现代光学薄膜技术 本书目录 7hcYD!DS
第一篇 光学多层膜设计 ` wEb<H
第1章 光学薄膜特性的理论计算 DU'`ewLL7
1.1 单色平面电磁波 lIS-4QX1
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 :J@ gmY:C
1.3 光学薄膜特性的理论计算 1 N-\j0au
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 nPl?K:(
习题 ^A/k)x6
第2章 光学薄膜的设计理论 {$
JYw{a
2.1 矢量作图法 5r|,CQ7o
2.2 有效界面法 B%b4v
2.3 对称膜系的等效层
Cctu|^V
2.4 导纳图解技术 s Y Qk
习题 YnAm{YyI
第3章 光学薄膜系统的设计 J/aC}}5D
3.1 减反射膜 8qTys 8
3.2 分束镜 BC.87Fji/
3.3 高反射膜 \ :sUL!
3.4 干涉截止滤光片 *Kg ks 4
3.5 带通滤光片 t\,PB{P:J
3.6 特殊膜系 =s2*H8]
习题 *)T^Ch D,
参考文献 Vn }0} Jz
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 u|TeE\0
第4章 薄膜制备技术 0&|\N
? 8_
4.1 真空淀积工艺 6SkaH<-&K
4.2 光学薄膜材料
xF'EiX ~
4.3 薄膜厚度监控艺术 06Sc eq
4.4 膜层厚度的均匀性 ?M9=yA
习题 )23H 1
参考文献 )~ J Hgl
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 )'#A$ Fj
5.1 薄膜的形成过程 7' V@+5
5.2 薄膜的微观结构 g7`LEF < A
5.3 薄膜的成分 3$>1FoSk
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 m@v \(rT.
5.5 薄膜微观结构和改善 X *"i6 *
习题 xy[3u?,&s!
参考文献 xj;H&swo
第三篇 光学薄膜检测技术 dOH &
第6章 薄膜透射率和反射率测量 m n X2a
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 @,7GaK\
6.2 薄膜反射率的测试 #a,PZDaE
6.3 薄膜反射率的测量 051 E6 -
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 YfKdR"i+.
6.5 总结 04P}-L,
习题 C XMLt
参考文献 8^1 Te m
第7章 薄膜的吸收和散射测量 0-Ku7<a
7.1 激光量热计基本原理 _|I#{jK
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 Flm%T-Dl
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 @:vwb\azVD
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 |3"KK
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 ,<P
vovg_
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 %XQ(fj>
7.7 总结 z,p~z*4
习题 G<J?"oQbRT
参考文献 `mJ6K&t$<
第8章 薄膜光学常数的测量 H40p 86@M
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 V6X 0^g
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 .?sx&2R2
8.3 薄膜波导法 mNTzUoZF'@
8.4 光学薄膜厚度的测试 qqY"*uJ'
8.5 总结 Wt-GjxGi
习题 ^k">A:E2
参考文献 3bH'H*2
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 Y\8)OBZ
9.1 薄膜的力学特性检测技术 n 0L^e
9.2 薄膜器件的环境试验 \X D6 pr@
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 E*K;H8}s
9.4 总结 %l[( Iw
习题 &n:.k}/ P
参考文献 Qe :seW
附录 Y. rsR 6
附录A 复数与复数运算 GGs}i1m
A.1 复数的概念 p} ~JgEE
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 h3
}OX{k
A.3 复数在物理中的运用 I,vJbvvl!
附录B 矩陈及矩陈运算 4!no~ $b
B.1 矩陈的定义 Iit; F
B.2 矩陈运算 f 6>b |k~
附录C 光的电磁理论基础 B[?Ng}<g`
C.1 振动与波 )Y{L&A
C.2 电磁波 o]oum,Q
C.3 麦克斯韦方程 Dp-z[]} )1
C.4 平面电磁波 S;#'M![8
C.5 平面电磁波性质 v`Oc ,
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 KB(8f *
附录D 光的干涉 y}ev ,j
D.1 波的叠加原理 g*C7
'
D.2 杨氏干涉 m~0/&RA
D.3 平板的表面干涉 \"OG6G_>$
D.4 光的空间相干性和时间相干性 n9ej7oj
附录E 光的偏振 | t#)~Oo
E.1 自然光和偏振光 (gWm,fI
RZ
E.2 偏振光与Jones矩陈 VTY 5]|;
E.3 偏振光的获得 R8Fv{7]c
E.4 偏振光的检验
