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Essential Macleod是一套完整的光学薄膜分析与设计的软件包，它能在任一32位、64位微软窗口环境操作系统下运行（除了Windows RT）， 并且具有真正的多文档操作界面；它能满足光学镀膜设计中的各种要求；既可以从头开始设计，也可以优化已有的设计；可以模拟设计生产中的误差，也可以导出薄膜的光学常数，是当今市场上最完善的薄膜设计及分析软件。 bJ"}-s+Dx n #l~B@ 模块：Core模块+5个附加模块 rNK<p3=7) SHc?C&^S Core模块 Zg*XbX
S.zY0 Macleod核心模块是软件的最低配置，包含设计编辑器，数据、目标编辑器，输入/输出，材料管理，性能计算，优化和综合，和其它软件或硬件的数据交换，导纳轨迹，电场，辅助设计等，是整个软件包的基本构架。 XtZeT~/7RT  q)l1tC72
h S 9^Bi 效能计算 E5$Fhc
/;5/7Bvj Essential Macleod 提供了整组完整的效能计算。除了一般反射和透射计算外，也包括沉积密度、吸收，椭圆参数，超快参数 (群组延迟、群组延迟色散、三阶色散)和多光色散，也可以进行色彩计算。公差的计算是分辨设计对微小厚度变化的灵敏度。 */APe # uv&4
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颜色计算 SIZ&0V
Ez/>3:; 颜色计算包括色度坐标、显色指数、色纯度、主导波长、相对色温。图形包括色度坐标图、色调、用户自定义图。包括CIE 1931 和 1964 配色函数在内的许多标准光源选择是预先定义好的，而用户可以定制你所需要的参数的其它参数。可以根据导入的透射及反射数据计算作为波长函数的颜色参数，也可以作为目标进行优化。 _ea|E 8
!C;$5(k 设计和分析工具 c Cx_tGR"
*`_ 2uBz 包括导纳图，电场分布，等效折射率，吸收分布，应力，光的散射、特性包络、消偏振边带滤波器设计和诱导透过率。 r Q-,mq
:caXQ) 提取工具 Z?<&@YQS
rw$ =!iyO n & k 提取工具提供了由量测测试薄膜的反射、透射频谱数据以决定薄膜或基底n 与k 的方法。 [w*]\x'S
a)8;P7 反演工程 X%98k'h.y
AZE 主要采用Simplex 局部优化方法，根据已镀膜的设计结构和光谱测试数据（至少一种），来确定其真实膜系结构及其与设计的差别。 I &%KOe0
]i/Bq!d l 公差 ,_UTeW6M
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2 Essential Macleod 的公差能力允许你探查设计相对于制造误差的灵敏度，可以比较不同的设计以挑选出最优者。 r h c& #JS
\>tx:;D3 细化与合成 0m,q3
a F{1V \e Essential Macleod提供了6个优化和2个合成工具，膜层可以锁定或关联（膜层关联是更先进的分组形式可以把不连续的膜层关联在一起优化），堆积密度包含在细化工具下的简单下降法里面（可对折射率优化）。优化过程可以加入如选择的膜层的总厚度等不同的限制条件。Optimac和needle Synthesis方法可以优化多层膜，可加入多种材料合成优化。Context允许使用替代材料优化。 #= T^XH jQ
P9o=G=i 图表 z.~jqxA9
<2 e[; $ Essential Macleod包括标准图片、动态图（参数的变化效应可立即看到）、三维图。 M2nWvU$
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` 导入与导出 [7\x(W-:@>
\iA.{,VX 剪贴板支持与其它应用程序的导入与导出数据，还可以导出数据到光学系统软件中如FRED、VirtualLab、Zemax、Code V。 d
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j;e%H 3=("vR`! Runsheet模块 hs*n?vxp3
,FwJ0V 这个工具可设计镀膜制程，包含机器配置编辑器以及跑单生成器。 L%<DLe^P`l wg4Ol*y' 机器配置编辑器 )~CNh5z 6Y
o;u~Yg 机器配置中贮存了特定镀膜机的详细设置，监控系统，入射角，材料，监控芯片，加工因子（包含随光源损耗变化的动态加工因子）。 FY)US> N<O<wtXI j Runsheet cEIs9;
k+zskfo 使用者可使用跑单生成器对既定的机器配置，进行镀膜设计的监控规划。该工具除了可同时具备光学与晶体监控功能外，还具备诸如动态加工因子和系统带宽等高级特性。 K@vU_x0Sl `<6FCn4{X •对反射、背向反射和透射监控计算光学信号 :eH\9$F`x; •当膜层沉积时，动态加工因子（Dynamic Tooling Factors）可以不同 G0 h e 'BR •使用偏移和放大控制可以使信号数据缩小或放大到用户自定义范围 )XDbg> •对每一膜层，监控波长、带宽、监控光谱、晶控或光控都可以用户自定义 m7u" awM^ •在镀膜的任何阶段，监控芯片可以更换 oS~;>] W •多种配套的格式输出 k#-%u,t •提供图片和表格的监测数据可以输出到用户自定义报告格式 G1Vn[[%k NFPWh3),f Simulator模块 (v&iXD5t
~|S}$|Mi50 对于公差问题， Simulator 通过蒙特卡罗（Monte Carlo）法在实际模型控制过程的扩展来进行解决。通过一个由 Runsheet 创建的控制计划， Simulator 可模拟薄膜淀积控制，引入随机和系统效应，例如信号噪声，加工因子的变动，封装密度误差等等，以及显示这些参数对于镀膜制程的最终模拟结果的效应。 p /HGI)' !8Y A1 o Monitorlink模块 89m9iJ=
*6G@8TIh Monitorlink提供将Runsheet连结到一个淀积控制器的额外软件。一个独立的程序与控制器直接连接，而且一个 Runsheet 的扩展也赋予其产出和编辑淀积程序的功能。 A zVv- !Y VStack 模块 "-P z2QJY
J(SGa Hm@ VStack 是一种计算与优化的工具﹐它也能计算这些系统中斜射光的效应。当光束斜入射时，初始为p- 偏振态的光线最终会以p - 偏振态从系统出射。同理，原本是s - 偏振态光也会以p - 偏振态出射，我们称此为偏振泄漏 (polarization leakage) 现象。VStack 能计算泄漏的大小而且提供泄漏元件的 Delta 值。 wlEK"kKU ,'n`]@0?\ Function模块 @p@b6iLpO
@SI,V8i 函数扩展功能无macleod计算中的限制，Function有两个主要工具：第一是简单的宏语言可在软件表格中运行，另一个是强大的Basic脚本语言。 X%T%N;P
)SJ"IY\P 宏语言可以保存和调用。Operation可以使阵列数据作为变量并可进行所有必要的插值。Operations可以创建黑体辐射光源，对于柯西材料模型可提取n和K数据，很容易的计算如平均或峰值特性等庞大计算量。其简单宏指令中的操作 ( 具有内建的编辑器和语法检查器 ) 能允许一再重复相同的计算。 tN QACM8F;
dl(!{t Z# gfKv$~  W =&<d4'(Qk 试用索取QQ：939912426
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