射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。

技术参数

波长范围 9)4N2=	5-20 Fg,[=CqB[	10-60 ^kXDEKm	25-80 <&+l;z
光源距离（m） w=^*)jZ8	UT^t7MY#O	0.4-0.6 YDQV,`S7	0.5-1.5 *dKA/.g
平场尺寸（mm） zBjqYqZ<+	25.4 BO{J{	50 @*2FG\c<	50 \8t g7Sdq
色散(nm/mm) F^Q	0.5-0.7 2r* o	0.7-1.1 BtqJkdK!;1	0.9-1.3 \|Ec$%
光谱分辨率（nm） CMF1<A4]	0.06 ^\|sQkufo	0.09 @Sv ?Ar	0.11 @9c^{x\4
6DR8(j)=[%	1C\|j<w=i	L50`,,WF	FS@SC`~(
升级波长范围 uvmNQg	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) m' aakq
探测器选择 \|]`+@K,S	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 lYZHM,"
光栅台 zJx<]=]	电控 Xbu >8d?n
工作环境 c9'#G>&h~^	<10-6mbar I;xTyhUd
操作性 uZQ)A,#n;	极易安装使用，用户自己即可安装使用 :X$&gsT/,

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技术优势介绍：
光源可以直接成像/超强信号采集能力
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。

-平场成像技术
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率

紧凑/模块化
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等）

结实耐用无需准直
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降

- 定制化
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等

典型客户：

The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) ~pF'Qw"z|
Los Alamos $[>wJXj3R
Max Planck Institute @lmke>

详细信息，请联系sales@advacedlight.cn或致电021-60450828

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