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  • CODE V中的公差分析

    作者:佚名 来源:光行天下技术社区会员分享 时间:2016-07-18 11:25 阅读:6035 [投稿]
    Code V公差分析的选项在Analysis>Tolerancing的菜单中,这个菜单可以使你选择Code V中各式各样的方法来计算加工和装配误差对系统性能造成的影响。

    从结果可以看出:公差变得十分宽松,厚度的公差允许量变为公差的上极限0.5mm。#号表示半径的公差造成的调整量已经达到或超过调整量的极限,调整量的缺省值为所选择公差参数缺省值的20倍(即20*0.025=0.5mm)。实际系统的调整量都有各自的极限值,这个调整量通常由设计人员根据结构安排、体积等因素来确定。我们重新进行公差分析,将调整量变为3mm,CMP DLZ SI 3.0;TOR;INV 0.01;ROU N;GO,结果如图4:

     

    图4 Defocus为3mm时的结果

    结果给出了RMS波像差改变0.01waves时的半径公差,注意TOR确定的公差结果是针对于性能下降最厉害的视场或变焦距位置,也就是说TOR可以对于每一个视场或变焦距位置都能正确地计算每一个被设计人员设置的公差。

    强调一点,实际加工制造系统的过程是一个循环往复的过程,所以我们应该选择TOR分析的Rounding按钮,这在Code V中也设为了缺省值。选择Rounding进行误差分析的结果如图5:

     

    图5 选择Rounding进行误差分析的结果

    Code V不仅提供了每一个公差造成系统性能变化的灵敏度信息,而且还给出了系统整体性能的概括信息,如图6:

     

    图6 系统整体性能变化情况

    图6中的信息为加工得到的系统有98%可能性能不大于RMS波像差0.4489waves。另外还有更为详细的图表形式表示某一性能下系统的概率分布,在这里就不在详述。

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