现代光学薄膜技术 本书目录
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第一篇 光学多层膜设计 e3[:D5
第1章 光学薄膜特性的理论计算 a|_p,_
1.1 单色平面电磁波 @f1 *eo5f
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 C~4PE>YtTv
1.3 光学薄膜特性的理论计算 \7v)iG|#G&
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 q]% T:A=
习题 # 8h ;Bj
第2章 光学薄膜的设计理论 v?:: | {
2.1 矢量作图法 ?1I GYyu!
2.2 有效界面法 BR5BJX
2.3 对称膜系的等效层 $V>yXhTh
2.4 导纳图解技术 BiwieF4x
习题 K^[#] +nQ
第3章 光学薄膜系统的设计 w:i:~f .
3.1 减反射膜 ZC0-wr \
3.2 分束镜 %O[N}_XHEh
3.3 高反射膜 Uh6 '$0
3.4 干涉截止滤光片 FM w&(
3.5 带通滤光片 hJ;$A*Y
3.6 特殊膜系 K^l:MxO-X
习题 /t%u"dP"T~
参考文献 iw9Q18:I}
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 b=;nm#cAI
第4章 薄膜制备技术 _BM4>r?\
4.1 真空淀积工艺 Q \hY7Xq'
4.2 光学薄膜材料 NH A 5e<
4.3 薄膜厚度监控艺术 .) tSg
4.4 膜层厚度的均匀性 ]0V}D,V($
习题 Qdk 6Qubi!
参考文献 ]< l6s
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 i[jJafAcN
5.1 薄膜的形成过程 5z }w }zdg
5.2 薄膜的微观结构 / |r'
5.3 薄膜的成分 ,:Z^ $
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 7 - d.ZG
5.5 薄膜微观结构和改善 OhZgcUqQ8
习题 0% L l
参考文献 * /qtzt
第三篇 光学薄膜检测技术 y046:@v(
第6章 薄膜透射率和反射率测量 8 IQtz2
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 9A'Y4Kg<C
6.2 薄膜反射率的测试 =wWpP-J&
6.3 薄膜反射率的测量 :M3oUE{
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 D/y bFk
6.5 总结 rqPo)AL
习题 sic"pn],U
参考文献 xM >W2
第7章 薄膜的吸收和散射测量 o G*5f
7.1 激光量热计基本原理 :ue:QSt(u
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 }|OaL*|u
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 &)wiKh "$
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 nQX+pkJ
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 zE T^T5>:
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 {P%9
7.7 总结 HAz By\M{
习题 f5*k7fg
参考文献 ;ea] $9
第8章 薄膜光学常数的测量 Qj{8?lew
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 !^#jwRpeN
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 )>
,wj
8.3 薄膜波导法 BF*kb2"GZ6
8.4 光学薄膜厚度的测试 8H,4kY?Z
8.5 总结 ?lGG|9J\
习题 1J=.N|(@Q
参考文献 aim arU
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 LsEXM-
9.1 薄膜的力学特性检测技术 lz#GbX n.
9.2 薄膜器件的环境试验 - O98pi
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 (
9!k#
9.4 总结 {N2g8W:
习题 _/8FRk x
参考文献 xJ^ >pg8
附录 `pf4X/Py
附录A 复数与复数运算 z?/1Kj}xG
A.1 复数的概念 _R'Fco
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 <9E0iz+j
A.3 复数在物理中的运用 Y?CCD4"qn
附录B 矩陈及矩陈运算 E1dD7r\
B.1 矩陈的定义 [Aj Q#;#Q
B.2 矩陈运算 WG*t ::NN
附录C 光的电磁理论基础 `g8E1-]l
C.1 振动与波 k I w`P[
C.2 电磁波 [${
QzO
C.3 麦克斯韦方程 ,g-EW
jN
C.4 平面电磁波 #/"8F O%~p
C.5 平面电磁波性质 t"hYcnC
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 C *U'~qRK
附录D 光的干涉 hT$~ygQ
D.1 波的叠加原理 M` q?Fk
D.2 杨氏干涉 UDhG :
D.3 平板的表面干涉 #_lt~ ^ 6
D.4 光的空间相干性和时间相干性 9I 1tN
附录E 光的偏振 !CX t*/~
E.1 自然光和偏振光
3G.5724,
E.2 偏振光与Jones矩陈 S)QAXjH
E.3 偏振光的获得 S6}@I ,Q
E.4 偏振光的检验
