现代光学薄膜技术 本书目录 dw8Ce8W
第一篇 光学多层膜设计 mpBSd+ ;Z
第1章 光学薄膜特性的理论计算 geL)v7t+#
1.1 单色平面电磁波 %11&8F p1s
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 jd|? aK;(
1.3 光学薄膜特性的理论计算 k"V| f&
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 ~1Q$FgLk
习题 t%wC~1
第2章 光学薄膜的设计理论 wvum 7K{tI
2.1 矢量作图法 V6Y:l9
2.2 有效界面法 {(i>$RG_
2.3 对称膜系的等效层 cWSiJr):r
2.4 导纳图解技术 4
e1=b,
习题 WhsT Ky&E
第3章 光学薄膜系统的设计 Lf|5miO
3.1 减反射膜 z!quA7s<]
3.2 分束镜 mYf7?I~
3.3 高反射膜 %l!Gt"\xm
3.4 干涉截止滤光片 't:|>;Wx
3.5 带通滤光片 L\--h`~YU
3.6 特殊膜系 w:P$ S
习题 }U K<t UO
参考文献 ,lLkAd?q
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 IP K.
第4章 薄膜制备技术 #y }{ 'rF?
4.1 真空淀积工艺 BD+V{x} P
4.2 光学薄膜材料 L $^ya%2
4.3 薄膜厚度监控艺术 {#aW")x^#
4.4 膜层厚度的均匀性 i>w'$ {
习题 K
r9 P#Y
参考文献 {k=H5<FV
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 AOhfQ:E 4
5.1 薄膜的形成过程 8jW"8~Y#0
5.2 薄膜的微观结构 y<bA Y_-[
5.3 薄膜的成分 6vySOVMj
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 *6 o QW
5.5 薄膜微观结构和改善 3A'vq2beM
习题 '`$z!rA
参考文献 _Gv [ D
第三篇 光学薄膜检测技术 bLyU;
第6章 薄膜透射率和反射率测量 \M-}(>Pfk
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 rnvKfTpZDU
6.2 薄膜反射率的测试 iO)FZ%?"
6.3 薄膜反射率的测量 @Omg k=6
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 C
7) w8y
6.5 总结 'xi[- -
习题 ^sR]w]cz.
参考文献 !e?g"5r{Bv
第7章 薄膜的吸收和散射测量 \^O#)&5 V
7.1 激光量热计基本原理 Ergh]"AD6-
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 4<b=;8
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 AsyJD t'i
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 #flOaRl.
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 >CtT_yhx
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 )&R^J;W$M1
7.7 总结
II;fBcXF
习题 <smi<syx
参考文献 q 65mR! )
第8章 薄膜光学常数的测量 56 k 89o
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 a g Za+a
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 0Q^ -d+!
8.3 薄膜波导法 69#D,ME?
8.4 光学薄膜厚度的测试 n#,<-Rb-
8.5 总结 3T)GUzt`
习题 AnK-\4
参考文献 c k-ab0n
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 Q@B--Omfh
9.1 薄膜的力学特性检测技术 q3a`Y)aVB
9.2 薄膜器件的环境试验 88\0opL-
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 vK\n4mE[,
9.4 总结 HP T {83
习题 tmM8YN|
参考文献 ~ZbEKqni2
附录 [C)JI; \
附录A 复数与复数运算 ^M JT lRUb
A.1 复数的概念 {k. Dy92
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 2
MFGKz O
A.3 复数在物理中的运用 M>H4bU(
附录B 矩陈及矩陈运算 ?M'_L']N[
B.1 矩陈的定义 Q"UWh~
B.2 矩陈运算 So &c\Ff
附录C 光的电磁理论基础 @* a'B=7
C.1 振动与波 6- H81y 3
C.2 电磁波 *LnY}#
C.3 麦克斯韦方程 B^'Uh+Y
C.4 平面电磁波 S}zh0`+d'Z
C.5 平面电磁波性质 (ATvH_Z
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 99Jk<x
k
附录D 光的干涉 fJ" #c<n
D.1 波的叠加原理 5r1{l%?
D.2 杨氏干涉 q^nSYp#
D.3 平板的表面干涉 UO%Vu C5B
D.4 光的空间相干性和时间相干性 !Gwf"-TQ
附录E 光的偏振 @R+bR<}]
E.1 自然光和偏振光 TUeW-' /1
E.2 偏振光与Jones矩陈 y>+xdD0 +
E.3 偏振光的获得 c-S_{~~
E.4 偏振光的检验
