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光学测量>显微镜 ?5^DQ|Hg ^ ``@e7~F{ d+5v[x~' ;!7M<T$& 亮点 FF7?|V!Q ,Ij/
^EC} gR_Exs'K ELg$tc 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 -6X+:r`>u 数秒内快速的高性能分析复杂系统 kbbHa_;aqV 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 !/!Fc'A 研究偏振效应 x^cJ~e2 bweAmSs 说明:光源 >svx
8CT 角向偏振光 x2/ciC
8o).q}>& 6\VZ6oS ,% .)mf o3NB3@uj< Jp_ :.4 径向偏振光 ?iamo.0zN \JCpwNT{P nQg_1+ |@f\[v9` 说明:透镜系统 g:6`1C M6V^ur 1 *D`$oK,U ; 3sjTqD 说明:样品结构 C}pQFL{B5 a1Q W0d F[)tg#}@G F ^m;xy 说明:探测器 ZXIz.GFy+ TQ%F\@" t8.3 8.7lc2aX 结果:3D光线追迹 M=4b qd~9uo&[Ig Q~rE+?n9F ?V(+Cc 结果:光线追迹 WZP1g kX&M HXPq+ 角向偏振光 ZG~d<kM&8s Ht]O:io` yb0Mn*X+
N |8)\8b|VuC 结果:光线追迹衍射级 a6;5mx hrXk 7}9 角向偏振光 K `A8N {M\n 58eO|c( 1xO-tIp/ 结果:场追迹 7?);wh 7` 角向偏振光 K<5 0>uG ,pVe@ d' Mz\l
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