universalpei |
2014-05-20 14:35 |
粗糙度测量仪P3
产品简介: 0/?=FM> P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,符合国际标准ISO25178,用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品,不收材料形状及颜色的限制。 *Y- rEF > 产品特性: BZ@v8y _TA 1. 测量具有非破坏性:采用白光共聚焦技术,可获得纳米级分辨率 &6@e9ff0 2. 测量范围大:15mm×15mm,无需进行图像拼接 QNCG^ub 3. 可测样品的最大坡度:87oC p|R]/C0f 4. 测量范围广:可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品 DqlspT 5. 不受环境光的影响 R86:1 6. 不受样品反射率与形状的影响 ({p@Ay 7. 操作简单:样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 ($:JI3e[; 主要技术参数: &?B\(?* 1,扫描范围:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm) 8:4`q9 2, 扫描步长:1×1,2×2,5×5(μm) ^W<uc :L7 3, Z方向测量范围:300μm ?c#v'c^=h 4, Z方向测量分辨率:8nm KiG/XnS 5, Z方向测量精度:60nm 1F }mlyS 6,横向光学分辨率:2.6μm S]&7 产品应用: &|)
(lX MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发 YM]ZL,8 +G>;NiP_ 联系人:刘蕊 联系方式:010-53203403 {
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