| 谈谈光电子 |
2016-05-29 17:06 |
荧光寿命测试仪
荧光寿命测试仪（Quantaurus—Tau） sK hX0,s&
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Quantaurus-Tau是一套测试ps至ms量级荧光寿命的系统。它的操作十分简单，只需将样品放入样品腔，在软件中输入几个测试条件即可很快得到荧光寿命及光致发光光谱。一般典型实验可在60秒内得到分析结果，最高时间分辨率可达30-50ps. ! 2WRxM
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应用领域 zrjqB3R4@O
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荧光寿命测试有着非常广的应用范围。典型应用包括研究有机金属化合物分子内或分子间的电荷运动机能量转移，以及在有机电子发光器件开发中材料的荧光及磷光寿命测试，荧光蛋白中的FRET（荧光共振能量转移）以及太阳能电池及LED行业中的半导体化合物的测试。 3&!X8Lhv
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参数 T?W`g> yM
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波长范围 300-800nm（标准型）、380-1030（近红外型） >3
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激发光源 7个波长LED光源（280nm, 340nm, 365nm, 405nm, 470nm, 590nm或 Y@._dl iM
630nm） ^$aj,*Aj~
激发光源选择 软件控制 B*A{@)_
单色仪 Czerny-Turner型单色仪 _r8.I9|
测量时间范围 2.5 ns – 50 us F>,kKR-
磷光测试 50 us – 50 ms d-g&TSGd
偏振光测试 磷光激发波长（280nm, 340nm, 370nm, 405nm, 445nm, 470, 590nm或 4r!8_$fN?G
630nm），支持紫外测试（选配：A11552-02） dm1W C:b
时间轴通道数 512ch，1024ch，2048ch，4096ch o'@VDGS`
整体时间分辨率 <1ns（IRF FWHM）解卷积后100ps YLSp$d4 y
分析功能 荧光寿命分析及光谱分析 k#T onT
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特性 Hq h
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利用单光子计数技术实现高灵敏度，高速度的测试 `d, hP"jBc
时间分辨率优于50ps Vd[ [<
可以测试低温液体样品（-196℃） k 41lw^Jh
荧光各向异性时间分辨测试 3k;*xjv6@
荧光至磷光寿命测试 /i|T \
集成化设计，简便化操作，性能稳定 <;:M:{RZY
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产品原理 >h/J{T(P>h
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从有机材料或荧光探针中得到的荧光光谱（峰值波长及荧光强度等）是控制和评估材料的功能及特性的重要参数。然而，荧光光谱通常显示的是时间积分的结果，因此，当材料包含多种物质及活性元素时，这些物质及元素的荧光光谱只能以累积的形式表现出来。在这种情况下进行分析的一个有效手段是通过使用时间轴参数来观察发光的动态信息。这种方法通常也被称为荧光寿命测试，其中物质被脉冲光源激发并回到基态的过程可以在ps至ms的时间尺度内进行测试，这样甚至可以得到在相同波长及浓度下的多个不同的荧光寿命。 Q>u$tLX&
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