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光行天下 -> 光学薄膜设计,工艺与设备 -> 晶控仪 XDM-3K [点此返回论坛查看本帖完整版本] [打印本页]

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morningtech 2013-11-18 14:24

晶控仪 XDM-3K

大家好, h? yG<>wI  
上海膜林科技有限公司的新一代晶控仪 XDM-3K,全中文触摸屏,操作简单,含有多项专利技术,国产镀膜机轻松实现自动化。表现优异,详情请见公司网站:morningtech.cn l t]B#, '  
欢迎 各位不吝赐教,帮助我们进步,也帮助大家共同进步。
morningtech 2013-11-21 16:28
可用晶振片     6MHz     M_D6i%b^  
频率范围     5MHz~6MHz, m^\TUj  
频率分辨率     0.005Hz     ;<G<1+  
频率稳定度     1ppm     4DO/rtkVq  
膜厚分辨率     0.002A     I/COqU7~  
测量更新率     10Hz [H"#7t.V-~  
材料数     112 lg:y|@Y''  
膜系数     20, 可自动串接 TL)O-  
可设定层数     112层/每膜系 L$Z(+6m5  
可控制蒸发源数     3个, 0~10V, 16bit OalP1Gy  
数字输入     8路兼容LVTTL,功能自定义 P-JfV7(O8  
数字输出     10路常开继电器,功能自定义 jlKGXD)Q[  
探头数     1,支持六探头     9g?xlue#?  
电源     90V~240V,AC, 20W ZAg;q#z j  
主机尺寸 XDM-3K     438*88*300 (mm,标准工业机柜宽, 2U高度, 深300mm) L]2< &%N2  
控制方法     PID      td(M#a-  
语言     多国语言(中、英、…)         ]s|lxqP  
通信接口     RS232    
morningtech 2013-11-29 10:56
传一个成膜过程实拍图 0B0G2t&hr  
[attachment=52513]
morningtech 2013-12-05 08:37
问:什么是控制延迟? Q59/ex  
z-0:m|=yH  
成膜初始期间,晶控仪在打开蒸发源挡板后,将其功率保持在最后一个预熔阶段功率不变,直到一定延迟时间后才去自动控制蒸发源功率。这个延迟时间就是所谓的控制延迟时间。 Wm6dQQ;Bj  
在蒸发源挡板刚打开时,晶振片由于受到热冲击而产生异常频率变化(不是厚度带来的),此时晶控仪根据频率计算出来的厚度及速率不是真实值。所以晶控仪不宜马上自动调节功率,而是延迟一定时间后再去自动控制。 It 2UfW  
XDM晶控仪在材料参数中设置控制延迟时间。
morningtech 2013-12-14 09:28
问:什么是挡板延迟? a0zG(7.D  
5(}H ?  
有些晶控系统中,晶控的探头不受蒸发源挡板的遮挡。在挡板打开之前,晶控仪就能测量到沉积速率。这些系统中,需要在挡板打开时就已经建立起稳定的沉积速率。挡板延迟时间就是预熔阶段结束到挡板打开前,建立起沉积速率的最大等待时间! 12r` )  
挡板延迟功能的优点是,挡板开时就已经建立稳定速率。缺点也很明显,探头的位置与产品的位置差异大。 S+*cbA{J|  
目前,XDM不支持挡板延迟功能。若要实现同样效果(挡板开始已经建立速率),可使用两台XDM晶控仪协作。 &R\XUxI  
另外,有的晶控仪二者都支持,也有晶控仪只支持挡板延迟。
morningtech 2014-01-05 21:56
负速率及负厚度问题的来源,对所有成膜工艺都存在,只是值大小不同反应不同。 lfMH1llx  
XDM-3K 有额外付费的  专利功能,就是解决这个现象对真实厚度影响的。 YbvX$/zGu  
经常有超薄层(甚至10nm以下)的用户或愿意研究的可考虑,呵呵。
morningtech 2014-01-13 09:47
问:为什么在挡板打开一定时间内会出现负速率及负厚度? {qAu/ixp  
BpXEK.Xw  
