现代光学薄膜技术 本书目录 5~[m]
第一篇 光学多层膜设计 sR4B/1'E
第1章 光学薄膜特性的理论计算 oMNSQMlI
1.1 单色平面电磁波 8CUlE-R5
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 g.*DlD%%
1.3 光学薄膜特性的理论计算 Nl'@Y^8N
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 we/sv9v} n
习题 i*((@:
第2章 光学薄膜的设计理论 4q"4 N2
2.1 矢量作图法 ;Rljx3!N
2.2 有效界面法 I<rT \':9
2.3 对称膜系的等效层 0T7t.
2.4 导纳图解技术 0Lf4 ^9N
习题 G1fC'6$3
第3章 光学薄膜系统的设计 =<%[P9y
3.1 减反射膜 aH?+^f"D
3.2 分束镜 + ag_ w}
3.3 高反射膜 rS!M0Hq>t
3.4 干涉截止滤光片 bO` S Bq$
3.5 带通滤光片 KL yI*`
3.6 特殊膜系 zP&D
习题 bd\%K`JQ{
参考文献 FP'- =zgc
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性
v!W{j& N
第4章 薄膜制备技术 `W:z#uNG]
4.1 真空淀积工艺 8'"=y}]H~
4.2 光学薄膜材料 <L+1
&H
4.3 薄膜厚度监控艺术 y_' 6 bpb
4.4 膜层厚度的均匀性 61w
({F
习题 %:v<&^oDlm
参考文献 unih"};ou
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 M-Ek(K3SRf
5.1 薄膜的形成过程 ?t5<S]'r$
5.2 薄膜的微观结构 KM+[1Ze$
5.3 薄膜的成分 Pt hgxB^
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 }xry
5.5 薄膜微观结构和改善 /9=r.Vxh
习题 \zc R7 5
参考文献 *M)M!jTv
第三篇 光学薄膜检测技术 =I aWf
第6章 薄膜透射率和反射率测量 la}cGZ; p.
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 "x vizvR
6.2 薄膜反射率的测试 UwxszEHC
6.3 薄膜反射率的测量 w n;)La
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 (:I]v_qEYS
6.5 总结 !S%0#d2
习题 {a_ _/I>)
参考文献 <F8 e?xy
第7章 薄膜的吸收和散射测量 PXyv);#Q`
7.1 激光量热计基本原理 fwvwmZW
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 n.rn+nuwv
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 OD9z7*E@
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 'J$@~P
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 v[2&0&!K#
7.6 薄膜导波传播衰减系数法
`8 S3Y
7.7 总结 ZS%W/.?
习题 @mJ~?d95v
参考文献 y M `u]p1
第8章 薄膜光学常数的测量 d@ >i=l [
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 )t KS ooW
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ` yP`5a/
8.3 薄膜波导法 e_|Z&
8.4 光学薄膜厚度的测试 'zb vg0 T
8.5 总结 |;7mDhj=
习题 lWe cxD$
参考文献 peF)U
!`D
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 |lcp
(u*u
9.1 薄膜的力学特性检测技术 JEk'2Htx
9.2 薄膜器件的环境试验 -r_,#LR!l
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 `KN>0R2k
9.4 总结
3%bhW9H%
习题 #%2 d;V
参考文献 C[}UQod0
附录 `IEA
附录A 复数与复数运算 B;?)X&n|X
A.1 复数的概念 }W'4(V;:
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 Xl<iR]lda
A.3 复数在物理中的运用 7f}uRXBV$A
附录B 矩陈及矩陈运算 x+j@YWDpG"
B.1 矩陈的定义 x1? mE)n]
B.2 矩陈运算 w|6/ i/X
附录C 光的电磁理论基础 hPUAm6 b;
C.1 振动与波 ,:e~aG,B
C.2 电磁波 swxX3GR
C.3 麦克斯韦方程 ;Y[D#Ja-
C.4 平面电磁波 m$_b\^we
C.5 平面电磁波性质 )
$_1 U!z
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 MqB@}!
附录D 光的干涉 W;yc)JB
D.1 波的叠加原理 +8C }%6aX
D.2 杨氏干涉 t^KQ*8clG
D.3 平板的表面干涉 s~].iQJ{B
D.4 光的空间相干性和时间相干性 3i7EF.
附录E 光的偏振 F Gx)?
E.1 自然光和偏振光 Z3weFbCH
E.2 偏振光与Jones矩陈 $3 P De
E.3 偏振光的获得 W-l +%T!
E.4 偏振光的检验
