现代光学薄膜技术 本书目录 B Dp(&=ktq
第一篇 光学多层膜设计 }T%E;m-
第1章 光学薄膜特性的理论计算 nJH'^rO!C
1.1 单色平面电磁波 __z/X "H
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 TGpdl`k\T
1.3 光学薄膜特性的理论计算 o &b\bK%E
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 0>,i]
|Y
习题 $y)tcVc
第2章 光学薄膜的设计理论 +MS*YpPW
2.1 矢量作图法 .Sm 8t$
2.2 有效界面法 $7-4pW$ y
2.3 对称膜系的等效层 <{V{2V#
2.4 导纳图解技术 JpQV7}$
习题 Lxa<zy~b
第3章 光学薄膜系统的设计 g 6q[
I8
3.1 减反射膜 wC1) \ld
3.2 分束镜 <Rt0
V%}-
3.3 高反射膜 SM}&
@cJ
3.4 干涉截止滤光片 kaZcYuT.9
3.5 带通滤光片 @C'qbO{
3.6 特殊膜系 787i4h:71
习题 ZA4sEVHW
参考文献 GyE5jh2
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 ~@^ pX*%i
第4章 薄膜制备技术 *XXa 9z
4.1 真空淀积工艺 Ob'[W;p)[w
4.2 光学薄膜材料 ]:6IW:
4.3 薄膜厚度监控艺术 i piS=
4.4 膜层厚度的均匀性 O|;|7fCB\
习题 u_=>r_J[b
参考文献 `)jAdad-s
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 <l)I% 1T_c
5.1 薄膜的形成过程 ;S 2/n$Ju_
5.2 薄膜的微观结构 o<S(ODOfi
5.3 薄膜的成分 Xp^71A? >
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 Mc|UD*Z
5.5 薄膜微观结构和改善 :JxuaM8
习题 A*{V%7hs&
参考文献 (S j?BZjC
第三篇 光学薄膜检测技术 ()$tP3 o
第6章 薄膜透射率和反射率测量 U_0"1+jbq
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 ~RM_c
6.2 薄膜反射率的测试 :EC[YAK+D
6.3 薄膜反射率的测量 $8_b[~% 2
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 }
AHR7mu=
6.5 总结 grCz@i
习题 d _Y7/_i
参考文献 l;J B;0<s"
第7章 薄膜的吸收和散射测量 2K(zYv54
7.1 激光量热计基本原理 tjy@sO/Q
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 6[% 4 Q[
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 _K>YB>W}7
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 ]\%u9,b%!
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 ]+78
"(
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 >x1?t
7.7 总结 wtro'r3
习题 dBp)6ok#c
参考文献 z`@|v~i0`
第8章 薄膜光学常数的测量 "\Nn,3qp
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 } W"/h )q
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 &14Er,K
8.3 薄膜波导法 3hzKd_
8.4 光学薄膜厚度的测试 a^GJR] ]
{
8.5 总结 pj'[
H
习题 }W* q
参考文献 ^&8xfI6?
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 Q K/~lN
9.1 薄膜的力学特性检测技术 h-:te9p6>4
9.2 薄膜器件的环境试验 w> gB&59r
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 LZ*ZXFIg
9.4 总结 ER$qL"H
U
习题 |"EQyV
参考文献 6<C|O-
附录 O 9 [Dae{i
附录A 复数与复数运算 ;l=Z W
A.1 复数的概念 kEM|;&=_
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 D~JrO]mi
A.3 复数在物理中的运用 3 At%TA:
附录B 矩陈及矩陈运算 wt nC^d$
B.1 矩陈的定义 sM'%apM#
B.2 矩陈运算 &,~Oi(SX5
附录C 光的电磁理论基础 ).1 F0T
C.1 振动与波 S6Fn(%T+9
C.2 电磁波 pbePxOG
C.3 麦克斯韦方程 2i_k$-
C.4 平面电磁波 S U$U
C.5 平面电磁波性质 %oE3q>S$en
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 Mu]1e5^]
附录D 光的干涉 +>S\.h
s4
D.1 波的叠加原理 jpek=4E
D.2 杨氏干涉 K.K=\
Y2
D.3 平板的表面干涉 aqzIMOAf
D.4 光的空间相干性和时间相干性 u3ns-e
附录E 光的偏振 e 2l !L*[g
E.1 自然光和偏振光 W #kOcw
E.2 偏振光与Jones矩陈 "xKykSk
E.3 偏振光的获得 <^8&2wAkJ
E.4 偏振光的检验