这是成膜工艺带来的正常现象。挡板打开后,一方面,晶振片由于材料沉积而频率下降,另一方面晶振片受到热冲击而频率上升。而晶控仪只根据频率变化来计算厚度及速率,所以如果此时频率总体上升,晶控仪就会输出负速率及负厚度。 p6blD-v  
不同的工艺,坩埚材料状态,甚至新、旧灯丝,即使相同工艺也会每次现象都不重合,这都属于正常现象,不需要进行特别处理。 q lY\*{x4  
@bQ!zCI  
留意下起始这个过程,如有稍大改变,说明某个条件变了,需要引起注意的。 .D@/y uV  
XDM-3K的额外付费功能,针对此现象对厚度进行修正。
morningtech 2014-01-26 09:35
问:什么是使用晶振片原始速率控制? [>uwk``_  
晶控仪显示的速率,通常是包含了比例系数在内的。调整比例系数时,尽管显示速率不变,但晶振片控制的实际速率已经被同时改变。 |,fh)vO  
实际速率改变会带来一系列问题,比如膜厚分布。 Pw #2<>  
所以,XDM在配置参数中提供了这样一个选项,当用户选择后,XDM晶控仪实际控制速率就是材料中的目标速率,不再与比例系数相关,以保证工艺的重复性。
morningtech 2014-01-31 19:42
问:怎么手工控制功率,晶控仪只用于看速率? 'j /q76uXV  
7jZrU|:yu(  
  1.最简单的办法是,XDM的蒸发源功率控制不外接就可以了,让XDM干着急去; 'o8\`\'H!  
  2.将材料设为定功率方式,外接旋转编码器的两端子分别接至<功率增加><功率减少>两个输入功能,此种方式下,旋转编码器将以0.1%的步进值增加或减少输出功率。如再将输入功能<定功率/自动>接出至按钮(如旋转编码器),则可以通过该按钮切换控制模式,看看手工与XDM到底谁控得更稳。
morningtech 2014-02-17 14:47
ITAE是什么意思? bVmvjY4  
ITAE是英文 <Integral Time Absolute Error> 的首字母,时间乘以误差绝对值|t*delta(E)|积分。 2 TCRS#z  
当以此值作为最优控制目标时,要求后期的误差越小,控制系统才越优化。 xucIjPi]  
它是一种具有很好工程实用性和选择性的控制系统性能评价指标。 LI$L9eNv;Y  
WA$ p_% r=  
速率控制的传递函数(阶跃响应)近似为一阶惯性延迟,里面有三个重要的参数 Gain, Time Const, Dead Time,即增益,时间常数和延迟时间。它们描述了系统的响应与激励之间的关系。 "w1(g=n  
将PID控制引入控制系统后,如按照ITAE指标最优控制,则PID控制三参数与传递函数中的三个参数之间存在转换关系。(如按其它指标,如ISE,则转换关系是不一样的!) d:$G|<uA  
9l=Fv6  
XDM 速率控制是采取 PID方式的,只是在显示方法上如下区分: g&aT!%QvX+  
若ITAE未勾选,显示和填写的是 P,I,D参数。 }-@I#9  
若ITAE勾选,  显示和填写的是 G,Tc,Dt参数,由XDM自动转换出 ITAE指标下的最优 PID 参数。 - coy@S=.'  
Pu/lpHm|  
//用户要彻底理解此中缘由,请参考自动控制方面的书籍
morningtech 2014-02-28 15:37
在发一个实拍图 D1~^\)*  
morningtech 2014-03-08 09:37
上图是单个晶振片,用 XDM晶控仪 控制厚度和速率,总层数65层。 9e76 pP(  
成膜结果:[attachment=54553]
morningtech 2014-03-27 22:50
小顶一下,从实拍图中看出工艺的朋友请说话。
morningtech 2014-04-10 18:55
有几种手段控制  初始速率过冲
morningtech 2014-04-20 19:29
附加的厚度补偿功能,可以镀制超薄层!
morningtech 2014-05-12 10:23
有朋友说 2台 3x0显示 频率为 0。昨天带着我公司的XDM-3K及虚拟探头,过去检查一下,都是探头及电缆问题。 4] M =q{  
问题虽不大,但影响生产及实验,最近还有好几位这样的朋友咨询。 =1&}t%<X  
特小结一下: 9M19 UP&  
1.  如果没有频率,一般是 探头及电缆连接 有 短路或断路 这样的问题,这次两个都是断路,只是位置不同; 8Y]}Gb!  
