现代光学薄膜技术 本书目录
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第一篇 光学多层膜设计 Q3W#`6jpF
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ;|%dY{L-
1.1 单色平面电磁波 YE u 1#N
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ewNz%_2
1.3 光学薄膜特性的理论计算 T<yP* b2E
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 z Z -wG
习题 eg+!*>GaX
第2章 光学薄膜的设计理论 F X < b:#
2.1 矢量作图法 IHfzZHy
2.2 有效界面法 #h!*dj"
2.3 对称膜系的等效层 oz'\q0
2.4 导纳图解技术 1iT\df
习题 6Z?j AXGSq
第3章 光学薄膜系统的设计 |xr%6 [Ff
3.1 减反射膜 _;A $C(
3.2 分束镜 q}uHFp/J
3.3 高反射膜 +Z2MIC|Ud
3.4 干涉截止滤光片 h~U02"$
3.5 带通滤光片 Sgb*tE) T
3.6 特殊膜系 ulHn#)
习题 3 Rg}+[b
参考文献 E{xVc;t
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 jkAAqR R
第4章 薄膜制备技术 ~wnOV#v
4.1 真空淀积工艺 :R6bq!
4.2 光学薄膜材料 bok.j
4.3 薄膜厚度监控艺术 y< R=
4.4 膜层厚度的均匀性 "o!{5 1!'
习题 xieP " 6
参考文献 %ugHhS!
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 =6FUNvP#8
5.1 薄膜的形成过程 ^da44Qqu
5.2 薄膜的微观结构 X C86-b)E
5.3 薄膜的成分 rn@`y Tw^
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 4Ph0:^i_
5.5 薄膜微观结构和改善
r#PMy$7L
习题 87!C@XlK_
参考文献 P47V:E%
第三篇 光学薄膜检测技术 9DQ)cy
第6章 薄膜透射率和反射率测量 2 gq$C "
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 14eW4~Mr
6.2 薄膜反射率的测试 |s7`F%
6.3 薄膜反射率的测量 pnyWcrBf
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 ;?fS(Vz~
6.5 总结 <mA'X V,
习题 =-cwXo{Q.O
参考文献 vg Ipj3u
第7章 薄膜的吸收和散射测量 *YTo{~
7.1 激光量热计基本原理 U=Y)V%
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 HysS_/t~
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 }TRAw#h
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 i=a-<A5x
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 wCs^J48=
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 k;PAh>8
7.7 总结 %m,6}yt
习题 c'6g*%2k
参考文献 in <(g@Zg
第8章 薄膜光学常数的测量 nL@KX>
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 0l*]L`]L#
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ' # NcZy
8.3 薄膜波导法 p;)"
8.4 光学薄膜厚度的测试 2I3h
M D0
8.5 总结 _!;Me
)C
习题 75nNh~?)\
参考文献 A61^[Y,dX_
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 (Y BMsh
9.1 薄膜的力学特性检测技术 *,C(\!b
!?
9.2 薄膜器件的环境试验 q>f<u&
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 rt3qdk5U
9.4 总结 >4Y3]6N0.F
习题 o56`
参考文献 )M=ioE8`h
附录 M wb/jTp
附录A 复数与复数运算 j.~!dh$mg
A.1 复数的概念 lPH%Do>K
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 lN,/3\B
A.3 复数在物理中的运用 rrg96WD
附录B 矩陈及矩陈运算 xX3'bsN
B.1 矩陈的定义 I{JU-J k|
B.2 矩陈运算 M)*\a/6?{
附录C 光的电磁理论基础 HS'Vi9
C.1 振动与波 s,bERN7'yO
C.2 电磁波 `k(yZtb
C.3 麦克斯韦方程 - ?]W*f
C.4 平面电磁波 64Lx -avf
C.5 平面电磁波性质 AE: Z+rM*
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 ^@P1
JNe
附录D 光的干涉 f)]%.>
D.1 波的叠加原理 ob+euCuJ
D.2 杨氏干涉 T5urZq*R
D.3 平板的表面干涉 |+ N5z
D.4 光的空间相干性和时间相干性 Sxjub& =
附录E 光的偏振 q'pK,uNW
E.1 自然光和偏振光 (R`B'OtGg
E.2 偏振光与Jones矩陈 Y`+=p@2O2o
E.3 偏振光的获得 L
lqM c
E.4 偏振光的检验
