现代光学薄膜技术 本书目录 YK#bzu ,!
第一篇 光学多层膜设计 0IoS|P}6a
第1章 光学薄膜特性的理论计算 q: . URl
1.1 单色平面电磁波 Hk%m`|Z
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ou6|;*>d
1.3 光学薄膜特性的理论计算 uUb[Dqn
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 AZ cW f8
习题 6R% I)
第2章 光学薄膜的设计理论 s
bV6}
2.1 矢量作图法 Z++JmD1J
2.2 有效界面法 6bC C6G
2.3 对称膜系的等效层 n'ft@7>%h
2.4 导纳图解技术 5S:#I5Wa
习题 zRsG$)B
第3章 光学薄膜系统的设计 ZK4/o
3.1 减反射膜 Q}ho
Y
3.2 分束镜 %^}3:0 G
3.3 高反射膜 D^P_3
B+
3.4 干涉截止滤光片 31-%IkX+k
3.5 带通滤光片 T%K"^4k
3.6 特殊膜系 I0oM\~#
习题 FQSepUl
参考文献 Kr`Cr 5v
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 B@dA ?w.x
第4章 薄膜制备技术 cMxTv4|wui
4.1 真空淀积工艺 *b9=&:pU(
4.2 光学薄膜材料 :N5R.@9
4.3 薄膜厚度监控艺术 - xt j:UO
4.4 膜层厚度的均匀性 zZD a7 1>
习题 lil1$K: i
参考文献 g83]/s+
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 tn201TDZ]=
5.1 薄膜的形成过程 q?'*T?|
5.2 薄膜的微观结构 W> 0 36
5.3 薄膜的成分 4)ez0[i$X
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 %{s<h6{R
5.5 薄膜微观结构和改善 ) 2C`;\/:
习题 n\&[^Q#b|
参考文献 .0;Z:x_3
第三篇 光学薄膜检测技术 '"Q;54S**
第6章 薄膜透射率和反射率测量 &^^zm9{
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 Js[dT|>.
6.2 薄膜反射率的测试 jI!}}K)d
6.3 薄膜反射率的测量 K1 a$
m2
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 H\AJLk 2E
6.5 总结 GGsDR%U
习题 WjtmV2b<7
参考文献 S1NM9xHJ
第7章 薄膜的吸收和散射测量 85YE6^y
7.1 激光量热计基本原理
Mp9wYM*
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 uG@Nubdwuy
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 _ ] veTAV
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 1foy.3g-
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 5O<7<O B
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 wYK-YY:Q3
7.7 总结 z/(^E8F
习题 }2;~':Mklz
参考文献 `= 8g%O|T
第8章 薄膜光学常数的测量 &m_4#
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 i/`N~r
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 <rV3(qb#]J
8.3 薄膜波导法 {Sm^F
8.4 光学薄膜厚度的测试 U~ QIO O
8.5 总结 mnswG vY
习题 -Zd0 [& ']
参考文献 k\X1`D}R
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 =b2/g [
9.1 薄膜的力学特性检测技术 >QV=q`I
9.2 薄膜器件的环境试验 .^0@^%Wi
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 M \rW
9.4 总结 p5&:>>
习题 |GJSAs"L@
参考文献 HTuv_kE
附录 j h \L)a*
附录A 复数与复数运算 Xc -'&"
A.1 复数的概念 =n|n %N4 Y
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 e>\[OwF-x
A.3 复数在物理中的运用 Ha{ #
附录B 矩陈及矩陈运算 E4~k)4R
B.1 矩陈的定义 j4>1a
B.2 矩陈运算 %_N-~zZ1E
附录C 光的电磁理论基础 NrPs :`
C.1 振动与波 T7_i: HU%
C.2 电磁波 V uZd
C.3 麦克斯韦方程 _Vr>/f
C.4 平面电磁波 &y"e|aE
C.5 平面电磁波性质 57*`y'C W
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 9B gR@b
附录D 光的干涉 Lq.aM.& ;#
D.1 波的叠加原理 %7WGodlXW
D.2 杨氏干涉 M:i;;)cq
D.3 平板的表面干涉 udYk
6
D.4 光的空间相干性和时间相干性 |9c J O@
附录E 光的偏振 4sOo>.<x
E.1 自然光和偏振光 0w[#`
E.2 偏振光与Jones矩陈 dHjJLs_
E.3 偏振光的获得 Oo<L~7B
E.4 偏振光的检验
