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piaodongdewo 2014-07-16 10:10

OPTIPROTM系列:高精度反射型测量仪

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功能 F $6JzF$|F  
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1.带旋光仪和椭偏仪的双测量系统 `m")v0n3  
2.可测量薄膜的厚度和折射率 ]I^b&N  
3.多个响应时间和图像残留分析的选项 `uh+d  
oE.59dx  
应用 FL|\D  
f`W)Z$fN5  
LCD,光学薄膜,配向膜,玻璃,超薄膜等等 6k9cvMs%H  
用于液晶显示和材料的测量系统 p!Xn iY  
这台功能强大的系统可以在一台机器上支持多种材料测量。 e0z(l/UB  
你不再需要考虑购买其它额外的配套设备 [:BD9V  
新的OPTIPRO为您提供自定义或集成的分析系统 '>:c:Tewy  
 LC单元 b2r]>*Vc  
LC单元测量支持LC的透射型和反射型模式 UKpc3Jo:~  
O 预倾斜,单元间隔和LC单元的旋转 Jk=_8Xvr`  
LC单元参数的高精度测量,包括ECB、TN、STN、VA、IPS、FFS、OCB等等 4`[2Te>  
VA模式的LC单元 4 \Ig<C9  
预倾斜角 3σ:<0.01° |MMaaW^"  
单元间隔 3σ:<0.01μm Fm#`}K_  
※精度与样品条件有关 7 .y35y  
H.)Y*zK0.  
  
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O IPS的旋转角 +ktubJ@Qgj  
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O LCOS的预倾斜和单元间隔 I83 _x|$FZ  
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O 多区域VAの的预倾斜和单元间隔 H3 >49;`  
 NIh?2w"\  
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还有,选项功能(Optional Function)、发生器单元(Generator unit)为您提供更多的可选择分析选项。 :*I=' M9B  
V-T曲线,响应时间,图像残留等等 ~ ?JN I8  
 光学薄膜 snicVzvA  
相位差膜,补偿膜 OK" fFv  
相位差测量功能支持高精度测量垂直延迟(R0),光轴,Rth和折射率(nx,ny,nz)。  SH6+'7  
当R0值相对于光轴和级次很大时(大于10000nm),很方便查找特殊值。 G0Y]-*1  
偏振片,圆偏振片 w| eVl{~p  
偏振片测量功能支持单层和多层的吸收轴测量。 `lcQ Yd<,4  
 玻璃,配向层:低相位差材料 2|A?9aE%0  
低相位差测量功能支持小于1nm的R0。 S;^'Ek"Z.  
 超薄薄膜 x8!uI)#tS  
超薄薄膜功能支持测量厚度,折射率和椭偏参数。 ]%2y`Jrl^W  
 光学特性评价 lx{ ' bzv  
在OPTIPRO软件中有许多分析选项,包括透光率,反射率以及斯托克斯参数。测量范围可以在可见光范围内进行调节(400~700nm),方位角(0~70°),入射角(-180°~180°)。 q:MSV{k  
利用仿真软件进行更高级的分析 z7_h$v  
利用光学仿真软件“LCD Master”,OPTIPRO可以进行进一步的分析和评价。 'm^]X3y*  
测量结果和仿真可以双向传输每个数据。 }eAV8LU  
在仿真方面,丰富的分析功能和直观的操作为实验结果提供各种数据,在测量方面,通过导入仿真输出可以开发新的测量技术。 0[ZB^  
OPTIPRO和LCD Master可以为您提供可靠的数据,因为这两个系统都保证了数据的一致性。这些数据将引领新的开发领域。 *X /i<  
利用脚本函数自动测量和优化 |)*9BN  
脚本功能提供了一个创新的集成优化系统。 ?0tm{qP  
它可以设置波长,测量位置(X,Y),入射角和方位角。 @]YEOk-  
输出结果可以用于下一个测量。 }2hU7YWt  
上述新的反馈系统可以更容易的得到位置参数。 B|K^:LUk9  
由于复杂结果的采集和处理都是完全由脚本自动完成的,所以你可以专注于研究和开发。 h?Lp9VF  
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硬件选择 &3$FkU^F6  
 信号发生器:外加电压进行采样(最大两个通道) QlMv_|`9  
 精密空调控制单元:机器温度控制 YSbe Cyv  
 加热阶段:加热目标样品 4I8QM&7  
 高精度透射/反射率:提升透射率和反射率测量 oU|_(p"e|  
 自动调节功能:在反射测量中,这个单元旨在自动调节平台的倾斜、高度。用户不需要很复杂的机器对准便可以很容易的得到结果,避免了人为误差。 0TaN#  
主要技术参数 9]vy#a#  
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用户可以根据自己的实际需求定制样品台。 M5:j)o W  
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如果您对此产品的相关信息有任何疑问,请与我们联系。 Vn65:" O  
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讯技光电科技(上海)有限公司 uO>pl37@  
www.infotek.com.cn /r8sL)D+  
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