摘要
gZUy0`E $S}x'F!4_ 通常可以采用瑞利判据理论表征
显微镜的
分辨率,瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为,当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时,就可以分辨它们。在这个例子中,我们根据瑞利的理论,检验不同数值
孔径(NA)显微
物镜的分辨率。
@ih}x \}=b/FL=U 建模任务
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系统 ^^SfIK?p - 从Zemax导入
光学系统 [用例]
*"\Q ~#W 分析实际透镜系统的
成像性能
1}E@lOc - 分析高NA物镜聚焦 [用例]
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Dj+Osh - Debey-Wolf积分计算器 [用例]
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