现代光学薄膜技术 本书目录 IPY[ x|
第一篇 光学多层膜设计 PB{5C*Y7^k
第1章 光学薄膜特性的理论计算 T(kG"dz
1.1 单色平面电磁波 Ojp|/yd^YL
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 1Zp^X:(
1.3 光学薄膜特性的理论计算 Ao *{#z
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 U RyY^+s
习题 * ^\u%Ir"
第2章 光学薄膜的设计理论 }O gZZ8-_M
2.1 矢量作图法 B@vup {Kg
2.2 有效界面法 +ldgT"
2.3 对称膜系的等效层 X u{S4#1
2.4 导纳图解技术 4Rl~7|
习题 4?x$O{D5?{
第3章 光学薄膜系统的设计 ** n109R
3.1 减反射膜 rAu@`H?
3.2 分束镜 Hn?v /3
3.3 高反射膜 niCq `!
3.4 干涉截止滤光片 4}^\&K&t{
3.5 带通滤光片 wH qbTA
3.6 特殊膜系 t lmfDQD
习题 04#r'UIF
参考文献 e]l.m!, r
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 1ZfhDtK(
第4章 薄膜制备技术 Snas:#B!
4.1 真空淀积工艺 Y &*nj`n
4.2 光学薄膜材料 5'"9)#Ve
4.3 薄膜厚度监控艺术 eJZt&|7N
4.4 膜层厚度的均匀性 ZOHGGO]1M
习题 #xxs^Kbqa#
参考文献 J|o )c~
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 }{) >aJ
5.1 薄膜的形成过程 K1fnHpK
5.2 薄膜的微观结构 ;c>IM]
5.3 薄膜的成分 &28%~&L
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 nnnq6Z}
5.5 薄膜微观结构和改善 q6N6QI8/
习题 E`UEl$ ($
参考文献 E#+|.0*!s
第三篇 光学薄膜检测技术 gA DF
第6章 薄膜透射率和反射率测量 5!d'RBO
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 q*K.e5"'
6.2 薄膜反射率的测试 :+}Eo9
6.3 薄膜反射率的测量 Ha20g/ UN.
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 ^ y &sKO
6.5 总结 Ceak8#|4
习题 =xsTVT;sj
参考文献 1 mz72K
第7章 薄膜的吸收和散射测量 mA' ]*)L1
7.1 激光量热计基本原理 vBjrI*0
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 U>kL|X3 V
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 .t|B6n!
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 6"Rw&3D?
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 NYp46;
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 JG!@(lr
7.7 总结 i6D 66 E
习题 -85W/%
参考文献 T0P_&E@X
第8章 薄膜光学常数的测量 p v*n.U6
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 H~r":A'"*
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 "iTi+UZxe
8.3 薄膜波导法 JQ]A"xTIa*
8.4 光学薄膜厚度的测试
:Z5Twb3h
8.5 总结 <;nhb
习题 yMbg1+:
参考文献 XhG3Of-6
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 $[DSe~
9.1 薄膜的力学特性检测技术 )wueR5P
9.2 薄膜器件的环境试验 T:(c/ >
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 eww/tG a
9.4 总结 _m n2bc9M
习题 Z`Sbq{Kx
参考文献 X[KHI1@w
附录 w [7vxQ!-
附录A 复数与复数运算 &i?>mt
A.1 复数的概念 r5S5;jL%t
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 C( kIj
A.3 复数在物理中的运用 & a
bR}J[
附录B 矩陈及矩陈运算 8 [ xl3=
B.1 矩陈的定义 1A.e cv'
B.2 矩陈运算 x l4 A<
附录C 光的电磁理论基础 TQ g~I/
C.1 振动与波 TdWatvY5p
C.2 电磁波 Y ]6kA5
C.3 麦克斯韦方程 @j|=M 7B
C.4 平面电磁波 'WQ ?%da
C.5 平面电磁波性质 9S]]KE Gn4
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 p?XVO#
附录D 光的干涉 o6T'U#7P
D.1 波的叠加原理 3r-oZ8/n
D.2 杨氏干涉 UY$Lqe~
D.3 平板的表面干涉 x|lX1Mh$
D.4 光的空间相干性和时间相干性 ,37\8y?o\
附录E 光的偏振 's_[ #a;Vp
E.1 自然光和偏振光 38l 8n.
E.2 偏振光与Jones矩陈 ;2jH;$HZ
E.3 偏振光的获得 Gj H$!P=.
E.4 偏振光的检验
