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光行天下 -> 光学薄膜设计,工艺与设备 -> 镀AR出现的问题,大神们求指点。 [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

囊中蓄乾坤 2017-06-20 01:51

镀AR出现的问题,大神们求指点。

图一:同一伞从上到下的反射数据。不知道主要问题在哪里? #r)c@?T@j  
   谢谢各位!! "n@=.x  
  图二:是与图二同一台机镀的另外一个工艺(除膜厚外,其他条件是一样的)的反射数据。 $ p{Q]|ww  
-xf=dzm)  
[attachment=77631] N~ XzgI  
        图一是7层  LHLHLHL       H4\SIO2      Nl1v*9_x  
XA:v:JFS  
[attachment=77633]  /z+}xRS  
      图二是 5层   LHLHL             H4\SIO2   dKyX70Zy9  
Si]8*>}-B  
;dYpdy  
? <slB>8  
ysc212 2017-06-20 09:34
均匀性问题,建议使用修正板 ~Hs a6F&F  
囊中蓄乾坤 2017-06-22 06:41
ysc212:均匀性问题,建议使用修正板 5>JrTO 5  
 (2017-06-20 09:34)  >t O(S  
$q{-)=-BXQ  
恩   但是第二张图只是膜厚层数不同,差异就没有第一个大。是不是第一个膜系里面有些敏感层。谢谢回复。
yzhuang 2017-06-27 11:20
个人感觉是膜层敏感度的原因,特别是光控进行镀膜时更容易发生这种现象
囊中蓄乾坤 2017-06-29 02:51
yzhuang:个人感觉是膜层敏感度的原因,特别是光控进行镀膜时更容易发生这种现象 (2017-06-27 11:20)  kf>oZ*/  
noC ]&4b  
我用的晶控,同样的修正版 膜料 镀出来的差异太大了,SIO2  H4是同一个修正板。
fly6947 2017-06-29 08:46
e-ILUzT  
我建议你做一下图一的重复性,如果每炉差,但是情况不一样,那么是你的敏感层是H4,要么膜系结构优化一下,(图2是单峰结构,敏感度没那么高)要么控制H4的预熔与充氧量; t0d1? ?G  
Oj6-  
如果每炉都这样,那肯定是均匀性没做好,有条件的话  高低折射率的mask单独修一下; I1S*=^Z_U  
0p :FAvvNI  
另外,SIO2的分布比一般的氧化物要差一点,可以选好一点的SIO2 9H$#c_zrq  
Tf) qd\  
johnyu 2017-07-03 17:36
這很清楚的。 <T+)~&g$  
J1T_wA_  
若與圖一使用之MASK為同支, _$]3&P  
(PE x<r1   
圖二看起來均勻性OK,即表示MASK為好的。 nxkbI:+t  
>}%  
至於圖一為什麼會這樣? 我認為是敏感層問題(薄層) ;"$Wfy  
) RS*MEgA  
若想重複確認,可以鍍單一材料來看看他的5Q,答案即可得知。
lzh123 2017-07-08 18:04
均匀性的问题。。。。。影响均匀性的素较多
囊中蓄乾坤 2017-07-10 00:43
fly6947:我建议你做一下图一的重复性,如果每炉差,但是情况不一样,那么是你的敏感层是H4,要么膜系结构优化一下,(图2是单峰结构,敏感度没那么高)要么控制H4的预熔与充氧量; yNCd} 4Ym5  
如果每炉都这样,那肯定是均匀性没做好,有条件的话  高低折射率的mask单独修一下; X5@+M!`  
....... (2017-06-29 08:46)  {o1 vv+i  
4eH:eCZze  
好的   ,谢谢指导。我回头试试。
囊中蓄乾坤 2017-07-10 00:44
johnyu:這很清楚的。 X1DE   
