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主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 E0XfM B]+ 苏州黉论教育咨询有限公司 Bny3j~*U 授课时间:2023年6月5日(一)-7日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00 n_[;2XQQ 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 {[V<mT2/ 课程讲师:讯技光电高级工程师 HIUB: 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) \v(}@zcB| 2"`R_q 课程简介: {j%'EJ5 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。 &)?ECj0` @1_M's; 课程大纲: KiN8N=z "F
nH>g- 1. 杂散光介绍与术语 o+e:HjZZ 1.1 杂散光路径 x9UF 1.2 关键面和照明面 `Pa z 1.3杂光内部和外部杂散光 4+fWIY1
" 2. 基本辐射度量学-辐射
/="~Jo 2.1 BSDF及其散射模型 {DzOXTI[Y 2.2 TIS总散射概念 p^u;]~JO 2.3 PST(点源透射比) b}DxD1*nsI 3. 杂散光分析中的光线追迹 yu ~Rk 3.1 FRED软件光线追迹介绍 hV,)u3 3.2构建杂散光模型 9V5}%4k%+ 3.3 光线追迹 |X :"AH"S - 使用光线追迹来量化收敛速度
- 重点采样
- 反向光线追迹
- 控制光线Ancestry以增加收敛速度
- 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
- 使用GPU来进行追迹
- RAM内存使用设置
4.散射模型 j9FG)0 4.1来自表面粗糙的散射 y\M]\^[7 - 低频、中频、高频
- RMS粗糙度与BSDF的关系
- 由PSD推导BSDF
- 拟合BSDF测量数据
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 kXw& |