现代光学薄膜技术 本书目录 0!YVRit\N
第一篇 光学多层膜设计 D1-w>Y#
第1章 光学薄膜特性的理论计算 6 L4\UT r
1.1 单色平面电磁波 ;0m J4G
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 9Cd/SlNV2
1.3 光学薄膜特性的理论计算 lq53
xT
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 `. JW_F)1
习题 fgL"\d}
第2章 光学薄膜的设计理论 N}VoO0 I
2.1 矢量作图法 4rL`||
2.2 有效界面法 ?,riwDI 2
2.3 对称膜系的等效层 3 xW:"
2.4 导纳图解技术 QChWy`x
习题 /2T
W?a
第3章 光学薄膜系统的设计 Jxe 5y3*
(
3.1 减反射膜 vjGJRk|XED
3.2 分束镜 ".|8 (Y
3.3 高反射膜 r1IvA^X
3.4 干涉截止滤光片 qk'&:A
3.5 带通滤光片 N
e{=KdzT
3.6 特殊膜系 dL4VcUS.
习题 j}Svb1A
参考文献 cu?6\@cD
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 bQI :N
第4章 薄膜制备技术 ; sYDs71y
4.1 真空淀积工艺 'M YKAnZ-i
4.2 光学薄膜材料 <Tgubv+J
4.3 薄膜厚度监控艺术 XN
t` 4$L
4.4 膜层厚度的均匀性 -eV*I >G
习题 Ygg+=@].@
参考文献 (T2HUmkQ6
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 ) C~#W
5.1 薄膜的形成过程 ~2hzyEh
5.2 薄膜的微观结构 11QZ - ^
5.3 薄膜的成分 -tWxB GSa@
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 1r.2bL*~jw
5.5 薄膜微观结构和改善 r%=a :GdAg
习题 -}T7F+
参考文献 z"7?I$N Q
第三篇 光学薄膜检测技术 AX{<d@z`j
第6章 薄膜透射率和反射率测量 Kk =>"?&
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 w-)JCdS6Tb
6.2 薄膜反射率的测试 lgVT~v{U`n
6.3 薄膜反射率的测量 *$VeR( QN
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 Tg@G-6u0c
6.5 总结 #+6j-^<_6
习题 g8Y)90 G
参考文献 t4 ; gY298
第7章 薄膜的吸收和散射测量 j l 7>
7.1 激光量热计基本原理 9 f bo
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 )2W7>PY
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 &-NGVPk81`
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 V3*@n *"N;
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 aW|=|K
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 9b-4BON{P
7.7 总结 Y=s v
习题 tD}{/`{_t
参考文献 c+Z dfdR
第8章 薄膜光学常数的测量 T^d<vH
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 K( MZ!>{
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 2|exY>`w
8.3 薄膜波导法 L28wT)D-
8.4 光学薄膜厚度的测试 v%`k*n ':
8.5 总结 !F6rcDK I
习题 [=. iJ5,{2
参考文献 j1Sjw6}GCH
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 B "4A1!
9.1 薄膜的力学特性检测技术 \N? lG q
9.2 薄膜器件的环境试验 #>C Wee;
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 Zg= {
9.4 总结 +(' xzW
习题 pkG8g5(w
参考文献 H_Hr=_8}-
附录 Gyi0SM6v5&
附录A 复数与复数运算 Vfq-H /+
A.1 复数的概念 q ixnaiZ
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 Q-s5-&h (
A.3 复数在物理中的运用 k+@ :+ RL
附录B 矩陈及矩陈运算 c0jTQMe4yl
B.1 矩陈的定义 I)3LJK
B.2 矩陈运算 fWg 3gRI
附录C 光的电磁理论基础 XI ><;#
C.1 振动与波 .Q</0*sp
C.2 电磁波 d"ZsOq10D
C.3 麦克斯韦方程 z:Ru`
C.4 平面电磁波 vXdI)Sx[
C.5 平面电磁波性质 <[gN4x>'
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 Y?oeP^V'u
附录D 光的干涉 | t$%kpp
D.1 波的叠加原理 6I]{cm
D.2 杨氏干涉 LsMq&a-j2
D.3 平板的表面干涉 .UK`~17 !
D.4 光的空间相干性和时间相干性 #'#@H
附录E 光的偏振 6lr<{k7Nw
E.1 自然光和偏振光 A i#~Eu*
E.2 偏振光与Jones矩陈 A}uW y^w
E.3 偏振光的获得 u8x#XESR7
E.4 偏振光的检验
