求大神们不吝赐教，来西安联系我，我请客吃饭

大家好，今天第一次用7.0版本的tracepro 做光学系统PST分析，给光学系统设定自动重点采样后，在进行轴外杂散光追迹时，出现了一个
warning，具体内容如下：
importance sampled ray flux greater than total scatter for 5 surface,
suppressing ray,use segments on importent sampling target。

不知道什么原因，还望大侠们解释一下，非常感谢，有空到西安，我请你们吃饭，谢谢 13379278577

pigpig	2014-02-19 11:33
路过，学习下

op-city	2014-02-19 16:20
从提示来看，可能是自动重点取样设定的有问题。

op-city	2014-02-19 16:21
如果真是，记得请我吃饭

wfn129	2014-02-19 18:35
你是西安哪的

vurtne_000	2014-02-19 22:51
西安人还挺多啊，

yuehanbing	2014-02-21 20:11
我是西光所得，以前用的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 k U0.:Gcc 样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。

yuehanbing	2014-02-21 20:12
op-city:从提示来看，可能是自动重点取样设定的有问题。 (2014-02-19 16:20) jAU&h@ uP(t+}dQ+3 我是西光所得，以前用的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 E^Q J50 样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。

yuehanbing	2014-02-21 20:12
wfn129:你是西安哪的 (2014-02-19 18:35) R PoBF~> Ie\|5,qw E 我是西光所的，以前用的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 :~#)Xa0I 样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。

稷下树	2014-02-22 16:48
西安光机所的吗

蕴藉之身	2014-02-27 16:03
西安不错啊，光设同行不少！ @d^Z^H*Yv 有没有武汉的啊

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