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光学测量>显微镜 ~D52b1f j7I=2xnTWu |x}TpM;ni 8}QM~&&. 亮点 :.:^\Q0 XC<fNK
QV|6"4\ L8 P0bNi 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 a&s34Pd 数秒内快速的高性能分析复杂系统 wE
.H:q4& 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 $|$@?H>K 研究偏振效应 zIa={tU De$~ *2 说明:光源 @-@Coy 4Tt 角向偏振光 S_lGrk\j )5|9EXh
{&1L &f< {gD ED '|C%X7 ieyK$q 径向偏振光 54$^ldD Wn<?_}sa|z *@rA7zPFf b(K"CL\p 说明:透镜系统 pGie!2T E !vz'zy)7 4"&-a1N V]zZb-m= 说明:样品结构 \M`qaFan5^ poz_=,c X,Ql6uO !2t7s96 说明:探测器 4\z@Evm fe\lSGmf
<Jgcj4D G)vNMl 结果:3D光线追迹 5]O{tSj 12`u[O}\}-
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oN032o?S 结果:光线追迹 %`]+sg[i 7I3_$uF 角向偏振光 |~Dl<#58 #-yCR KZKE&bTx 5dj" UxH 结果:光线追迹衍射级 .n<vhLDQn FL{Uz+Q 角向偏振光 #E]K*mE' UA<Fxt KF(H
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