现代光学薄膜技术 本书目录 h]o{>
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第一篇 光学多层膜设计 4L&Rs;
第1章 光学薄膜特性的理论计算 #[~f 6s9D
1.1 单色平面电磁波 j[fY.>yt&
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ^F|/\i
1.3 光学薄膜特性的理论计算 ; W@
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 :HH3=.qAp`
习题 .wQM_RZJ
第2章 光学薄膜的设计理论 (;++a9G K
2.1 矢量作图法 [|L~" BB
2.2 有效界面法 E*}1_,q)
2.3 对称膜系的等效层 e:n3@T,R
2.4 导纳图解技术 [-3x *?Ju
习题 Ve[&_(fP
第3章 光学薄膜系统的设计 XhJYs q]]J
3.1 减反射膜 V_=7q=9mV
3.2 分束镜 f; ,^
]mw
3.3 高反射膜 2nB{oF-Z
3.4 干涉截止滤光片 6" GHVFB
3.5 带通滤光片 -JXCO <~k
3.6 特殊膜系 }h9f(ZyJn
习题 5 R*55@)
参考文献 _X fn
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 #]s&[O43
第4章 薄膜制备技术 # AH<dS
4.1 真空淀积工艺 ?&@a{-
4.2 光学薄膜材料 cdD?QnZ
4.3 薄膜厚度监控艺术 C\1x3
4.4 膜层厚度的均匀性 x I(X+d``
习题 JS(%:
参考文献 %OT?2-d
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 <;zcz[~
5.1 薄膜的形成过程 <io;d$=}
5.2 薄膜的微观结构 [xl+/F7
5.3 薄膜的成分 N7dI}ju
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 ac/<N%
5.5 薄膜微观结构和改善 4cJk a~
习题 Y| F~w~Cb
参考文献 HD8*>p.
第三篇 光学薄膜检测技术 ,h* 'Cs04h
第6章 薄膜透射率和反射率测量 ) t$o0!
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 & z;1Z
6.2 薄膜反射率的测试 U3M ;6j9`
6.3 薄膜反射率的测量 #;s5=aH
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 q#P@,|nc:
6.5 总结 -zH` 9>J5|
习题 L~&r.81
参考文献 +o}mV.& 1,
第7章 薄膜的吸收和散射测量 78FLy 7
7.1 激光量热计基本原理 IF <<6.tz
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 >1NE6T
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 W=!di3IA
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 rHD_ sC*
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 +y9WJ
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 {M P (*N
7.7 总结 e c4v X
习题 ~zL DLr=
参考文献 ~cb7]^#u1l
第8章 薄膜光学常数的测量 i'uSu8$'*
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 Q<fDtf }
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ;.&k zzvJ
8.3 薄膜波导法 `z?h=&N
8.4 光学薄膜厚度的测试 xA] }/*
8.5 总结 k/ 2TvEV3=
习题 2#`9OLu8X
参考文献 n>?eTlO3
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 w ;xbQZ|+
9.1 薄膜的力学特性检测技术 @ACq:+/Q c
9.2 薄膜器件的环境试验 5PPaR|c3
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 P,={ C6*
9.4 总结 y}GFtRNG
习题 D>
E N:_v
参考文献 % O \zYtQR
附录 +9R@c Ur
附录A 复数与复数运算 &v g[k#5
A.1 复数的概念 %v, a3^Qu
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 Gq0`VHAn
A.3 复数在物理中的运用 YzeNr*
附录B 矩陈及矩陈运算 J @^Ypq
B.1 矩陈的定义 ((mR' A|`
B.2 矩陈运算 1Y(NxC0P=g
附录C 光的电磁理论基础 *8I &|)x
C.1 振动与波 (KnU-E]L
C.2 电磁波 r Zg(%6@
C.3 麦克斯韦方程 f7oJ6'K
C.4 平面电磁波 l$g \t]
C.5 平面电磁波性质
-wQ@z6R
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 {Xv0=P
附录D 光的干涉 5L J0V
D.1 波的叠加原理 /x w}]Fa5
D.2 杨氏干涉 u{%dm5
D.3 平板的表面干涉 7)dCdO
D.4 光的空间相干性和时间相干性 /<T3^/ '
附录E 光的偏振 (e _ l1O?
E.1 自然光和偏振光 ! YENJJ
E.2 偏振光与Jones矩陈 j kV 9$W0
E.3 偏振光的获得 {B7${AE
E.4 偏振光的检验
