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Essential Macleod是一套完整的光学薄膜分析与设计的软件包,它能在任一32位、64位微软窗口环境操作系统下运行(除了Windows RT), 并且具有真正的多文档操作界面;它能满足光学镀膜设计中的各种要求;既可以从头开始设计,也可以优化已有的设计;可以模拟设计生产中的误差,也可以导出薄膜的光学常数,是当今市场上最完善的薄膜设计及分析软件。 6uDA{[OH {N5g52MN 模块:Core模块+5个附加模块 :'y @usQ*k Core模块 ]+0-$t7Y y NV$IN% Macleod核心模块是软件的最低配置,包含设计编辑器,数据、目标编辑器,输入/输出,材料管理,性能计算,优化和综合,和其它软件或硬件的数据交换,导纳轨迹,电场,辅助设计等,是整个软件包的基本构架。 N(vbo XeDU
, Core模块功能 PkDL\Nqe mk\U wv 效能计算 ;YZw{|gsh &4*&L.hPM^ Essential Macleod 提供了整组完整的效能计算。除了一般反射和透射计算外,也包括沉积密度、吸收,椭圆参数,超快参数 (群组延迟、群组延迟色散、三阶色散)和多光色散,也可以进行色彩计算。公差的计算是分辨设计对微小厚度变化的灵敏度。 $pk3d+0B 5YS`v#+ 颜色计算 QX%m4K/a b]RCe^E1 颜色计算包括色度坐标、显色指数、色纯度、主导波长、相对色温。图形包括色度坐标图、色调、用户自定义图。包括CIE 1931 和 1964 配色函数在内的许多标准光源选择是预先定义好的,而用户可以定制你所需要的参数的其它参数。可以根据导入的透射及反射数据计算作为波长函数的颜色参数,也可以作为目标进行优化。 8e>;E :#TJ-l:# 设计和分析工具 >[|:cz BCUw"R# 包括导纳图,电场分布,等效折射率,吸收分布,应力,光的散射、特性包络、消偏振边带滤波器设计和诱导透过率。
OD\x1,E)I jLr8?Hyf 提取工具 bG^eP:r Xz]}cRQ[ n & k 提取工具提供了由量测测试薄膜的反射、透射频谱数据以决定薄膜或基底n 与k 的方法。 DDAqgx fS#/-wugOB 反演工程 nOQ+oqM< uzp!Y&C 主要采用Simplex 局部优化方法,根据已镀膜的设计结构和光谱测试数据(至少一种),来确定其真实膜系结构及其与设计的差别。 7/Lbs v@>hjie 公差 ! FHNKh ](MXP,R Essential Macleod 的公差能力允许你探查设计相对于制造误差的灵敏度,可以比较不同的设计以挑选出最优者。 5\|[)~b }QJE9;<e 细化与合成 Y2<#%@%4 aF'Ik XG d Essential Macleod提供了6个优化和2个合成工具,膜层可以锁定或关联(膜层关联是更先进的分组形式可以把不连续的膜层关联在一起优化),堆积密度包含在细化工具下的简单下降法里面(可对折射率优化)。优化过程可以加入如选择的膜层的总厚度等不同的限制条件。Optimac和needle Synthesis方法可以优化多层膜,可加入多种材料合成优化。Context允许使用替代材料优化。 J=zZGd% =1yUH9\,b 图表 Gw+z8^|C&} &)s
A( Essential Macleod包括标准图片、动态图(参数的变化效应可立即看到)、三维图。 (3]7[h7 1&jX~' 导入与导出 R63"j\0 G Q8I |E 剪贴板支持与其它应用程序的导入与导出数据,还可以导出数据到光学系统软件中如FRED、VirtualLab、Zemax、Code V。 U7PA% ZLL0 6p Runsheet模块 J|xqfY@+ boN)C?"^h 这个工具可设计镀膜制程,包含机器配置编辑器以及跑单生成器。 ?WAlW,H> vpXS!o>/Sn 机器配置编辑器 42m`7uQ ' J-(v 机器配置中贮存了特定镀膜机的详细设置,监控系统,入射角,材料,监控芯片,加工因子(包含随光源损耗变化的动态加工因子)。 < |