| alwayshuu |
2006-08-11 12:04 |
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek
世界顶级高精度薄膜光学测量仪器FilmTek系列产品，厂商：美国SCI 公司 4 _P 6 P
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可测参数： +'/C(5y)0X
1）单层或多层薄膜(可达50层)，厚度 （<1Å to 250 um) dY{qdQQ}
2）反射率R和透射率T wQ^RXbJI9
3）折射率n和吸收系数k !]3kFWs
4）能带间隙 @# =yC.s
5）表面粗糙度和损伤度 /_X`i[
6）成份和结晶程度 -TMg9M4
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适用于高精度的薄膜量测，广泛应用于OLED, LCD, 半导体行业和光电行业等。 99tUw' w
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联系方式：中电网EMD(半导体设备与材料部) 上海办 u9m ~1\R*
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emdservice@chinaecnet.com 和电话021-61021225
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