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  • 中科飞测“光束处理装置及光学检测设备”专利公布

    作者:佚名 来源:国家知识产权局 时间:2024-02-24 17:55 阅读:251 [投稿]
    本实用新型涉及光束处理装置及光学检测设备。光束处理装置,包括:壳体,壳体具有内腔;多个光学模块,光学模块包括元件座和光学元件,元件座固定在壳体上,光学元件设于元件座上并位于内腔中。

    据国家知识产权局公告,中科飞测新获得一项实用新型专利授权,专利名为“光束处理装置及光学检测设备”,专利申请号为CN202321700573.6,授权日为2024年2月23日。

    专利摘要:本实用新型涉及光束处理装置及光学检测设备。光束处理装置,包括:壳体,壳体具有内腔;多个光学模块,光学模块包括元件座和光学元件,元件座固定在壳体上,光学元件设于元件座上并位于内腔中;至少一个光学模块靠近内腔的腔壁布置,靠近腔壁布置的光学模块的元件座包括调节结构,调节结构用于调节光学元件的位置,调节结构具有操控部,操控部的至少部分位于壳体外部;以及至少一处吹气部件,吹气部件包括吹气管路,吹气管路具有进气端和吹气端,吹气端固定在靠近腔壁布置的光学模块的元件座上,吹气端用于向光学元件吹气,进气端用于连通壳体外部的气源。本实用新型主要解决光束处理装置的光学元件容易被污染的问题。


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