现代光学薄膜技术 本书目录 3lUVD NbZ
第一篇 光学多层膜设计 >q}3#TvP@
第1章 光学薄膜特性的理论计算 jD
S?p)&
1.1 单色平面电磁波 o|xf2k
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 k[Em~> m
1.3 光学薄膜特性的理论计算 uyj!$}4
1.4 光学多层膜内的电场强度分布
NFT:$>83`
习题 oC&}lp)q
第2章 光学薄膜的设计理论 JYdb^j2c
2.1 矢量作图法 _J,**AZ~z
2.2 有效界面法
|~9rak,
2.3 对称膜系的等效层 vXJs.)D7
2.4 导纳图解技术 Jf^3nBZ
习题 @2Z|\ojJ
第3章 光学薄膜系统的设计 wT@Z|.)
3.1 减反射膜 x;mw?B[
3.2 分束镜 yFE0a"0y
3.3 高反射膜 $(1t~u<17
3.4 干涉截止滤光片 a*M|_&MH*
3.5 带通滤光片 ZU\$x <,
3.6 特殊膜系 Kw fd
S(
习题 !r/i<~'Bx
参考文献 i\xs!QU
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 #$WnMJ@
第4章 薄膜制备技术 re/-Yu$'
4.1 真空淀积工艺 &8VH m?h
4.2 光学薄膜材料 %JeND XbI4
4.3 薄膜厚度监控艺术 6#=Iv X4
4.4 膜层厚度的均匀性 Q& [!+s:2J
习题 >N^< Q4%2
参考文献 IOHWb& N6
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 z %}"=
5.1 薄膜的形成过程 7gX32r$%V
5.2 薄膜的微观结构 M6-uTmN:d
5.3 薄膜的成分 ]}`t~#Irz
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 D0J{pAJ
5.5 薄膜微观结构和改善 B)q }]Qn
习题 9SC1A -nF
参考文献 ru aZ(R[
第三篇 光学薄膜检测技术 ,2AulX 1
第6章 薄膜透射率和反射率测量 f1NHW|_j
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 |gk NhxzB
6.2 薄膜反射率的测试 +*.*bo
6.3 薄膜反射率的测量 g$Tsht(rHD
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 ,ei9 ?9J1
6.5 总结 ~&:-c v
习题 fw %p_Cm
参考文献 Q<>u) %92@
第7章 薄膜的吸收和散射测量 'D W|a
7.1 激光量热计基本原理 ivo3 pibk%
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 $HwF:L)*
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 d.}65{F,x
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 +v/y{8Fu
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 Z|K HF"
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 1c,#`\Iikd
7.7 总结 g9C-!X-<T
习题
s( _z1
参考文献 C
b'|
第8章 薄膜光学常数的测量 wPU5L*/*i
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 c :Czu
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 fBX@
MedC
8.3 薄膜波导法 LR&Mh G7
8.4 光学薄膜厚度的测试 W~H`{x%Av>
8.5 总结 - 3(*4)h7
习题 j*>]HNo&
参考文献 g_4%M0&AX
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 k3&68+
9.1 薄膜的力学特性检测技术 t |>P9lX@
9.2 薄膜器件的环境试验 G5hRx@vfrL
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 /yU#UZ4;
9.4 总结 9#[,{2pJr
习题 $ `OyGeq"T
参考文献 e# Y{YtE
附录 7
\xCNOKh
附录A 复数与复数运算 Q'U!
A.1 复数的概念 N-N]BS6
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 KyIUz9$
A.3 复数在物理中的运用 mBIksts5 h
附录B 矩陈及矩陈运算 USART}Us4
B.1 矩陈的定义 ~xzr8 P
B.2 矩陈运算 &SIf |IX.
附录C 光的电磁理论基础 0%xb):Ctw
C.1 振动与波 [cDkmRV
C.2 电磁波 \<I&utn
C.3 麦克斯韦方程 NvzPZ9=@-
C.4 平面电磁波 U :x;4
C.5 平面电磁波性质 "wH(t k4
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 jNbVp{%/S}
附录D 光的干涉 ^vm6JWwN0B
D.1 波的叠加原理 R|@~< *
D.2 杨氏干涉 62;xK-U
D.3 平板的表面干涉 .{eMN[ n@
D.4 光的空间相干性和时间相干性 UDZ0ne0-
附录E 光的偏振 #n&/v'!\
E.1 自然光和偏振光 L5UZ@R,
E.2 偏振光与Jones矩陈 RKrNmD*rk*
E.3 偏振光的获得 }r1 8 Y6
E.4 偏振光的检验
