现代光学薄膜技术 本书目录 75\ZD-{T:
第一篇 光学多层膜设计 Z
`F[0-
第1章 光学薄膜特性的理论计算 h2Q'5G
1.1 单色平面电磁波 A"*=K;u/|m
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 FG${w.e<
1.3 光学薄膜特性的理论计算 YdD; Qx #O
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 ?0~g1"Y-*K
习题 bidFBldKl
第2章 光学薄膜的设计理论 a
4?A 5
2.1 矢量作图法 )WvKRp r
2.2 有效界面法 W* LC3B^
2.3 对称膜系的等效层 | lhnCShw
2.4 导纳图解技术 o@A`AA9
习题
%lj5Olj
第3章 光学薄膜系统的设计 xh;gAh5n
3.1 减反射膜 CVO_ F=;
3.2 分束镜 8L[+$g`
3.3 高反射膜 -'c
qepC{T
3.4 干涉截止滤光片 ;Am3 eJa*-
3.5 带通滤光片 rl.K{Uad
3.6 特殊膜系 fTEZ@ #p
习题 8*-)[+s9il
参考文献
bZ`#;D<
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 r(^00hvH
第4章 薄膜制备技术 DVd8Ix <
4.1 真空淀积工艺 n1\$|[^6
4.2 光学薄膜材料 "'5(UiSFz
4.3 薄膜厚度监控艺术 8i;1JA
4.4 膜层厚度的均匀性 IYn`&jS{
习题 q%,86A>
参考文献 .$~3 RjM
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 qX }3}TL
5.1 薄膜的形成过程 mX|M]^_,z
5.2 薄膜的微观结构 ]O;*Y{:Y
5.3 薄膜的成分 :[@rA;L
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 "nr?WcA
5.5 薄膜微观结构和改善 EI=~*&t
习题 @*rMMy 4
参考文献 <^nS% hXEr
第三篇 光学薄膜检测技术 sd4eG
第6章 薄膜透射率和反射率测量 \( LD<-a
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 |}{gE=]
6.2 薄膜反射率的测试 Sk
EI51]
6.3 薄膜反射率的测量 =?|$}vDO[
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 cPcH
8Vd
6.5 总结 emQc %wd{
习题 v
RD/67
参考文献 1*A^v
第7章 薄膜的吸收和散射测量 7mS Nz.
7.1 激光量热计基本原理 q=^;lWs4
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 r?)1)?JnHe
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 MO0t
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 iq3)}hGo
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 5H Cw%n9
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 DD/ B\
7.7 总结 $mK;{9Z
习题 Uic
参考文献 7a>+ ma\
第8章 薄膜光学常数的测量 hXFT (J =
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 S\ak(<X
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 a6zWg7 PN
8.3 薄膜波导法 In4VS:dD
8.4 光学薄膜厚度的测试 kmW/{I9,ua
8.5 总结 @@ @}FV&
习题 pIR_2Eq
参考文献 st? ?CX2
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 v,opyTwG|
9.1 薄膜的力学特性检测技术 S.[L?uE~F
9.2 薄膜器件的环境试验 mfj%-)l9
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 XR V~yBIS
9.4 总结 KH P/Y {mH
习题 Y*b$^C%2
参考文献 uj)vh
附录 }!xc@
附录A 复数与复数运算 ?6"U('y>n
A.1 复数的概念 V.8Vy1 $
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 \Dl MOG
A.3 复数在物理中的运用 BNk >D|D;
附录B 矩陈及矩陈运算 j0"4X
B.1 矩陈的定义 ^PC;fn,I
B.2 矩陈运算 x
[v b i
附录C 光的电磁理论基础 kXdXyq
C.1 振动与波 7*K 2zu3
C.2 电磁波 ,2 xD>+=
C.3 麦克斯韦方程 I] +OYWp
C.4 平面电磁波 EPwU{*F
C.5 平面电磁波性质 zk1]?
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 y%9Hu
附录D 光的干涉 +P +h$gQ
D.1 波的叠加原理 -p0* R<t
D.2 杨氏干涉 1Z?uT[kR
D.3 平板的表面干涉 ;Tk/}Od!VN
D.4 光的空间相干性和时间相干性 f/z]kfgw
附录E 光的偏振 B*)mHSs 2
E.1 自然光和偏振光 Rt,po
E.2 偏振光与Jones矩陈 N`d%4)|{
E.3 偏振光的获得 &hZ.K"@7{
E.4 偏振光的检验
