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光学测量>显微镜 h-Y>>l>PW0 =D0d+b6 % S"z9@ ]r!|@AWrQ\ 亮点
Y*pXbztP %CnVK1u! jFg19C{=X >{(c\oMD 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 q p}2 数秒内快速的高性能分析复杂系统 1P*GIt2L 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 }R}M>^(R4 研究偏振效应 `+(n+QS _ ea @
H 说明:光源 aC=2v7* 角向偏振光 PW%ith1)< !wE% <Fh ORKJy)*" :9L}jz yj'lHC jtfC3E,U 径向偏振光 `K0.6i [p ]U~{?K'g@j yn+m,K/ jqvw<+# 说明:透镜系统 nm\f$K>Pg !7~4`D
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?~n6< [7x;H 说明:探测器 #p;<X|Hc}8 aBQ --Sz ,0HID:& ()8=U_BFz 结果:3D光线追迹 ;7E"@b,tPN WSeiW B^/Cx Q ijO%) 结果:光线追迹 ~FI} [6Dd s$9ow<oi] 角向偏振光 \QSD* S]T71W<i }Dcpe M? /^{Q(R(X< 结果:光线追迹衍射级 b;;y|H N0D5N(kH% 角向偏振光 ZA_~o#0% wU]8hkl? nf_(_O= +LWgby4q 结果:场追迹 j _E(h. 角向偏振光 >4>.
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