现代光学薄膜技术 本书目录 8c9<kGm$E
第一篇 光学多层膜设计 +'olC^?5 }
第1章 光学薄膜特性的理论计算 w3>11bE
1.1 单色平面电磁波 4~FRE)8
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 0 pEM0M
1.3 光学薄膜特性的理论计算 55$';gh,9
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 d-tg^Ot#
习题 S|LY U!IWZ
第2章 光学薄膜的设计理论 1t?OD_d!8
2.1 矢量作图法 whHuV*K}
2.2 有效界面法 F?H=2mzKbz
2.3 对称膜系的等效层 >C6S2ISSz
2.4 导纳图解技术 9Sd?,z
习题 } }~a4p>%
第3章 光学薄膜系统的设计 CqZHs
9+e&
3.1 减反射膜 +5Dc5Bl
3.2 分束镜 +s8R]3NJ_H
3.3 高反射膜 qs bo"29
3.4 干涉截止滤光片 m }RZ )c
3.5 带通滤光片 <Y1 Plc
3.6 特殊膜系 ;i?2^xe^~c
习题 2;:p
H3
参考文献 a9{NAyl<oo
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 u
"k<
N|.3
第4章 薄膜制备技术 HKT, 5
4.1 真空淀积工艺 ZOa| lB (,
4.2 光学薄膜材料 {y6h(@I8\
4.3 薄膜厚度监控艺术 &V (6N%A^U
4.4 膜层厚度的均匀性 B U??}{
习题 Ma$~B0!;s
参考文献 CyYr5 Dz
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 il !B={
5.1 薄膜的形成过程 ,&M#[>\(3
5.2 薄膜的微观结构 rQ]JM
5.3 薄膜的成分 vGh>1U:
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 MO7R3PP
5.5 薄膜微观结构和改善 vBF9!6X .
习题 a*.#Zgy:lK
参考文献 #(Gz?kGAH`
第三篇 光学薄膜检测技术 IHd
W!q
第6章 薄膜透射率和反射率测量 `t)9u^[<(
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 G&1bhi52
6.2 薄膜反射率的测试 @Bhcb.kbq
6.3 薄膜反射率的测量 YOGj__:
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 b$#b+G{y
6.5 总结 7f ub ^'_
习题 J9]cs ?`)
参考文献 <Oh i+a%6
第7章 薄膜的吸收和散射测量 0!lWxS 0#=
7.1 激光量热计基本原理 Is }kCf
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 -wg}X-'z0
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 >|kD(}Axf
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 Q]N&^ E
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 _Q
I!UQdW
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 I%a-5f$0
7.7 总结 C]5 kQ1Og
习题 wDW%v@
参考文献 . yXqa"p
第8章 薄膜光学常数的测量 ?-mOAHW0q
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 lbIPtu
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法
w 0=
8.3 薄膜波导法 pUqC 88*j
8.4 光学薄膜厚度的测试 ^ `Ozw^~
8.5 总结 ^&1 O:G*"
习题 z_ycH%p
参考文献 \2a;z<(
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 f ?k0(rl
9.1 薄膜的力学特性检测技术 =tt3 nfZ9
9.2 薄膜器件的环境试验 `DgK$ QM
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 -# ;xfJE
9.4 总结 c6 mS
习题 AK&>3 D
参考文献 V27RK-.N!
附录 U[?_|= ~7
附录A 复数与复数运算 jUA~}DVD
A.1 复数的概念 d:K\W[$Bz
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 w($a'&d`0
A.3 复数在物理中的运用 [I4M K%YQ
附录B 矩陈及矩陈运算 Yr-S lO>
B.1 矩陈的定义 a!: N
C
B.2 矩陈运算 /^nIOAeE
附录C 光的电磁理论基础 A2M(
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C.1 振动与波 IV. })8
C.2 电磁波 3_XLx{["'
C.3 麦克斯韦方程 13 #ff
C.4 平面电磁波 #vV]nI<MF.
C.5 平面电磁波性质 uWdF7|PN7
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 /v5A) A$7
附录D 光的干涉 *
CR#D}F
D.1 波的叠加原理 0 N>K4ho6{
D.2 杨氏干涉 EA6l11{Gk1
D.3 平板的表面干涉 ;NRh0)%|o
D.4 光的空间相干性和时间相干性 ; o_0~l=-/
附录E 光的偏振 [ZSC] w^
E.1 自然光和偏振光 P1LOj
E.2 偏振光与Jones矩陈 5>f "
E.3 偏振光的获得 ANu>*
E.4 偏振光的检验
