现代光学薄膜技术 本书目录 ;{tj2m,
第一篇 光学多层膜设计 .Cl:eu,]
第1章 光学薄膜特性的理论计算 8 =uu8-l8g
1.1 单色平面电磁波 6){]1h"
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ?FF4zI~
1.3 光学薄膜特性的理论计算 9}F*P669f
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 [d IXR
习题 x&Kh>PVh\
第2章 光学薄膜的设计理论 d,Yw5$i
2.1 矢量作图法 H0`]V6+<f
2.2 有效界面法 (VEpVn3{
2.3 对称膜系的等效层 yS(fIL V
2.4 导纳图解技术 K<Iv:5-2
习题 dS! :JO27
第3章 光学薄膜系统的设计 z Q`jP$2
3.1 减反射膜 @ H7d_S
3.2 分束镜 Mh/dpb\Z
3.3 高反射膜 Xi,CV[L\
3.4 干涉截止滤光片 %'7lbpy,f
3.5 带通滤光片 >\=3:gb:
3.6 特殊膜系 ?+W 9az]+
习题 QoIT*!
参考文献 6GSI"M6s
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 se>8 Z4
第4章 薄膜制备技术 @As[k2
4.1 真空淀积工艺 ^N;.cY
4.2 光学薄膜材料 vZ&T}H~8
4.3 薄膜厚度监控艺术 _R13f@NWB:
4.4 膜层厚度的均匀性 xLWw YK
习题 _Wp{ [TH
参考文献 vV6I 0
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 s!&#c`=
5.1 薄膜的形成过程 * @v)d[z_
5.2 薄膜的微观结构 6S*e xw
5.3 薄膜的成分 IsM}' .
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 o(LF h[
5.5 薄膜微观结构和改善 ,p2s:&"
习题 KB`!Sj\
参考文献 bM!_e3ik;
第三篇 光学薄膜检测技术 8WbgSY`
第6章 薄膜透射率和反射率测量 Vp*KfS]
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 SmdjyK1~8
6.2 薄膜反射率的测试 hj B@o#S
6.3 薄膜反射率的测量 bE#,=OI$
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 &U
raU l
6.5 总结 4UlyxA~
习题 ! ^=*Jq>
参考文献 (k) l= ]`}
第7章 薄膜的吸收和散射测量 l(u.I2^o
7.1 激光量热计基本原理 QnXA*6DJ
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 5JCG2jqx0
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 eg?<m KrZ
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 qnJt5
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 ];a=Pn-:}G
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 V=qwwY z~
7.7 总结 $Ifmc` r1
习题 Fzpfoz<N
参考文献 !\i\}feb
第8章 薄膜光学常数的测量 /#-C4 "|
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 $8xl#SqH
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 E4W -hq~
8.3 薄膜波导法 SHbtWq} T
8.4 光学薄膜厚度的测试 Nq` C.&
8.5 总结 u7[ykyV
习题 ;04Ldb1{|3
参考文献 KgOqbSJ
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 g[I b,la_a
9.1 薄膜的力学特性检测技术 RGg (%.
9.2 薄膜器件的环境试验 [*H N"
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 %K` % *D
9.4 总结 O<"}|nbmQ[
习题 3k# /{Z
参考文献 Jd(,/q
附录 #u"k~La
附录A 复数与复数运算 6morum
A.1 复数的概念 _$f9]bab
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 MHai%E
A.3 复数在物理中的运用 [}8|R0KF
附录B 矩陈及矩陈运算 YZ7|K<
B.1 矩陈的定义 < hO
/jB
B.2 矩陈运算 n;U`m$vL%
附录C 光的电磁理论基础 Y$Y_fjd_
C.1 振动与波 !+4cqO
C.2 电磁波 @t`Xq1
C.3 麦克斯韦方程 Ucm :S-
C.4 平面电磁波 M57T2]8,
C.5 平面电磁波性质 &f^l ^K 5:
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 !V\Q<So<
附录D 光的干涉 . I' o
D.1 波的叠加原理 1jPJw3"3h
D.2 杨氏干涉 4Hn`' +b
D.3 平板的表面干涉 DrBUe'RH:M
D.4 光的空间相干性和时间相干性 w@ c87;c
附录E 光的偏振 TJ'[--
E.1 自然光和偏振光 @` Eg(
E.2 偏振光与Jones矩陈 ~J8pnTY
E.3 偏振光的获得 ?( m
jx
E.4 偏振光的检验
