-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2024-05-30
- 在线时间1273小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
构建具有渐变折射率（GRIN）透镜的成像系统，并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 rX-V0
U0PQ[Y#\ 关于此用例 8N8N)#A[ • 需要以下工具箱 ;U02V guC - 基本工具箱 Y] ZNAR • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35） 'k ?%39 • 在此处获得免费试用版 \,b@^W6e> 此用例展示了… )9.i'{{ 0 • 如何构建GRIN透镜 t dl Y • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 'D B4po. u0)~Im,X  B-@ ]+W GRIN透镜的构建 u EK9 s C/5N  kFJ sB,2-
b R6g^Yf GRIN透镜：GRIN介质 ]Tb ?k+a X/5\L.g2  3( Y#*f|
 [%8t~zg !yo/ F& 6 系统设置：探测器和连接 MS Ml · 探测器说明： 8o p,;Z7Y − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 :|GC~JElo5 @dy<=bh~  L=7 U#Q/DE F)W7,^=X>- 仿真结果：光线追迹分析 dKOW5\H' .3{PgrZ  ]/ o0p 仿真结果：场追迹分析 Ac0^` i|@l UXBp
 =`8 % qh 系统设置：寻找像面 #hA] r. V! s T2
 xHA6
RjII(4Et 仿真结果：光线分析和场追迹分析 n^svRM]eQ 1@ e22\  Q\P?[i] y%y F34
|
