现代光学薄膜技术 本书目录 Z_{` $nW
第一篇 光学多层膜设计 iL f:an*vH
第1章 光学薄膜特性的理论计算 cwi HHf>
1.1 单色平面电磁波 ]O2ku^yM
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ' )%Kv`hz
1.3 光学薄膜特性的理论计算 sU"D%G
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 qa
'YZE`
习题 ^b=] =w
第2章 光学薄膜的设计理论 e _\] Q-
2.1 矢量作图法 cbvK;;
2.2 有效界面法 *gRg--PY%
2.3 对称膜系的等效层 {B$cd?}
2.4 导纳图解技术 Ftb qZN[
习题 MJ^NRT0?b
第3章 光学薄膜系统的设计 OM5"&ZIZb
3.1 减反射膜 <1#v}epD#
3.2 分束镜 vaQ Z1a,
3.3 高反射膜 p] kpDx[9
3.4 干涉截止滤光片 yIC.Jm D*
3.5 带通滤光片 g;)xf?A9q
3.6 特殊膜系 X51pRP $R
习题 DArEIt6Q
参考文献 LQ4GQ qS*
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 gzq x{ ]
第4章 薄膜制备技术 "-JJ6Bk
4.1 真空淀积工艺 SpbOv Y=>
4.2 光学薄膜材料 rq'Cj<=Zj
4.3 薄膜厚度监控艺术 =&?}qa(P
4.4 膜层厚度的均匀性 ?CGbnXZ4Ug
习题 &$uQ$]&H
参考文献 "'p;Udt/Qm
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 !f\,xa|M
5.1 薄膜的形成过程 De`) `\U
5.2 薄膜的微观结构 $(v1q[ig
5.3 薄膜的成分 vH_QSx;C#
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 F-Mf~+= Dn
5.5 薄膜微观结构和改善 J^[>F{8!n
习题 w^tNYN,i
参考文献 % !$ua_8
第三篇 光学薄膜检测技术 j3|Ek
第6章 薄膜透射率和反射率测量 NYtp&[s2-
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 w J
FEua
6.2 薄膜反射率的测试 e$>.x<
Eq
6.3 薄膜反射率的测量 $h1`-=\7
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 "3CQ0
6.5 总结 j|3p.Cy
习题 2= FGZa*.
参考文献 F y^*@&
第7章 薄膜的吸收和散射测量 & UH .e
7.1 激光量热计基本原理 TR 3_!0
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 nxH=Ut7{
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 P!yE{_%
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 BeZr5I"`}
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 4Z >KrFO
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 GkqKIs
7.7 总结 eqD|3YX
习题 +O
P8U]~
参考文献 bmN'{09@
第8章 薄膜光学常数的测量 FbB^$ ]*
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 Ft)7Wx"
S
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 V'(yrz!
8.3 薄膜波导法 9^ITP!~e*
8.4 光学薄膜厚度的测试 #DjSS.iW
8.5 总结 E0QrByr_
习题 M3-
bFIt
参考文献 kGm-jh
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 |uT|(:i84,
9.1 薄膜的力学特性检测技术 ?,8|K B
9.2 薄膜器件的环境试验 \IB@*_G
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 M6J~%qF^
9.4 总结 fWo}gH~
习题 _7df(+.{<A
参考文献 V<&x+?>S
附录 j G8W|\8
附录A 复数与复数运算 67Z@ Hg
A.1 复数的概念 C+ \c(M a
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 aH7i$U&
A.3 复数在物理中的运用 NN(ZH73
附录B 矩陈及矩陈运算 rH@ {[~p
B.1 矩陈的定义 '%U'%' )
B.2 矩陈运算 =[]V$<G'w{
附录C 光的电磁理论基础 h RK &
C.1 振动与波 iZsZSW \
C.2 电磁波 N|t!G^rP
C.3 麦克斯韦方程 Mf 'T\^-!
C.4 平面电磁波 (I(?oCQ
C.5 平面电磁波性质
S0 -f_,(
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 2% ],0,o
附录D 光的干涉 1%Yd ] 1c(
D.1 波的叠加原理 / = ]h@m-`
D.2 杨氏干涉 Y#aL]LxZE
D.3 平板的表面干涉 QH z3
D.4 光的空间相干性和时间相干性 `6bIxb{
附录E 光的偏振 rw:z|-r
E.1 自然光和偏振光 \g z(C`4{j
E.2 偏振光与Jones矩陈 V { #8+
E.3 偏振光的获得 \#)|6w-
E.4 偏振光的检验
