现代光学薄膜技术 本书目录 mb>8=hMg
第一篇 光学多层膜设计 cN:d y #
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ?="? )t[
1.1 单色平面电磁波 LP'wL6#
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 {G+iobQdd
1.3 光学薄膜特性的理论计算 fe Jl[3@tO
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 aH_0EBRc
习题 +~V)&6Vn
第2章 光学薄膜的设计理论 fZp 3 g%u
2.1 矢量作图法 [pC 2#_}
2.2 有效界面法 #}Hdyl I\}
2.3 对称膜系的等效层 {TZV^gT4
2.4 导纳图解技术 jp7cPpk:LG
习题 s6QD^[
第3章 光学薄膜系统的设计 >qVSepK3
3.1 减反射膜 =gB8(1g 8
3.2 分束镜 )x< B eD
3.3 高反射膜 j [A:So
3.4 干涉截止滤光片 &~ c`p [
3.5 带通滤光片 iwy;9x
3.6 特殊膜系 81H9d6hqcD
习题 #||D,[ _=+
参考文献 3lTnfc&
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 L_tjclk0J
第4章 薄膜制备技术 DKF`
xuJP
4.1 真空淀积工艺 Q- 7L,2TL
4.2 光学薄膜材料 fDRG+/q(+
4.3 薄膜厚度监控艺术 6 rW b2b
4.4 膜层厚度的均匀性 BV6B:=E0
习题 CQPq5/@Y4
参考文献 \&l@rMD3s
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 DkSs^ym
5.1 薄膜的形成过程 B1A:} #
5.2 薄膜的微观结构 |\>Ifv% {
5.3 薄膜的成分 4Y{;%;-i
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 dQz#&&s-
5.5 薄膜微观结构和改善 IL1iTR H
习题 LLKYc y
参考文献 dvM%" k
第三篇 光学薄膜检测技术 m L-6+pJ@
第6章 薄膜透射率和反射率测量 G^';9 UK
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 OIIA^QyV
6.2 薄膜反射率的测试 .K] Uk/W
6.3 薄膜反射率的测量 :cf# Tpq"
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 p1\mjM
6.5 总结 JLt%G^W >
习题 Ldj*{t `5
参考文献 7 ?D?s!%\
第7章 薄膜的吸收和散射测量 GKKDO+A=!
7.1 激光量热计基本原理
CvR-lKV<
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 H@u5 &
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 ,"F0#5
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 ~N2=44 e
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 _u'y7-
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 DN iH" 0%
7.7 总结 <k0/O
习题 3 /PvH E{R
参考文献 f-634KuP
第8章 薄膜光学常数的测量 Abi(1nXdQ
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 >_\[C?8
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 Zu<S<??Jf
8.3 薄膜波导法 #WJ*)$A@&
8.4 光学薄膜厚度的测试 EqGpo_
8.5 总结 0yv p>{;p
习题 AF8:bk,R
参考文献 .lq83;
k
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 S;y 4Z:!
9.1 薄膜的力学特性检测技术 $ 4}G
9.2 薄膜器件的环境试验 |fIyq}{7
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 c-v-U O%
9.4 总结 y=.bn!u}z
习题 u:f.; ?
参考文献 MTN*{ug2:
附录 }'fa f{W
附录A 复数与复数运算 3m 9 b
A.1 复数的概念 ^}{x).
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 V#5$J Xp
A.3 复数在物理中的运用 qGX#(,E9;
附录B 矩陈及矩陈运算 Z zjCS2U
B.1 矩陈的定义 4 R(m$!E!
B.2 矩陈运算 |2 %|=
附录C 光的电磁理论基础 OSc qf]H
C.1 振动与波 .ANR|G
C.2 电磁波 !%D';wQ,/
C.3 麦克斯韦方程 "<{|ni}
C.4 平面电磁波 rmo\UCD
C.5 平面电磁波性质 15 q^&l[Q
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 jd,i=P%
附录D 光的干涉 ZHa>8x;Mjl
D.1 波的叠加原理 Wy*+8~@A
D.2 杨氏干涉 |
oK 9o6m4
D.3 平板的表面干涉 ,lStT+ A
D.4 光的空间相干性和时间相干性 > <Zu +HX
附录E 光的偏振 uo J0wG.
E.1 自然光和偏振光 lixM 0
E.2 偏振光与Jones矩陈 aidQ,(PDj
E.3 偏振光的获得 wpN3-D
E.4 偏振光的检验
