现代光学薄膜技术 本书目录 I9VU,8~
第一篇 光学多层膜设计 ;r j|>
第1章 光学薄膜特性的理论计算 Mp-hNO}.Z
1.1 单色平面电磁波 9_Ws8nE
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 B!j 7vXM2
1.3 光学薄膜特性的理论计算 1#Q~aY
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 j 3t,Cx
习题 GS)4,.
第2章 光学薄膜的设计理论 XbaUmCuh
2.1 矢量作图法 <>71;%e;'
2.2 有效界面法 W ])Lc3X
2.3 对称膜系的等效层 k=&UV!J
2.4 导纳图解技术 BJ*8mKi h
习题
I?R?rW
第3章 光学薄膜系统的设计 pP|LSr Y!
3.1 减反射膜 =zsA@UM0
3.2 分束镜 gt \O
3.3 高反射膜 O'.sK pXe
3.4 干涉截止滤光片 nBg
tK
3.5 带通滤光片 2~B9 (|
3.6 特殊膜系 o=)[ "V
习题 B;Dl2k^L
参考文献 =6O<1<[y
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 - Cc2|~n
第4章 薄膜制备技术 NK!#K>AO
4.1 真空淀积工艺 T*1 `MIkv
4.2 光学薄膜材料 -qs
R,H
4.3 薄膜厚度监控艺术 +@mgb4_
4.4 膜层厚度的均匀性 q ]\GBRp
习题 Qz4n %|
参考文献 vxZ :l
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 bNh~=[E
5.1 薄膜的形成过程 ^&!iq K2o
5.2 薄膜的微观结构 \R|qXB $
5.3 薄膜的成分 d`sIgll&n
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 Oh W o
5.5 薄膜微观结构和改善 M{)| 9F
习题 kP[LS1}*
参考文献 LXq0hI
第三篇 光学薄膜检测技术 ^@f-N i\
第6章 薄膜透射率和反射率测量 j 21>\K!p
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 p%#=OtkC
6.2 薄膜反射率的测试 Sau?Y
6.3 薄膜反射率的测量 /VHQ!Wi
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 s $ZKd
6.5 总结 ;y]BXW&l&
习题 #-7m@EU;O
参考文献 J/>9w
第7章 薄膜的吸收和散射测量 5J2tR6u-(
7.1 激光量热计基本原理 !V27ln KP+
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 |_u|Td (n
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 :Oh*Q(>
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 #v\o @ArX
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 A|<i7QVY
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 N?l
7.7 总结 &pFP =|Pq
习题 bZCNW$C3l
参考文献 Z_ ( P^/
第8章 薄膜光学常数的测量 JWV n@)s
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 7*(K%e"U
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 z|v/h UrD
8.3 薄膜波导法 xz*MFoE
8.4 光学薄膜厚度的测试 >o4Ih ^VB
8.5 总结 q vGP$g
习题 owe6ge7m
参考文献 2B[I-
K s
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 0NMmN_Lr
9.1 薄膜的力学特性检测技术 r68d\N`.
9.2 薄膜器件的环境试验 L8~zQV $h
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 }~!K jFbs
9.4 总结 Psw<9[
习题 & d@N3y
参考文献 0I7 r{T
附录 8 fC 5O
附录A 复数与复数运算 gV;9lpZ 2
A.1 复数的概念 4=C7V,a
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 xF8 8'p'
A.3 复数在物理中的运用 KA{ JSi
附录B 矩陈及矩陈运算 l5<&pb#b
B.1 矩陈的定义 =q<t,U P8
B.2 矩陈运算 -m_H]<lWZ
附录C 光的电磁理论基础 wj-z;Y CV
C.1 振动与波 5uO.@0
C.2 电磁波 `s ~[q
C.3 麦克斯韦方程 ;6tGRh$b
C.4 平面电磁波 |`Q2K9'4bL
C.5 平面电磁波性质 I`S?2i2H
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 , A;wLI
附录D 光的干涉 [_1K1i"m
D.1 波的叠加原理 Z> _F:1x
D.2 杨氏干涉 eK =v<X
D.3 平板的表面干涉 H'x) [2
D.4 光的空间相干性和时间相干性 arb'.:[z^
附录E 光的偏振 [KNA5(Y0
E.1 自然光和偏振光 2<TpNGXM_
E.2 偏振光与Jones矩陈 `8b4P>';O'
E.3 偏振光的获得 p{w :^l(
E.4 偏振光的检验
