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光学测量>显微镜 j;P+_Hfe/E `kBnSi o~ ,35&G"JK5 =)<3pG O 亮点 {M~lbU wod/&!)]A
X.|Ygx $. e) 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 )xl6,bq3 数秒内快速的高性能分析复杂系统 nZvU'k: 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 1-;?0en&0 研究偏振效应 zDBD .5R; a,Kky^B 说明:光源 aSnp/g 角向偏振光 7$T8&Mh \MYU<6{u
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CF%~ ,r+"7$ 0'ZYO.y 0g(6r-2)7 说明:透镜系统 =&NOHT> H*U` Q9y*: @5Qoi~o 说明:样品结构 ]if;A ) ' 0^<,(]! $AwZ2HY z%2w(&1 说明:探测器 af>3V( 7 DzDj)7
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d(l|hmj4j9 结果:光线追迹 zO2{.4 x0x $ 9 角向偏振光 0$Ff#8 K\sbt7~ F.KrZ3%4iB 0BC`iql5 结果:光线追迹衍射级 5EhE`k4 #S?c ;3- 角向偏振光 9s
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