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A)X 'We 在应用分析之中,可分析量测面的照度图(lux),光强度分析图(cd)、混光之颜色及CIE坐标图,及每一条光线的数据。 MvO!p 量测面分析-光照度 "* Qwaq_
S(5aJ[7Zm -XSu;'4q 光强度 @$ea-fK?? :<`hsKy& ke(LjRS 混光-CIE E7*z.3 1Xv- e8M I2b\[d 每一条光线信息 8+b ?/Rn0 9bDxml1 bN#)F
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