[技术]Shack Hartmann传感器的模拟 [复制链接]

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对于电磁场的全面表征，不仅是能量密度的信息，而且是相位的信息都具有关键价值。虽然在模拟中我们可以直接从数字数据中计算出这些信息，但在真实的实验室中，则需要更复杂的方法。测量这种信息的常见工具是Shack Hartmann传感器，它使用微透镜阵列（MLA），通过焦平面上相应光点的位移来重建一个入射场的波前。为了研究这类设备，我们演示了Shack Hartmann传感器的模拟，以不同的波前作为输入。 y[ZVi5) ,  
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任务描述 <m/XGFc  
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a) 平面波 ):\+%v^  
- 波长640nm t>P[Yld"  
- 与原点的距离无限大 woa|h"T  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) =om<*\vsO  
b) 倾斜的平面波 F. I\?b  
- 波长640nm BCO (,k  
    - 2.5°倾斜 _yp<#q]  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) ~7gFddi=i  
c) 弱球面波 ?rY+,nQP  
- 波长640nm Yfx?3  
- 与原点的距离为100毫米 .pG`/[*a  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) JQ
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d) 强球面波 ^fV-m&F)K*  
- 波长640nm FE1'MUT_  
- 与原点的距离为40毫米 =QIu3%&  
- 2毫米×2毫米直径(长方形) I+QM":2  
微透镜阵列 w\M"9T  
- 材料：N-BK7 #\ECQF  
- 凸面-凸面 c_t7<  
- 曲率半径：5毫米 3e>U(ES  
- 200 μm × 200 μm 透镜尺寸（长方形） `a[ V_4wO  
- 5×5个微透镜 H vHy{S4  
    探测器 ~Rx`:kQ  
- 输入场的波前 J3XG?' }  
- 理想平面波聚焦面的电磁场的能量密度 {N << JX  
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系统构件 - 组件 nt@uVwfQ  
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微透镜阵列组件允许轻松定义任意形状的微透镜阵列。材料和尺寸通过 Solid选项卡定义，而微透镜的表面形状则使用堆栈概念进行配置，并可通过单独的Surface Add-Ons选项卡访问。 ltyhYPS  
    该组件可以通过整个结构或单个微透镜进行模拟。 /z(d!0_q|v  
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系统构件 – 探测器 'J)9#  
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Camera Detector能够计算出系统中任何一点的电磁场的能量密度。Electromagnetic Field Detector计算出纯的、复值的场数据。如果用户希望看到这些信息，它还可以计算和提取所述场的波前。 1d$wP$  
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     @V&HE:P  
总结 - 组件... *q;83\  
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仿真结果 E>:#{%  
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光线和场模拟的第一印象 "yl6WG#J  
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MLA前的波前 9Z"WV5o