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VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
5uJ{#Zd ?{bAyh/ Q x]zz4jD kpU-//lk+ 任务描述 h+!
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k.dQ;v} *z{.9z` VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 'J=knjAT
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g\n0v~T+ s,2gd' VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 B,]:<1l~
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Fm3f/]>k#_ U $ bLt 可编程参数运行 ~1`ZPLVG
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D]h~\ YV 5kzq 可编程参数运行选项 R>YDn|cWI
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5jYZ+OB <X{hW^??) 分布类型 p7YfOUo
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<g^!xX<r? Q;3v ]h_ 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
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b)eKa40Z 96&Y 光栅公差 5>e3srKu fy(i<L
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最低效率的级次效率 zz4.gkU
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P9RIX;A= (M5{y`Kk 随机分布类型 N`DLIv8i;
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