现代光学薄膜技术 本书目录 ; w+A38N$J
第一篇 光学多层膜设计 1X{A}9nA
第1章 光学薄膜特性的理论计算 JR NyvG>j
1.1 单色平面电磁波 b&e?
6h^G
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ~pw_*AN
1.3 光学薄膜特性的理论计算 ,f N iZ
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 rLVAI#ci=
习题 u ) l d
第2章 光学薄膜的设计理论 _&:o"""Wf
2.1 矢量作图法 '6aH*B:}*;
2.2 有效界面法 dxU[>m;
2.3 对称膜系的等效层 _I -0[w
2.4 导纳图解技术 WL7:22nSHa
习题 &zm5s*yNt
第3章 光学薄膜系统的设计 Y6 CadC
3.1 减反射膜 p]>bN
3.2 分束镜 :4 ;>).
3.3 高反射膜 ( {8Q=Gh
3.4 干涉截止滤光片 S=my ;M-
3.5 带通滤光片 zxj!ihs<
3.6 特殊膜系 % d=-<EQ|&
习题 n gNg1zV/q
参考文献 Y<|L|b6
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 6znm?s@~
第4章 薄膜制备技术 5] F9o9]T
4.1 真空淀积工艺 #{]=>n)j
4.2 光学薄膜材料 zL_X?UmV
4.3 薄膜厚度监控艺术 wF&\@H
4.4 膜层厚度的均匀性 aN7u
j
习题 [Y:H Vr,
参考文献 4RzG3CJdS
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 't>Qj7vh0
5.1 薄膜的形成过程 P(Lwpa,S
5.2 薄膜的微观结构 B kC(9[Ei
5.3 薄膜的成分 U M#]ol h
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 D QZS%)
5.5 薄膜微观结构和改善 vWgh?h/ot
习题 nbYaYL?&
参考文献 qNvKlwR9;k
第三篇 光学薄膜检测技术 D@3|nS
第6章 薄膜透射率和反射率测量 '-* r&:
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 :bh[6 F
6.2 薄膜反射率的测试 ;J`X0Vl$
6.3 薄膜反射率的测量 ?r@ZTuq#
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 mg 3jm
6.5 总结 WT d})
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习题 r DSt
~ l
参考文献 L,:U _\HQ
第7章 薄膜的吸收和散射测量 w}E?FEe.
7.1 激光量热计基本原理 [Z[)hUXE?
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 11)~!in
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 pjoI};
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 Tq?W @DM*
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 JD> !3>S)?
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 7>4t{aRf_8
7.7 总结 ?e ~* ,6
习题 ?W|POk}
参考文献 ]>:>":<:
第8章 薄膜光学常数的测量 .Kv@p jOr
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 4 @VX%5uy
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 `q/y|/v<
8.3 薄膜波导法
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8.4 光学薄膜厚度的测试 ;Joo!CXHO
8.5 总结 D2hvf ^g'*
习题 >0m-S :lk
参考文献 R52!pB0[
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 c.XLEjV|
9.1 薄膜的力学特性检测技术 L RmO6>y
9.2 薄膜器件的环境试验 1"e= Zqn$)
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 Rp| :$5&nE
9.4 总结 vuK 5DG4
习题 'z\F-Ttq
参考文献 Zdak))7
附录 >Te{a*`"m:
附录A 复数与复数运算 dxd}:L~z
A.1 复数的概念 %:/;R_
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 FJD*A `a
A.3 复数在物理中的运用 fY `A
附录B 矩陈及矩陈运算 #2dmki"~(
B.1 矩陈的定义 E>[~"~x"pV
B.2 矩陈运算 oNdO@i%.q4
附录C 光的电磁理论基础 'R$~U?i8
C.1 振动与波 /)G9w ]|T
C.2 电磁波 J d`NS3;*p
C.3 麦克斯韦方程 c9&
8kq5
C.4 平面电磁波 >s>5k
O
C.5 平面电磁波性质 }%}eyLm(
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 HsXFglQ
附录D 光的干涉 ="4j k=on
D.1 波的叠加原理 } Jc^p
D.2 杨氏干涉 6yR7RF}
D.3 平板的表面干涉 Oll\T GXP!
D.4 光的空间相干性和时间相干性 v14[G@V~\
附录E 光的偏振 bv ] ZUF0
E.1 自然光和偏振光 cEN^H
E.2 偏振光与Jones矩陈 I 7TMv.
E.3 偏振光的获得 Rbl(oj#
E.4 偏振光的检验
