切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 3100阅读
    • 4回复

    [求助]晶体震荡片和光控片的一点问题 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线shenbin
     
    发帖
    122
    光币
    137
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2010-02-19
    我在镀膜的时候发现了点问题:用光控片 控制度固定厚度的薄膜,突然发现N变大的同时 水晶厚度也在边大。。有人知道这个是为什么吗?
     
    分享到
    离线shenbin
    发帖
    122
    光币
    137
    光券
    0
    只看该作者 1楼 发表于: 2010-02-20
    求帮助!
    离线yzhuang
    发帖
    333
    光币
    3197
    光券
    0
    只看该作者 2楼 发表于: 2010-03-21
    光学厚度=物理厚度X折射率,如果N变大了,同样的光学厚度下,物理厚度应该更小,而晶控所测定的实际上是质量,通过质量X密度来标定物理厚度,N变大了,密度也会变大,所有结果会有差异
    [ 此帖被yzhuang在2010-03-21 11:15重新编辑 ]
    离线shenbin
    发帖
    122
    光币
    137
    光券
    0
    只看该作者 3楼 发表于: 2010-03-22
    那么要想知道他实际的厚度 我应该看光控上的数据吗?
    离线27676995
    发帖
    49
    光币
    33
    光券
    0
    只看该作者 4楼 发表于: 2010-04-24
    luguo  wo cai