时间地点:
7bctx_W&6 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司;苏州黉论教育咨询有限公司
CW.&Y?>Tv 授课时间:2023年11月27(一)-29日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00
}9{dR4hD 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
M' &J_g 课程讲师:讯技光电高级工程师
,O$Z,J4VL 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
_cW_u?0X: 课程简介:
^`l"'6 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该
望远镜系统仿真。
suA+8}o] 课程大纲:
6"BtfQ") 1. 杂散光介绍与术语 m\<<oIlH 1.1 杂散光路径
q>Q:X3
1.2 关键面和
照明面
8:Z@ lp^ 1.3杂光内部和外部杂散光
ck(CA(_ 2. 基本辐射度量学-辐射 ;n%]*v 2.1 BSDF及其散射模型
qzuQq94k 2.2 TIS总散射概念
*54>iO-
c 2.3 PST(点源透射比)
17J} uXA 3. 杂散光分析中的光线追迹 ~5lKL5w @N,:x\
3.1 FRED软件光线追迹介绍
f$:7A0 3.2构建杂散光模型
|pfhrwJp 定义光学和机械几何
6a "VCE] 定义光学属性
OpW eW 3.3 光线追迹
X=rc3~}f 使用光线追迹来量化收敛速度
y0/WA4, 重点采样
AZh@t?) 反向光线追迹
CQ@#::'F1 控制光线Ancestry以增加收敛速度
#E-
VW 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
<C7M";54- 使用GPU来进行追迹
1Z^`l6|2 RAM内存使用设置
?b!CV
4.散射模型 bBkm]
> 4.1来自表面粗糙的散射
!!?+M @ 低频、中频、高频
.`oJcJ RMS粗糙度与BSDF的关系
4+ASwN9 由PSD推导BSDF
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