现代光学薄膜技术 本书目录 Xwk_QFv3
第一篇 光学多层膜设计 ,V # r
第1章 光学薄膜特性的理论计算 690;\O '
1.1 单色平面电磁波 "5$2b>_UE
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 N/eFwv.Er
1.3 光学薄膜特性的理论计算 e4Jx%v?_P
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 #w]@yL]|is
习题 FK`M+ j
第2章 光学薄膜的设计理论 ?8@EBPpC
2.1 矢量作图法 *d,Z ?S/
2.2 有效界面法 PR yzUG&
2.3 对称膜系的等效层 a3E.rr ;b
2.4 导纳图解技术 vI+X9C?
习题 U: O&FE
第3章 光学薄膜系统的设计 2)+ddel<Z
3.1 减反射膜 &s_)|K
3.2 分束镜 kZH IzU
3.3 高反射膜 !1Z rS
3.4 干涉截止滤光片 g7<u eF
3.5 带通滤光片 C;oT0(
3.6 特殊膜系 g , "" j`
习题 DeR C_ [
参考文献 dp#'~[ j
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 ev%}\^Vl[
第4章 薄膜制备技术 y,vrMWDy
4.1 真空淀积工艺 .
I#dR*
4.2 光学薄膜材料 PitDk
1T
4.3 薄膜厚度监控艺术 h YU4%"X
4.4 膜层厚度的均匀性 R{SN.% {;
习题 RI-)Qx&!f
参考文献 2sNV09id
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 "*0h=x$
5.1 薄膜的形成过程 uUI@!)@2
5.2 薄膜的微观结构 W)m\q}]FYz
5.3 薄膜的成分 Qwu~ {tf+'
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 `{W>Dy
5.5 薄膜微观结构和改善 b f-V Q7
习题 56^#x
参考文献 ?cD2EX%(
第三篇 光学薄膜检测技术 cuo'V*nWQ
第6章 薄膜透射率和反射率测量 Jx4"~ 4
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 kESnlmy@J
6.2 薄膜反射率的测试 L&h90Az1W
6.3 薄膜反射率的测量 4Q
n5Mr@<
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 I\:(`)"r
6.5 总结 Vo:Gp
习题 yOXL19d@p_
参考文献 eJ tfQ@?
第7章 薄膜的吸收和散射测量 s2Hx ?~
7.1 激光量热计基本原理 g|PRk9
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 S
0L"5B@
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 8S*W+l19f
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 [ _we nlkm
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 J}3 7 9
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 JN:EcVuy
7.7 总结 h!h<!xaclW
习题 ;V h5nO
参考文献 -iJ @K
第8章 薄膜光学常数的测量 PcK;L(
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 76r RF
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 Z/w "zCd
8.3 薄膜波导法 Ed=]RR 4R
8.4 光学薄膜厚度的测试 S, %BhQ[
8.5 总结 L>Soj|WUy(
习题 ;^Hg\a
参考文献 -P'KpX:]hd
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 F F7
9.1 薄膜的力学特性检测技术 Dhy@!EOS
9.2 薄膜器件的环境试验 {Wp5Ane
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 t;e+WZkV
9.4 总结 `oUuAL
习题 H| i39XV
参考文献 q=(.N>%
附录 :*MqYny&
附录A 复数与复数运算 B>"O~ gZ{#
A.1 复数的概念 7 G <v<&
A.2 复数的三角函数及指数表示方法
re;^,
A.3 复数在物理中的运用 I? o)X!
附录B 矩陈及矩陈运算 3 A>Bnb
B.1 矩陈的定义 2 N$yn
B.2 矩陈运算 g<&n V>wF
附录C 光的电磁理论基础 s#*T( pY
C.1 振动与波 E |BE(F;K
C.2 电磁波 6~_ TXy/
C.3 麦克斯韦方程 tjIT4
C.4 平面电磁波 b ?-VZA:
C.5 平面电磁波性质 ~x SAR;8
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 \uT y\KA
附录D 光的干涉 ?rG>SA>o
D.1 波的叠加原理 S_ Pa .
D.2 杨氏干涉 L 2k?Pl
D.3 平板的表面干涉 ,J63 ?EQ3
D.4 光的空间相干性和时间相干性 gZLzE *NZ
附录E 光的偏振 @CJ`T&
E.1 自然光和偏振光 ]&mN~$+C
E.2 偏振光与Jones矩陈 1>"[b8a/
E.3 偏振光的获得 tUPdq 0%t[
E.4 偏振光的检验
