现代光学薄膜技术 本书目录 /'WIgP
第一篇 光学多层膜设计 *E 1 v
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ~K-_]*[x
1.1 单色平面电磁波 cUPC8k. 1
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 (;1Pgh
1.3 光学薄膜特性的理论计算 GT(nW|v
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 8Ug`2xS<_
习题 7$HN5T\!
第2章 光学薄膜的设计理论 0*umf .R
2.1 矢量作图法 X GhV?
tA
2.2 有效界面法 l;'#!hC)
2.3 对称膜系的等效层 szG 0?e
2.4 导纳图解技术 g#b uy
习题 *]]C.t-cd
第3章 光学薄膜系统的设计 /N?vVp
3.1 减反射膜 q(YFt* (;w
3.2 分束镜 @c{rqa
v
3.3 高反射膜 JAA{5@ ST
3.4 干涉截止滤光片 Qk_` IlSd
3.5 带通滤光片 @w]z"UCwV@
3.6 特殊膜系 @*}?4wU^k
习题 ^+)q@{\8Y
参考文献 Zv8I`/4?
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 3.vQ~Fvl
第4章 薄膜制备技术 `E4OgO
4.1 真空淀积工艺 NIasce e
4.2 光学薄膜材料 xw5LPz;B
4.3 薄膜厚度监控艺术 oY$L
4.4 膜层厚度的均匀性 ``j8T[ g
习题 7\e96+j|f
参考文献 g\O&gNq<)-
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 ^>H+#@R
5.1 薄膜的形成过程 eKj'[2G@/
5.2 薄膜的微观结构 4 8 | u{
5.3 薄膜的成分 +C F"Bm8@
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 gJv;{;%
5.5 薄膜微观结构和改善 KE
k]<b=
习题 lAcXi$ pF
参考文献 4X^{aIlshk
第三篇 光学薄膜检测技术 Ml Bw=Nr
第6章 薄膜透射率和反射率测量 v!b
8_0~u6
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 yxpDQ O~x
6.2 薄膜反射率的测试 ^3:y<{J
6.3 薄膜反射率的测量 (b }}'
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 $*Z Zh
6.5 总结 pHpHvSI
习题 OYC\+
=
参考文献 @uaf&my,P
第7章 薄膜的吸收和散射测量 1FO T
7.1 激光量热计基本原理 J|D$
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 [Q+qu>&HB7
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 iH#b"h{w
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 QxjX:O
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 S5$sB{\R
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 `A O<r
7.7 总结 :1O1I2 L0
习题 QV@NA@;XZ
参考文献 ]|y] ?7
第8章 薄膜光学常数的测量 |y*-)t
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 xQetAYP`
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 6uAo0+-k
8.3 薄膜波导法 0D*uZ,oBEw
8.4 光学薄膜厚度的测试 Qn*a#]p
8.5 总结 ; C+g)BW
习题 <\If:
参考文献 [3#A)# kWm
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 \f AL:mJ
9.1 薄膜的力学特性检测技术 1>!wm 0;x
9.2 薄膜器件的环境试验 s, 8a1o
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 <e : 2DB&
9.4 总结 RXj6L~vs5_
习题 3hr ODts
参考文献 UI,i 2<&
附录 W?B(Jsv
附录A 复数与复数运算 N%,! &\L
A.1 复数的概念 XazKS4(
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 ~GWn >
A.3 复数在物理中的运用 N {$'-[
附录B 矩陈及矩陈运算 guC7!P^
B.1 矩陈的定义 d5x>kO'[l
B.2 矩陈运算 U W%.G
附录C 光的电磁理论基础 )38M~/ ^l
C.1 振动与波 -p:X]Ov
C.2 电磁波 #''q :^EQ
C.3 麦克斯韦方程 L,XWX8
C.4 平面电磁波 j9=QOq
C.5 平面电磁波性质 x\
pC&
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 nv9kl Q@
附录D 光的干涉 c<8RRYs
D.1 波的叠加原理
*vss
D.2 杨氏干涉 o~*5FN}%+l
D.3 平板的表面干涉 $6c8<!B_
D.4 光的空间相干性和时间相干性 Z{|U!tn
附录E 光的偏振 BK_x5mGu3
E.1 自然光和偏振光 cN{-&\
6L
E.2 偏振光与Jones矩陈 *1Lkde@|{
E.3 偏振光的获得 qQ_o>+3VAy
E.4 偏振光的检验
