德国马克斯·玻恩研究所、亥姆霍兹中心、美国布鲁克海文国家实验室和麻省理工学院研究人员组成的团队,开发出一种革命性的新方法,利用强大的X射线源捕获
纳米级
材料波动的高
分辨率图像。这种新技术允许创建清晰、详细的影像,而不会因过度辐射损坏样本。研究结果近日发表在《自然》杂志上。
t'e1r&^:r~ 6ge,2[PU 世界的微观领域是不断运动的,并以不断变化为标志。即使在看似不变的固体材料中,这些波动也可能产生不寻常的性质;高温超导体中电流的无损传输就是一个例子。在相变过程中,波动尤其明显,材料会改变其状态,例如在熔化过程中从固体变成液体。然而,详细研究这些过程是一项艰巨的任务,捕捉到这些波动模式的影像就更具挑战性。
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