切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 先进光刻机曝光系统光学设计 CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 1106阅读
    • 0回复

    [技术]光学断层扫描干涉法 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    7377
    光币
    31026
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-02-09
    扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 vjS`;^9  
    Ehx9-*]  
     eYUb>M)  
    Cyg2o<O@  
    建模任务 Nz dN4+  
    N p"p*O  
     hq=;ZI  
    lz,M$HG<[  
    结果 A=N$5ZJ  
    <s9{o uZ  
    ;,f\Wf"BW  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表