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光学测量>显微镜 g}
\$9 K"4m)B~@Y eGcc' LBr; 4UwXrEQp 亮点 7Nx5n< mHCp^g4Q r:pS[f|4\ %]NaHf 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 <ua` WRQr 数秒内快速的高性能分析复杂系统 C1w~z4Qp 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 #._%~}U 研究偏振效应 .Uk ejx p5F=?*[} 说明:光源 ]`@= ;w 角向偏振光 0zJT_H+ 2"0q9 Jg >
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ej7 kpF")0qr 2AYV9egZ 径向偏振光 iYbp^iVg ^eF%4DUC; kH;DAphk d_t> 说明:透镜系统 RbOEXH*] U&F1}P$fb u.\FNa Kjw==5)} 说明:样品结构 j ?c"BF. kHWW\?O Bh`Y?S vR`#kxSdJ@ 说明:探测器 [w*t(A ,)&ansN X283 . ? Bqcih$`BVU 结果:3D光线追迹 3/ ?^d;= 3VI[*b %-nYK3 j\I{pW- 结果:光线追迹 A{Kc"s4fO VtTTvP3 角向偏振光 f6of8BOg W?>C$_p C 6%-RKQi mM[KT}
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