基于单分子定位的超高
分辨率显微
成像技术(例如PALM、STORM、directSTORM等)已达10 nm左右的
光学分辨率。然而,要获得超高分辨率图像,需要较长的采集时间(1-30分钟),而样品漂移(通常1 nm/s)会对此产生影响。目前,加入外源
标准参照物(荧光小球、金属
纳米颗粒等),引入基于额外近红外监测轴向焦平面变化的商用漂移校正
系统,或使用基于互相关方法的图像后处理算法等策略,已被应用于样品漂移校正。但是,外源物的引入及光漂白效应等导致三维尺度漂移校正的精度不佳。
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