现代光学薄膜技术 本书目录 K DTDJ8
第一篇 光学多层膜设计 W)4QOS &
第1章 光学薄膜特性的理论计算 2"&)W dm
1.1 单色平面电磁波 f*fE};
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 Cq\I''~8
1.3 光学薄膜特性的理论计算 Fn+ ?u
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 /k6fLn2;
习题 "b,%8
第2章 光学薄膜的设计理论 50n}my'2h
2.1 矢量作图法 33a uho
2.2 有效界面法 /3B6 Mtb
2.3 对称膜系的等效层 XvKFPr0~
2.4 导纳图解技术 YI@Fhr
&NU
习题 p]ivf
第3章 光学薄膜系统的设计 ln<]-)&C
3.1 减反射膜 8C7Z{@A&#
3.2 分束镜 s9j7Psd
3.3 高反射膜 *>."V5{;S
3.4 干涉截止滤光片 H%}IuHhN)
3.5 带通滤光片 ;t(f1rP yE
3.6 特殊膜系 (OmH~ lSO.
习题 YZE.@Rz
参考文献 H{(]9{
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 2R.2D'4)`
第4章 薄膜制备技术 `xz&Scil
4.1 真空淀积工艺 L*JPe"N -e
4.2 光学薄膜材料 I%lE;'x
4.3 薄膜厚度监控艺术 ,pt%)
c
4.4 膜层厚度的均匀性 c` G&KCw)d
习题 jH *)%n5,\
参考文献 k6**u
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 ^b-18 ~s
5.1 薄膜的形成过程 h(' )"
5.2 薄膜的微观结构 EKZVF`L
5.3 薄膜的成分 Z|* !y]We
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 vkcRm`.
5.5 薄膜微观结构和改善 n(vDytrj;
习题 *xs!5|n+
参考文献 v:|( 8Y
第三篇 光学薄膜检测技术 +R.N%_
第6章 薄膜透射率和反射率测量 Tg
?x3?kw
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 uTvv (f
6.2 薄膜反射率的测试 ofdZ1F
6.3 薄膜反射率的测量 {nMAm/kyj
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 BNu cc']
6.5 总结 LE=k
习题 ma& To=
参考文献 K%j&/T j1
第7章 薄膜的吸收和散射测量 buMq F-j
7.1 激光量热计基本原理 _GoVx=t
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 7;} l\VXHm
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 9NpD!A&64<
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 \%A%s*1
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 .dmi #%W
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 D'[Uc6
7.7 总结 Ufid%T'
习题 NgZUnh3{
参考文献 /Cr/RG:OX
第8章 薄膜光学常数的测量 s8gU7pT49
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 'm M jjG9
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 (ywo
a
8.3 薄膜波导法 6][1 <}8
8.4 光学薄膜厚度的测试 5g
;a c~g
8.5 总结 Iy7pt~DJ,
习题 MXvXVhCU
参考文献 >cR)?P/ o
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 ,?-\
x6
9.1 薄膜的力学特性检测技术 |M~ON=
9.2 薄膜器件的环境试验 2#5,MP ~r
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 "$^0%-
9.4 总结 4? (W%?
习题 z ; }6f
参考文献 C;rG]t^%
附录 @R2at
附录A 复数与复数运算 = (,
^du'
A.1 复数的概念 z3 ?\:Yz
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 uG J"!K
A.3 复数在物理中的运用 Iw=Sq8
附录B 矩陈及矩陈运算 @xWdO,#
B.1 矩陈的定义 edC 4BHE
B.2 矩陈运算 dZ(|uC!?
附录C 光的电磁理论基础 8 <#U9]
C.1 振动与波 ]<w:V` (
C.2 电磁波 GH 4iuPh]
C.3 麦克斯韦方程 {padD p
C.4 平面电磁波 rAqxTdF
C.5 平面电磁波性质 XSRdqU>Aun
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 +5p{5 q(o
附录D 光的干涉 P9Q2gVGAO{
D.1 波的叠加原理 DPHQ,dkp
D.2 杨氏干涉 Q5+_u/
D.3 平板的表面干涉
~= n#}{/
D.4 光的空间相干性和时间相干性 D &:yMp(
附录E 光的偏振 @e2}BhB2
E.1 自然光和偏振光 12 `_;[37
E.2 偏振光与Jones矩陈 \ZXLX'-
E.3 偏振光的获得 x8#ODu H
E.4 偏振光的检验
