现代光学薄膜技术 本书目录 S
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第一篇 光学多层膜设计 Qu'#~#L`
第1章 光学薄膜特性的理论计算
qCrp c=
1.1 单色平面电磁波 'do2n/
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 2Ul8<${c{
1.3 光学薄膜特性的理论计算 vO9=CCxvq
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 dg#Pb@7a
习题 M"s:*c_6
第2章 光学薄膜的设计理论 7Rtjm
2.1 矢量作图法 qvy*;
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2.2 有效界面法 (#>X*~6
2.3 对称膜系的等效层 u 5rvrn ]
2.4 导纳图解技术 )O+Zbn
习题 MLTS<pW/
第3章 光学薄膜系统的设计 Hk4k
3.1 减反射膜 = )3\B
3.2 分束镜 /2=9i84
3.3 高反射膜 v+g:0
C5
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3.4 干涉截止滤光片 k.54lNl
3.5 带通滤光片 =d"5k DK-m
3.6 特殊膜系 RaSuzy^`*]
习题 5p~5-_JX
参考文献 (:E@kpK
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 a)r["*bTx
第4章 薄膜制备技术 9@"pR;X@
4.1 真空淀积工艺 pO )EYla9
4.2 光学薄膜材料 Dl0{pGK~
4.3 薄膜厚度监控艺术 .3_u5N|[=W
4.4 膜层厚度的均匀性 i qxMTH#!
习题 ;!
?l8R
参考文献 Y$,~"$su|
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 {Z <`@\K3
5.1 薄膜的形成过程 MRo_An+
5.2 薄膜的微观结构 Z5U\>7@&8
5.3 薄膜的成分 Zi]E!Tgn
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 5cA:;{z];g
5.5 薄膜微观结构和改善 *rxYal4ad
习题 t XrKC
参考文献 Z6Mjc /
第三篇 光学薄膜检测技术 E6xdPjoWy
第6章 薄膜透射率和反射率测量 =c,7 uB
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 W58?t6!
=
6.2 薄膜反射率的测试 Xe: ^<$z
6.3 薄膜反射率的测量 &D-z|ZjgHi
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 FhBV.,bU,m
6.5 总结 , :K{
习题 \X(*JNQ
参考文献 ^K J #dT
第7章 薄膜的吸收和散射测量 sx u P"4
7.1 激光量热计基本原理 A+H8\ew2,
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 )
5I j
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 rZB='(?
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 r~Q E}00@^
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 1D [>oK\
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 6/g
82kqpk
7.7 总结 `w4'DB-R)
习题 ,S(Z\[x0
参考文献 =Sr<d|\O
第8章 薄膜光学常数的测量 UB>BVBCt
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 PvW4%A@0
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ,vMAX?c
8.3 薄膜波导法 JP( tf+
8.4 光学薄膜厚度的测试 +zDRed_]=_
8.5 总结 lqrI*@>Tz
习题 Jo;&~/ V
参考文献 "|&3z/AUh
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 $g VbeQ
9.1 薄膜的力学特性检测技术 F3o"ETle
9.2 薄膜器件的环境试验 8[AU`F8W
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 `?l
/HU w
9.4 总结 Cq<Lj
习题 2(\PsN w!
参考文献 }C[ "'tLX
附录 }z9v *C
附录A 复数与复数运算 hRB?NM
A.1 复数的概念 O +< +yQl
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 z"Q tP[_m
A.3 复数在物理中的运用 L|s\IM1g
附录B 矩陈及矩陈运算 |-*50j l
B.1 矩陈的定义 Hc|cA(9sh9
B.2 矩陈运算 87S,6 Y
附录C 光的电磁理论基础 bV'r9&[_6
C.1 振动与波 D-i, C~W
C.2 电磁波 xbcmvJr G
C.3 麦克斯韦方程 aEa+?6;D
C.4 平面电磁波 726 UO#*
C.5 平面电磁波性质 >6WZSw/Hq
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 /d"@$+
附录D 光的干涉 Ie _{P& J
D.1 波的叠加原理 k}}'f A
D.2 杨氏干涉 ?< yYm;B
D.3 平板的表面干涉 C}jrx^u>
D.4 光的空间相干性和时间相干性 #^aa&*<D_
附录E 光的偏振 ^ PJN$BJx
E.1 自然光和偏振光 x11r iK
E.2 偏振光与Jones矩陈 HFyQ$pbBU
E.3 偏振光的获得 tGXH) =K
E.4 偏振光的检验