若與圖一使用之MASK為同支, ^IQtXae6M  
圖二看起來均勻性OK,即表示MASK為好的。 Fnqj^5  
....... (2017-07-03 17:36)  |D*a"*1+A  
gXJtk;  
好的   ,谢谢指导。我也觉得单层有薄层敏感度高的。很均匀的差别。
囊中蓄乾坤 2017-07-10 00:44
lzh123:均匀性的问题。。。。。影响均匀性的素较多 (2017-07-08 18:04)  <) cJz  
\B4f5 L8k  
好的   ,谢谢指导。我再试试看
囊中蓄乾坤 2017-07-10 04:49
fly6947:我建议你做一下图一的重复性,如果每炉差,但是情况不一样,那么是你的敏感层是H4,要么膜系结构优化一下,(图2是单峰结构,敏感度没那么高)要么控制H4的预熔与充氧量; O]XgA0]  
如果每炉都这样,那肯定是均匀性没做好,有条件的话  高低折射率的mask单独修一下; ^S`N\X  
....... (2017-06-29 08:46)  "#:h#uRUb  
_Tf %<E  
H4  和SIO2用的是用一个。单层和膜系里单层肯定还是有些差异。敏感层是只有几个NM。因为反射要求1.0下。
奔跑的小骏马 2017-07-10 18:16
个人觉得,先去看看你设计的膜系里边有没有特别薄的层,然后该层的蒸发速率有多大,两者之间匹配是否合理,就好比H4总膜厚5nm,然后速率设置的为5A/s,那就是说10s就可以镀完了,在镀膜过程中有一个过冲值,就是挡板收到指令关闭与完全关闭有大概2S的延迟,也就是说这两秒钟还有膜料在蒸镀,这样就会对特性造成很大的影响。第二个就是看一下镀膜过程中光板的位置是否变动较大,导致内外圈差异较大。再或者就是镀膜过程中是否出现镀膜异常。还有就是你的伞罩有没有变形,每次取的测试片是否为同一位置,伞罩变形的话每次取不同位置的镜片特性自然不一样。
ouyuu 2017-08-21 17:47
敏感层的话,可以降低蒸发速率,增加镀膜伞的转速。最好是在设计上解决。 ]DUmp6  
一般如果有镀膜伞转5周以内就结束的层,就不是好的设计。
囊中蓄乾坤 2017-08-26 19:54
谢谢各位分析!
suninrain 2017-09-14 00:04
H4有连续使用吗?或者馅料,打坑过深影响蒸发角度所致
ouyuu 2017-09-14 10:25
SiO2和H4光斑都不一样,蒸发曲线有差异,修正板形状肯定不一样。 29nMm>P.e  
建议你重新确认下单层。 bZ#KfR  
]5Q)mWF  
敏感层上把伞架转速增加,如果可以同时把蒸发速率降低。 {`Z= LLL  
然后再看看。
囊中蓄乾坤 2017-09-17 10:03
奔跑的小骏马:个人觉得,先去看看你设计的膜系里边有没有特别薄的层,然后该层的蒸发速率有多大,两者之间匹配是否合理,就好比H4总膜厚5nm,然后速率设置的为5A/s,那就是说10s就可以镀完了,在镀膜过程中有一个过冲值,就是挡板收到指令关闭与完全关闭有大概2S的延迟,也就是说这两秒钟还有膜 .. (2017-07-10 18:16)  _QtW)\)5 \  
]E*xn  
这个膜后少的都是用2.0 或3.0.
囊中蓄乾坤 2017-09-17 10:05
suninrain:H4有连续使用吗?或者馅料,打坑过深影响蒸发角度所致 (2017-09-14 00:04)  jYh.$g<`0+  
3H5<w4yk  
这个有可能是一个锅,有小坑不是很深,这个可能大一点。
opticsrain 2019-04-13 18:44
有时候层数不一样最佳修正板形状也不一样。 最薄的层是2nm 3nm吗?这个是不是太薄了,膜表面的粗糙度都比这个大吧。感觉会大大增加镀膜误差。
dede 2019-10-14 15:01
好文!
wflney 2019-12-29 23:01
敏感层导致的
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