的两个探测器运行直接模拟。模拟的最小光线数应该是rayfile文件中包含的光线数。 =mLp g4  
&en2t=a  
当然根据设计的复杂程度，可能需要大量的光线来精确模拟输出，这样就采用对每个rayfile光线文件重复利用，例如在每个芯片位置的rayfile光源重复三次，这样以便减少rayfile光源对仿真光线数的限制。 >r`O@`^U  
]#NfH-T  
步骤2:使用先前获取的属性创建表面光源。 UXji$|ET6  
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使用辐照度和强度结果作为输入创建一个表面光源。这两个输出的XMP结果可以从“SPEOS output files”文件夹中抓取。 C9+rrc@4  
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1. Exitance }@LIb<Y  
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将variable设置为“True”，并选择辐照度结果作为文件。“原点”和“X/Y方向”应与原始仿真中的探测器设置相同。 ~AD>@;8fG  
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2. Intensity G9XkimQ'  
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设置强度类型为“Library”，并选择强度结果作为强度文件。“原点”和“X/Y方向”应与原始仿真中的探测器设置相同。 Foq3==*p  
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2{RRaUoRb  
3. Spectrum 9+ Mj$  
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如果在第一步获取rayfile属性的仿真中，强度探测器类型未设置为“colormetric”或“spectral”，则需要在面光源定义中添加光谱文件，这个频谱文件必须从LED的数据中获取，或者是官方网站下载。 %UdE2D'bC  
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如果在第一步获取rayfile属性的仿真中，强度探测器类型已经设置为“colormetric”或“spectral”，光谱数据已经包含在Intensity中，此时无需再次定义光谱数据。 +6>2= ,?Z  
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4. 完成rayfile光源到表面光源的定义转化。 $m ;p@#n  
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拓展应用 '{0O!y[H6  
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对于多个光源的定义，可以使用Speos Pattern将创建的光源导入到一组坐标系统中，一次完成对所有光源位置的定义。本文中的表面光源首先需要导出为Speos lightbox，以便在Speos pattern功能中使用。 Q.9,W=<6  
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当然可以创建lightfield光场光源，以创建子光学系统的光传输结果，以便在更复杂的光学系统中重复使用子光学系统的结果，以便在计算模拟时减少计算时间。 Z:^<NdKe  
T$mT;k