文章来源:H. Pahlevaninezhad , A. M. D. Lee , C. Hyun - Spie Bios – 2013 Proc. of SPIE Vol. 8565 85652S-2 :&5u)
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本文以实验结合光学软件FRED来验证荧光介质上覆盖散射层的影响,结合AF-OCT系统能够减少由于上皮组织增厚引起的假阳性,增强AF疾病检测的功效。 !_Y%+Rkp0
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摘要: @j\;9>I/
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在本文中,我们通过模拟组织的自发荧光(AF)特性进行了模型的研究。我们组合了光学相干断层扫描(OCT)和AF成像系统,依据散射层的厚度和浓度来测量AF信号的强度。使用由生成的OCT图像计算得到的厚度和散射浓度,结合AF-OCT系统能够估计由上皮组织散射引起的AF损耗。我们定义了一个校正因子来计算上皮组织中的散射损耗,并且计算了一个校正散射AF信号。我们认为校正散射AF将会减少在早期呼吸道病变检测中的诊断误检率,误检是由混合因子产生,如增加的皮层厚度和炎症。 lLVD`)
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关键词:光学相干断层扫描;自发荧光;光散射;模型;光线光学;OCT A-line数据 7/&t