[分享]SPEOS应用：将Rayfile光源转换为面光源 [复制链接]

本文将讲述如何rayfile转换为面光源，Rayfile光源文件包含有限数量的光线，表面光源有无限量的光线，这使得表面源对于使用逆模拟，得到清晰可视化仿真特别有用。 F8.Fp[_tM  
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表面光源均匀地从几何形状表面的每个点发射光，这种简单的方法可以在没有指定光源的早期开发阶段使用。 BoXQBcG]w  
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高阶段的表面光源通过使用从rayfile文件光源获取光信息，更准确的以模拟面光源代替rayfile光源，打破rayfile光源内有限光线数对仿真的限制。 hK?uGt d?  
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下面将在本文中介绍这种转换方法: q8`JRmt)H  
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步骤1:用一个初步的模拟获取rayfile(s)光源属性。 MYDAS-  
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步骤2:使用先前获取的属性文件再创建表面源。 58{6kJ@  
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当然为了创建一个表面光源，需要4个元素，获取这些元素数据，可以确保表面光源在近场和远场的正确建模： zN0^FXGD  
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Flux光通量：在数据表中查找，或通过初步模拟获取。 wYPJji D  
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Exitance：一般是常数，或通过初步模拟以辐照度探测器获取XMP文件。 ["kk.*&  
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Intensity：数学定义，或通过初步模拟用强度探测器获取XMP文件。 X*/jna"*  
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Spectrum：在数据表中查找，或通过初步模拟获取。 Y 8EL  
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步骤 <%Bsb}h,  
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步骤1:用一个初步的模拟获取rayfile(s)属性 ]`b/_LJN$F  

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创建辐Irradiance照度探测器，在LED最后可见表面前面距离处(例如0.1 mm)创建一个辐照度探测器。 +'
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`,3;#.[D  
g kT`C
  
对于可见波长，“type”应设置为photometric。 D<$,v(-  
M|w;7P}  
对于UV/IR波长，“type”应设置为radiometric。 4 bw8^  
@Xts}(L  
nRzD[3I  
创建Intensity强度探测器，在与辐照度探测器相同的位置创建一个强度探测器。强度探测器“方向”应以90°为起始角的Conoscopic，要获取波长信息以表现光源的打光颜色，“type”应设置为spetral。调整波长设置，以包括所需的波长范围和采样，更高分辨率的采样将得到更准确的转换。 D37N*9}  
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运行direct模拟，使用LED的rayfile光源和创建的两个探测器运行直接模拟。模拟的最小光线数应该是rayfile文件中包含的光线数。 *VG#SK  
+
mIO*UQi  
当然根据设计的复杂程度，可能需要大量的光线来精确模拟输出，这样就采用对每个rayfile光线文件重复利用，例如在每个芯片位置的rayfile光源重复三次，这样以便减少rayfile光源对仿真光线数的限制。 |@`F!bnLr  
&!SdO<agZ  
步骤2:使用先前获取的属性创建表面光源。 @G@,)`p4?  
^~'tQ}]!"  
使用辐照度和强度结果作为输入创建一个表面光源。这两个输出的XMP结果可以从“SPEOS output files”文件夹中抓取。 )"`(+Ku&c  
MqDz cB]  
1. Exitance <
b.
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将variable设置为“True”，并选择辐照度结果作为文件。“原点”和“X/Y方向”应与原始仿真中的探测器设置相同。 G>&Tap>  
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2. Intensity d}2tqPya  
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设置强度类型为“Library”，并选择强度结果作为强度文件。“原点”和“X/Y方向”应与原始仿真中的探测器设置相同。  >\6T
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c>!zJAB  
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3. Spectrum Wn6~x2LaV  
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如果在第一步获取rayfile属性的仿真中，强度探测器类型未设置为“colormetric”或“spectral”，则需要在面光源定义中添加光谱文件，这个频谱文件必须从LED的数据中获取，或者是官方网站下载。 f3El9[  
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如果在第一步获取rayfile属性的仿真中，强度探测器类型已经设置为“colormetric”或“spectral”，光谱数据已经包含在Intensity中，此时无需再次定义光谱数据。 a|?&  
k<(G)7'gm  
4. 完成rayfile光源到表面光源的定义转化。 o b;
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拓展应用 @-ps[b`z  
B?n 6o|8  
对于多个光源的定义，可以使用Speos Pattern将创建的光源导入到一组坐标系统中，一次完成对所有光源位置的定义。本文中的表面光源首先需要导出为Speos lightbox，以便在Speos pattern功能中使用。 &.^(,pt  
Se~<Vpo  
当然可以创建lightfield光场光源，以创建子光学系统的光传输结果，以便在更复杂的光学系统中重复使用子光学系统的结果，以便在计算模拟时减少计算时间。 *9Ta0e*  
k@:M#?(F