X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。

技术参数

波长范围 z0OxJe	5-20 yM~bUmSg	10-60 MqJ5\|C.q	25-80 sQe GT)/\|
光源距离（m） z;!"i~fFK	#*:^\z_Jd	0.4-0.6 g(Q1d-L4e	0.5-1.5 <Se9aD
平场尺寸（mm） z$WLx	25.4 {`Gd	50 J>5rkR@/	50 5C&*PJ~WA
色散(nm/mm) i[@13kr	0.5-0.7 GX0zirz	0.7-1.1 9! /kyyU	0.9-1.3 I}m20\|vv
光谱分辨率（nm） #-@uLc	0.06 !1fZ7a	0.09 9 @xl{S-	0.11 !nCq8~#
HC/z3b;	&iVdqr1,	,T`,OZm	g(WP
升级波长范围 P/dnH	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 8'HS$J;C
探测器选择 V*{rHp{=p	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 [IQ\|c?DxpL
光栅台 hd u2?v@	电控 @J"tM.
工作环境 kQ}n~Hn	<10-6mbar zD79M
操作性 r]UF<*$	极易安装使用，用户自己即可安装使用 \?d3Pn5`

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技术优势介绍：
光源可以直接成像/超强信号采集能力
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。

-平场成像技术
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率

紧凑/模块化
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）

结实耐用无需准直
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降

- 定制化
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等

典型客户：

< >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) >F7w]XH
< >Los Alamos `X6JZxGyd
Max Planck Institute

详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn，或致电021-60450828

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