现代光学薄膜技术 本书目录 Q4? EZ _O
第一篇 光学多层膜设计 xIL#h@dz
第1章 光学薄膜特性的理论计算 [(ygisqt
1.1 单色平面电磁波 s)k y/ce
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 H @D;e
1.3 光学薄膜特性的理论计算 #dxvz^2V.3
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 89Z#|#uM5
习题 (rcMA >2=
第2章 光学薄膜的设计理论 u] E.iXp
2.1 矢量作图法 pDn&V(
2.2 有效界面法 r P'AJDuq
2.3 对称膜系的等效层 V&*D~ Jq
2.4 导纳图解技术 zsVcXBz
习题 >3 PMnI
第3章 光学薄膜系统的设计 @ 7W?8
3.1 减反射膜 6\n?4 8x}
3.2 分束镜 >b48>@~bY
3.3 高反射膜 j;\[pg MR/
3.4 干涉截止滤光片
$:EG%jl
3.5 带通滤光片 MQ` %``
3.6 特殊膜系 uv]{1S{tb
习题 jj,r <T
参考文献 G;s"h%Xw98
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 =K(JqSw+M
第4章 薄膜制备技术 8sg|MWS U
4.1 真空淀积工艺 c -B/~&
4.2 光学薄膜材料 fu R2S70d
4.3 薄膜厚度监控艺术 A nMV <
4.4 膜层厚度的均匀性 m#\[m<F
习题 g
j xS
参考文献 "3}<8 c
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 3-|3`(
5.1 薄膜的形成过程 Ur!~<4GO
5.2 薄膜的微观结构 ]Blf9h7
5.3 薄膜的成分 J,5+47b1}R
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 hw=GR_,
5.5 薄膜微观结构和改善 1nI^-aQ3
习题 |m;L?)F<
参考文献 }y6q\#G
第三篇 光学薄膜检测技术 y=Q!-~5|fF
第6章 薄膜透射率和反射率测量 x2W#ROfg
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 F!yV8XQ
6.2 薄膜反射率的测试 +,5-qm)Gh>
6.3 薄膜反射率的测量 =a$Oec g?
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 }x :f%Z5h
6.5 总结 ~L{l+jK$p
习题 ]
fwZAU
参考文献 !SxG(*u
第7章 薄膜的吸收和散射测量 0L#/lDNk
7.1 激光量热计基本原理 VhEka#
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 y1pu R7
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 57Z-
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 wC CV2tk
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 2@khSWV
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 (=
;N{u
7.7 总结 ;Ii1B{W
习题 S 6D^3n
参考文献 `u
XQ z7
第8章 薄膜光学常数的测量 :a0zT#u
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 z|N3G E(.@
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 l]6% lud8_
8.3 薄膜波导法 p2 %
8.4 光学薄膜厚度的测试 u:dx;*
8.5 总结 x#H
3=YD*
习题 GP a`e
参考文献 /*rhtrS)
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 u2iXJmM*
9.1 薄膜的力学特性检测技术 V/%~F6e
9.2 薄膜器件的环境试验 ~ Z)/RT/
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 RU# F8O
9.4 总结 |E)aT#$f'
习题 {38bv. 3'
参考文献 s a&) #Z:
附录 ,"2TArC'z
附录A 复数与复数运算 @n+=vC.xO
A.1 复数的概念 (k?7:h
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 z rfU QO
A.3 复数在物理中的运用 mUoIJ3fv_,
附录B 矩陈及矩陈运算 3V <&|
B.1 矩陈的定义 Y.6SOu5$]
B.2 矩陈运算 ~bK9R 0|<
附录C 光的电磁理论基础 {XCf-{a]~
C.1 振动与波 >3.X?
C.2 电磁波 g(E"4M@t!
C.3 麦克斯韦方程 9Ul(GI(
C.4 平面电磁波 jp2Q 9Z
C.5 平面电磁波性质 B&?sF" Y
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 {*m ?Kc7k
附录D 光的干涉 $ &UZy|9
D.1 波的叠加原理 PkuTg";
D.2 杨氏干涉 60>.ul2
D.3 平板的表面干涉 /j2H A^GT
D.4 光的空间相干性和时间相干性 2f~($}+*
附录E 光的偏振 3G}AH E4
E.1 自然光和偏振光 @.C{OSH E
E.2 偏振光与Jones矩陈 F>hZ{
E.3 偏振光的获得 q(M:QWA q
E.4 偏振光的检验