     接 XDM-3K,显示损耗值 在 100%附近,显然是 断路。 | )S{(#k  
     补充说明:XDM-3K就是以断路做基准100%的。 显然,如果是短路,则损耗值将显示为小量。这在探头维护时作用非常明显,呵呵。 qFGB'mIrFz  
2.  速率异常,问题复杂,得具体分析; zh hGqz[K  
2.  晶控仪自身不容易坏。
morningtech 2014-05-18 11:47
[attachment=56300] )uu wwz  
附上晶控仪的图片。 +;5Wp$ M\  
操作非常简单,性能一流。
morningtech 2014-06-05 08:51
XDM-3K是新一代晶控仪,晶振片使用寿命长, 膜厚控制精度高,速率控制效果好。 } pSt@3o,  
研究级性能,平民价格。 >cSi/a,L  
适合于生产各类滤光片以及对膜厚精度要求高的过程。 &?fvt  
*%]+sU  
上海膜林科技有限公司 `,Q<YT ~  
SSo~.)J  
morningtech 2014-06-26 11:15
超薄层及对厚度精度要求高,控制可能。 ^S:cNRSW"  
2014.06, XDM-3K增加了用U盘导入膜系功能,提供pc软件给用户进行文件格式转换。 )OS>9 kFH  
inkfly 2014-07-09 10:12
朋友去年开始用这个XDM-3K,效果不错,精度不比进口的差,操控也很简单,赞一个。
morningtech 2014-07-19 14:13
谢谢支持。 CiHn;-b;  
周一去嘉兴帮朋友看晶控3x0没有频率,用XDM-3K一检查,仍然是探头断路问题。 aslNlH6  
跟15楼时的情形稍许不同的是,这次是探头没有保养,里面比较脏而已。 '&1  
morningtech 2014-08-02 11:19
morningtech:谢谢支持。 W o<PmSt9i  
周一去嘉兴帮朋友看晶控3x0没有频率,用XDM-3K一检查,仍然是探头断路问题。 tIc0S!H#  
跟15楼时的情形稍许不同的是,这次是探头没有保养,里面比较脏而已。 7TMDZ*  
 (2014-07-19 14:13)  P':]A{<Z  
%Q>~7P  
这种问题很常见,探头其实真没有大家想的那么复杂。 "^e}C@  
维护也很方便的。
morningtech 2014-08-06 22:10
上海膜林科技有限公司 将携 XDM-3K 晶控仪 参展2014.09.02~05深圳光博会, 展位7H19,欢迎惠临。 o`JlXuG?o  
2014.10.20~24同济大学第3届光学薄膜前沿国际会议
morningtech 2014-08-26 22:21
上海膜林科技有限公司 将携 XDM-3K 晶控仪 参展2014.09.02~05深圳光博会, 展位7H19,欢迎惠临。 wz|Q%.%?[  
2014.10.20~24同济大学第3届光学薄膜前沿国际会议
morningtech 2014-09-25 08:53
morningtech:这种问题很常见,探头其实真没有大家想的那么复杂。 =4w^)'/  
维护也很方便的。 (2014-08-02 11:19)  WMdz+^\(  
sWpRX2{5,  
有种型号的探头,过真空法兰内部的电连接因腐蚀容易断路,且基本无法维修。 JE8p5WaR  
morningtech 2014-10-06 15:46
morningtech.cn 上有晶控仪的介绍,也有晶控技术介绍
morningtech 2014-10-21 10:50
"*H'bzK  
2014.10.20~24 第三届光学薄膜前沿国际会议(foc 2014) 同济大学中法中心 FclSuQWti  
Oct. 20th, 2014 ---- Oct. 24th, 2014 Sino-French Center, Tongji University [> aoDJ  
会议日程表 请去会议网站 或 我司网站下载 morningtech.cn \Im \*A   
^w.(*;/  
2014.10.22 17:10~18:10, 张贴报告 PII-4,与您相约.  Shanghai MorningTech
morningtech 2014-11-03 10:14
晶控仪频率自检,方便实用. f4\p1MYQ  
配合晶振片阻力损害检查, 对晶控系统可以实现实时方便的在线监测.故障快速定位.
