现代光学薄膜技术 本书目录 L4ZB0PmN'
第一篇 光学多层膜设计 #|T2`uYotf
第1章 光学薄膜特性的理论计算 yY]E~
1.1 单色平面电磁波 ff]fN:}V
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 -e>Z!0
1.3 光学薄膜特性的理论计算 lh6N3d
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 P&yB(M-z
习题 G E? \Vm
第2章 光学薄膜的设计理论 #N;&^El
2.1 矢量作图法 LQR^lD+_=
2.2 有效界面法 z6P~HF+&h
2.3 对称膜系的等效层 h"[:$~/UJ
2.4 导纳图解技术 7EVB|gTp
习题 +|TXKhm{
第3章 光学薄膜系统的设计 ;/H/Gn+
3.1 减反射膜 >hzSd@J&
3.2 分束镜 Y[W :Zhl;
3.3 高反射膜 k9;t3-P
3.4 干涉截止滤光片 clk]JA (
3.5 带通滤光片 )i_:[ l6
3.6 特殊膜系 8A}<-?>
习题 2%*\XPt)
参考文献 8m?cvI
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 B*9?mcP\
第4章 薄膜制备技术 ?<S fhjU
4.1 真空淀积工艺 .Hk.'>YR
4.2 光学薄膜材料 $<"I*l@
4.3 薄膜厚度监控艺术 :,
3S5!(y
4.4 膜层厚度的均匀性 Z:^ S-h
习题 ~SmFDg$/m
参考文献 s< Fp17
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 CSz+cS
5.1 薄膜的形成过程 dkqyn"^
5.2 薄膜的微观结构 4P"XT
5.3 薄膜的成分 V(g5Gn?
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 c|Z6p{)V
5.5 薄膜微观结构和改善 7#SfuZ0@
习题
d ^zuo
参考文献 abCxB^5VL
第三篇 光学薄膜检测技术 H7k@Br
第6章 薄膜透射率和反射率测量 sk*vmxClY
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 3sW!ya-VZ
6.2 薄膜反射率的测试 J#q^CWN3R
6.3 薄膜反射率的测量 |>1#)cONW
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 !}5rd\
6.5 总结 _xy[\X;9
习题 -8R SE4)
参考文献 \cf'Hj}
第7章 薄膜的吸收和散射测量 @%YbptT}
7.1 激光量热计基本原理 OJh MM-
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 9p1@Lfbj
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 '&2-{Y [!
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 `m#i|8
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 %;|dEY
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 %$'fq*8b
7.7 总结 REh\WgV!u
习题 SBdd_Fn
参考文献 f0R+Mz8{
第8章 薄膜光学常数的测量 `C$QR
8
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 EWY'E;0@5
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 jc\y{ I\
8.3 薄膜波导法 Rg+#(y
8.4 光学薄膜厚度的测试 1Dhu5ht
8.5 总结 }%<_>b\
习题 JT~Dr KI_
参考文献 WF_QhKW|k
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 Ix<!0!
vk
9.1 薄膜的力学特性检测技术 Z[B:6\oQ
9.2 薄膜器件的环境试验 rq Uk_|Xa
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 2E`mbT,v&
9.4 总结 7%[ YX
习题 /k(wb4Hv
参考文献 * dk(<g=fM
附录 U0iV
E+)Bt
附录A 复数与复数运算 fVVD}GM=
A.1 复数的概念 kbJ4CF}H
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 ~B?Wg!
A.3 复数在物理中的运用 )heHERbJ
附录B 矩陈及矩陈运算 qJ<l$Ig
B.1 矩陈的定义 n)z:C{
B.2 矩陈运算 b'z\|jY
附录C 光的电磁理论基础 SLUQFoz}
C.1 振动与波 /Ahh6=qQY
C.2 电磁波 p )]x,F
C.3 麦克斯韦方程 Hl'AnxE
C.4 平面电磁波 rvK%m_r
C.5 平面电磁波性质 xI/8[JW*
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 ?;.=o?e9
附录D 光的干涉 M4CC&?6\
D.1 波的叠加原理 (ss,x CF
D.2 杨氏干涉 L6;'V5Mg72
D.3 平板的表面干涉 "dE[X`
}=
D.4 光的空间相干性和时间相干性 WK@<#
附录E 光的偏振 pYu6[
E.1 自然光和偏振光 q_mxZM
->
E.2 偏振光与Jones矩陈 0&b;!N!vJ
E.3 偏振光的获得 KmM:V2@A$
E.4 偏振光的检验