| alwayshuu |
2006-08-11 12:04 |
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 3sk$B%a>Z
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可测参数： h SZ0 }/
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) .qyk [O
2）反射率R和透射率T qNhQ2x\
3）折射率n和吸收系数k [mSK!Y@u
4）能带间隙 rx*1S/\PPc
5）表面粗糙度和损伤度 No)v&P%
6）成份和结晶程度 c3gy{:lb
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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 aW8Bx\q
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联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 B)F2SK<@
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emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225
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