现代光学薄膜技术 本书目录 T~ :|!`
第一篇 光学多层膜设计 cC'x6\a
第1章 光学薄膜特性的理论计算 p-SJ6Gg
9
1.1 单色平面电磁波 / JkC+7H4
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 U#&7p)4(
1.3 光学薄膜特性的理论计算 %w7pkh,
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 RQB
4s^t
习题 x1 &W^~
第2章 光学薄膜的设计理论 Iw<i@=V
2.1 矢量作图法 RsJ6OFcWV
2.2 有效界面法 /X'(3'a
2.3 对称膜系的等效层 W ~f(::
2.4 导纳图解技术 &<RpWA k{
习题 kOo~%kcQ'
第3章 光学薄膜系统的设计 9ZXlR?GA
3.1 减反射膜 j _L@U2i
3.2 分束镜 3&&9_`r&_
3.3 高反射膜 ={>L rig:l
3.4 干涉截止滤光片 &0zT I?c
3.5 带通滤光片 j z58E}
3.6 特殊膜系 :>Rv!x `
习题 L2 Pujk
参考文献 ^z6_ Uw[
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性
-!W<DJ*
第4章 薄膜制备技术 >9e(.6&2XZ
4.1 真空淀积工艺 _WX tB#
4.2 光学薄膜材料 91> fqe
4.3 薄膜厚度监控艺术 fjk\L\1
4.4 膜层厚度的均匀性 :+Om]#`Vls
习题 kVK/9dy-F
参考文献 ^j#rZ;uc
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 r%:+$aIt
5.1 薄膜的形成过程 )WT>@
5.2 薄膜的微观结构 evkH05+;W
5.3 薄膜的成分 M])dJ9&e
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 <Rh6r}f
5.5 薄膜微观结构和改善 =0uAE7q(9
习题 <S? ddp 2
参考文献 8#!i[UF dj
第三篇 光学薄膜检测技术 e@:sR
第6章 薄膜透射率和反射率测量 ^j-3av=
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 B#/Q'V
6.2 薄膜反射率的测试 oF(Lji?m
6.3 薄膜反射率的测量 w?kJ+lmOQy
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 M@0;B30L
6.5 总结 ok|qyN+
习题 ZaNQ pH.
参考文献 T^J >ZDA
第7章 薄膜的吸收和散射测量 z~`b\A,$
7.1 激光量热计基本原理
Uf}\p~;
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 _ uc
hU=
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 !uQPc
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 .9Y)AtJTS
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 y~()| L [
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 yR(x+ Gs{]
7.7 总结 ?QE,;QtpK
习题 -B8 6U6^s
参考文献 5^^XQ?"
第8章 薄膜光学常数的测量 )iFJz/n>
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 B&D }F=U
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 u\eEh*<7q
8.3 薄膜波导法 HRB<Y
mP@
8.4 光学薄膜厚度的测试 L:@7tc.
8.5 总结 pAT7 )Ch
习题 zOQ>d|p?X
参考文献 "etPT@gF
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 O)vp~@ |
9.1 薄膜的力学特性检测技术 E*+{t~
9.2 薄膜器件的环境试验 F_CYYG Z
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 JQ"U4GVp
9.4 总结 i':C)7
习题 fka c_X$7
参考文献 oc s+d\
附录 |P%Jw,}]9
附录A 复数与复数运算 wiiCd
A.1 复数的概念 D*lKn62
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 'q`^3&E
A.3 复数在物理中的运用 2k=# om19
附录B 矩陈及矩陈运算 ^pUHKXihD
B.1 矩陈的定义 w!D|]LoE
B.2 矩陈运算 ?!+MM&c-n
附录C 光的电磁理论基础 BqT y~{)+
C.1 振动与波 N0r16# -g
C.2 电磁波 ?"g!
C.3 麦克斯韦方程
P
Y
C.4 平面电磁波 *6VF
$/rP
C.5 平面电磁波性质 8SGo9 [U2
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 O&Y*pOg
附录D 光的干涉 /HaHH.e
D.1 波的叠加原理 xoN3
D.2 杨氏干涉 ml+; Rmvb
D.3 平板的表面干涉 "yS _s
D.4 光的空间相干性和时间相干性 B8}Nvz
/
附录E 光的偏振 u?}(P_9
E.1 自然光和偏振光 adR)Uq9
E.2 偏振光与Jones矩陈 ?U2<
E.3 偏振光的获得 B \XKw '
E.4 偏振光的检验
