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    [技术]分辨率的分析 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-10-17
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    如何更好地分辨物体是光学科学界一直存在的问题,因此如何判断光学系统的分辨率是一个重要的问题。根据Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我们在VirtualLab Fusion中演示了阿贝分辨率极限和瑞利判据,并说明了如何使用这两种分析来评估典型成像系统的性能。 BX?Si1c  
    !.!Ervi!N  
    用瑞利准则研究显微镜物镜的分辨率 @jfd.? RK!  
    DLVf7/=3~  
    3>Yec6Hs  
         )%0#XC^/X5  
    根据瑞利判据,我们研究了三种不同数值孔径的显微物镜的分辨率。 e(b*T  
    AO/R 2a(:  
    阿贝理论成像的论证 w%htY.-  
    sXAXHZ{  
    Oo,<zS=ICk  
    >R6Me*VR  
    我们搭建了成像系统,以金属光栅为实验对象,利用VirtualLab Fusion演示了阿贝的成像理论。
     
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