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OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪
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piaodongdewo
2014-07-16 10:10
OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪
)`BKEaf
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功能
B#G:aBCM
o/6VOX
1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统
SU5O+;{`'
2.可测量薄膜的厚度和折射率
ni85Ne$
3.多个响应时间和图像残留分析的选项
:Y Ki
SJ2l6
应用
$Jo4n>/
`=$p!H8
LCD,光学薄膜,配向膜,玻璃,超薄膜等等
q5G`q&O5
用于液晶显示和材料的测量系统
s1]m^,
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。
1,(WS F
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备
\(MIDCZ@-
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统
E/zclD5S
LC单元
T&4f}g/
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式
Z(XohWe2
O 预倾斜,单元间隔和LC单元的旋转
"AP$)xM-:
LC单元参数的高精度测量,包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等
B@U'7`v
VA模式的LC单元
u].7+{
预倾斜角 3σ:<0.01°
!QpOrg
单元间隔 3σ:<0.01μm
|R2p^!m
※精度与样品条件有关
BwkY;Ur/AL
#jh5% @
)8!*,e=4
O IPS的旋转角
I^n DO\m <
:(\JY?+w
O0FUJGuTS
,+5:}hR+
O LCOS的预倾斜和单元间隔
d%UzQ*s
(:I]v_qEYS
\Si p
zW\s{
O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔
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`^] D;RfE
Cv@)tb
HB{'MBs
还有,选项功能(Optional Function)、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。
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V-T曲线,响应时间,图像残留等等
9GRQ^E
光学薄膜
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相位差膜,补偿膜
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相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟(R0),光轴,Rth和折射率(nx,ny,nz)。
Q:|W/RD~
当R0值相对于光轴和级次很大时(大于10000nm),很方便查找特殊值。
3FtL<7B'.
偏振片,圆偏振片
t.dr<
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。
'$c9 S[
玻璃,配向层:低相位差材料
!Sw=ns7
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。
/wax5FS'I,
超薄薄膜
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超薄薄膜功能支持测量厚度,折射率和椭偏参数。
?%[~J
光学特性评价
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在OPTIPRO软件中有许多分析选项,包括透光率,反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节(400~700nm),方位角(0~70°),入射角(-180°~180°)。
T9I$6HAi
利用仿真软件进行更高级的分析
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利用光学仿真软件“LCD Master”,OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。
DR{O.TX
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。
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在仿真方面,丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据,在测量方面,通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。
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OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据,因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。
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利用脚本函数自动测量和优化
KzP{bK5/
脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。
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它可以设置波长,测量位置(X,Y),入射角和方位角。
uorX;yekC
输出结果可以用于下一个测量。
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上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。
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由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的,所以你可以专注于研究和开发。
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硬件选择
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