摘要
;VeC(^-eh6 >1T=Aw2Z. 通常可以采用
瑞利判据理论表征
显微镜的
分辨率,瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为,当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时,就可以分辨它们。在这个例子中,我们根据瑞利的理论,检验不同数值
孔径(NA)显微
物镜的分辨率。
s[nXr #,Fk 建模任务
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VirtualLab Fusion
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)etl5 从Zemax OpticStudio®导入透镜
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光学系统 [用例]
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y-cRqIM /i"vEI (来源:讯技光电)