X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。

技术参数

波长范围 ?st}rJ_	5-20 j AoI`J	10-60 j^Qk\(^#IV	25-80 _;x`6LM
光源距离（m） 1A(f_ 0,.Q	oN83`Z	0.4-0.6 OvC@E]/+	0.5-1.5 bQ?Vh@j(M
平场尺寸（mm） BVv-1$ U^	25.4 N>s3tGh	50 SRHD"r^@	50 &RS)U72
色散(nm/mm) -e51/lhpd	0.5-0.7 cy8r}wD	0.7-1.1 Efd@\m:~>	0.9-1.3 /lHs]) ,
光谱分辨率（nm） iF:NDqc	0.06 q`\|E9	0.09 j9%vw.3b	0.11 5P('SFq'=
.(Z^[C}	K(NP%:	/HSg)	*MWI`=c
升级波长范围 obX2/	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) xnZ
探测器选择 zs-,Y@ZL	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 .?F`H[^)^u
光栅台 +b dnTV6	电控 } f!wQxb
工作环境 &4p~i Z	<10-6mbar >ZAn2s
操作性 X=k\|SayE8	极易安装使用，用户自己即可安装使用 :r_/mzR#

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技术优势介绍：
光源可以直接成像/超强信号采集能力
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。

-平场成像技术
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率

紧凑/模块化
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）

结实耐用无需准直
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降

- 定制化
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等

典型客户：

< >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) v1s0kdR,>
< >Los Alamos ca$K)=cDW
Max Planck Institute

详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn，或致电021-60450828

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