摘要
%R1 tJ( / u?>B)PW Rfn9s(m 干涉测量是一种
光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,
机械和高
精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非
序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干
激光源的马赫-曾德尔
干涉仪,本案例清楚地展示了
光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。
>tTj[cMJl ^?$WVB 建模任务
P-`M ur*T%b9& rI^zB mrr 元件倾斜引起的干涉条纹
A3vUPWdDk Jm|+-F@I
)=\#UE+W 元件移位引起的干涉条纹
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