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FRED能够提供用户有关通过光机系统任意鬼像和散射路径的详细情况。我们简单地设置光学和机械的物理属性 (涂层、材料、散射模型等),设置一个合适的光源,并且让FRED记录下在光线追迹时系统所有唯一的路径。当光线追迹完成时,我们可以对光线追迹的路径进行后期处理,来提取出与我们系统相关的路径。 +nYFLe qTsy'y;Z 然而,假设我们对于表征一个光学系统中的初级鬼像路径很感兴趣,或者我们的系统没有完全的开发或改进,来保证一个长的多阶次的杂散光分析。本文介绍了一个脚本,可以在一个导入的序列设计中对初级鬼像路径进行自动分析。我们首先来讨论合理地设置分析中导入的序列文件的过程,然后讨论脚本的运行以及执行分析的过程。 U1\7Hcs$ +kSu{Tc 指定表面涂层性质 p2vN=[g9) :So<N}& 分析的要点是找出多少功率(以及功率的分布)到达了我们的焦平面,这是由在我们的透镜表面之间的镜面系列的现象产生的,这些都不是“设计”路径。举个例子,我们第一个透镜元件内的内部反弹可能会到达探测器,我们希望可以量化它的贡献。 =p5DT s.J4&2Q 为了产生鬼像路径,我们的透镜需要有涂层覆盖,这可以让入射能量的一些部分以反射和透射的方式传播。默认情况下,导入的透镜表面具有100%透射涂层,将没有任何鬼像产生。我们可以浏览透镜的每一个光学表面,然后给每个表面应用一个非理想的涂层模型,不过FRED确实提供了一个界面,使得这一过程变得不那么单调乏味。点击Menu > Edit > Edit/View Multiple Surfaces,该界面提供了一个技巧,可以非常简单的完成多表面性质赋予作业。 ,54z9F` "O34 E?ql. 我们将使用该界面以默认的“Standard Coating”替换所有我们的透射表面,该“Standard Coating”允许96%的功率透射和4%的功率反射,默认的“Allow All”光线追迹控制允许光线在一个界面分成反射和透射两个组分。在按下您键盘上的“Ctrl”键的同时,选择表格中具有“Transmit”涂层的行。 +,e#uuj$p $/wm k7T 2`o
@L 现在我们已经选中了我们希望修改的行,使用对话框中的“Modify All Highlighted Spreadsheet Rows”区域,来替换我们想要的属性。在这种情况下,选择属性类型“Coating”下拉列表,从可用的属性下拉列表中选择“Standard Coating”,然后点击“Replace”按钮。 X^\D"fmE. 'ZbWr*bo 3h7RQ:lUi bRAD_ 指定表面光线追迹控制性质 gAAC>{Wh }g bLWx'iG 对于Raytrace Control重复这一过程,使用Allow All属性。 fyQOF ItM tZ_'>7) Q-7?'\h *5)UIRd 一旦您已经替换了选定表面的Coating和Raytrace Control,您可以点击OK按钮提交更改,返回到文件中,关闭Edit/View Multiple Surfaces对话框。 VN`.*B|9[ 3FBL CD3 设置光源 'Lu<2=a~ EI_-5Tt RD 结构属性现在将支持二阶鬼像在透镜元件内产生,现在我们应该设置我们的光源。注意到按照您的设计文件的规格,FRED创建了多个视场光源,但是我们将在轴上视场执行我们的分析。展开您的光源文件夹,选择树形文件夹中的视场光源1-5,点击鼠标右键,切换为“Make All NOT Traceable”选项,将这些光源关闭。 h;V4|jM PaCCUF hRf
l\Q[ 当追迹不相干的光源时,一个非常好的办法是移除 “网格化”的光源。在Field Position 0光源上双击,打开它的对话框,然后移动到Positions/Directions标签上。注意到Ray Positions设置为“Grid Plane”。 wJC[[_"3 I ~ZKJ:&f |