morningtech 2014-11-06 11:33
otxtc 2014-11-16 13:10
7(+ZfY~w"  
简单易用
morningtech 2014-11-23 09:38
otxtc:[表情] [表情] [表情] $P9$ ,w4  
简单易用 (2014-11-16 13:10)  )$N{(Cke2T  
G9":z|  
谢谢 { RX|  
如果您有任何关于晶控方面的疑问,请与我们取得联系。 ]8nm9qmF<  
或许我们能帮到您,或您帮到我们,都是我们的进步。 .vF< 3p|  
联络方式在公司网页上有, morningtech.cn
morningtech 2014-11-26 22:40
这个得顶 w' >v@`y  
inkfly 2014-12-06 15:36
贵司的晶控仪非常OK。性价比超高。 yKhzymS}T  
这次去朋友那边,他把另一台以前的晶控仪也给换成你们的了。 \{mJO>x  
morningtech 2014-12-11 09:23
晶控仪中多层精确计算方法,修正传统算法理论偏差,早已实现。 @SB+u+mOS  
一般仪器也可以使用传统算法来修正,有兴趣的可以联络我们。高校、研究所免费试用。 KrzM]x  
邮箱:13621983193@163.com Ip-jqN J~  
QQ:   1292659135 0~+ k  
任职:上海膜林科技有限公司 !!>G{  
公司地址:上海市松江区施惠路111弄5号,邮编201600 7NEn+OI4  
公司主页: morningtech.cn __npX_4%S  
morningtech 2014-12-18 22:08
公司网页 morningtech.cn 有说明书下载,<产品中心>|<资料下载> \Y p oJ!-  
morningtech 2015-01-01 10:21
2014成果显赫,2015再创佳绩。 y9<Fv|Ric  
上海膜林科技有限公司致力于真空镀膜行业膜厚过程控制,推出的晶控仪XDM-3K、MXC-3K操作简单,精度高,稳定性高。 v_ h{_b8  
详情请参考morningtech.cn。 #Xly5J  
yinhe2008 2015-01-10 14:36
不错,适合初学者
morningtech 2015-01-12 08:25
yinhe2008:不错,适合初学者 (2015-01-10 14:36)  hI$an%Y(  
,b{4GU$3  
zKv}J  
使用上适合初学者,流程符合光学镀膜工艺,容易理解。 K2JS2Y]  
中文触摸屏,所见即所得,直观,操作简单,认识几个字就可以,对操作人员的要求非常低。非常适合最广大镀膜者的需求。 e8Jd*AKjb  
\TjsXy=:)  
实质中,还含有很多在其他品牌中不曾有过的高级光学镀膜工艺,也非常适合高校及研究所等高端使用。 "Z <1Msz  
ynhH5P|6,  
morningtech 2015-01-23 08:43
结果是做出来的。
inkfly 2015-01-31 09:55
操作非常简单,好用。 \RJ428sxn  
morningtech 2015-03-09 08:31
2015.09.02~09.05 深圳光博会.深圳会展中心 NeYj[Q~xy  
sNWj+T  
上海膜林科技有限公司  预定展位 7F43 0=NB[eG  
IIzdCa{l  
morningtech 2015-03-25 18:50
上海膜林科技有限公司 tlE+G@|^  
推出的 MXC-3k , 可支持 144个膜系( 16层/膜系) 或 72个膜系(48层/膜系) cOcm9m#  
石英晶体膜厚控制仪 \O[Cae:^?  
morningtech 2015-04-13 17:41
上海膜林科技有限公司 系列晶控仪 cYK3>p A  
性能优异,质量可靠。 9!tRM-  
也欢迎将您在晶控中遇到的 问题 与我们 沟通。
morningtech 2015-04-24 08:26
上海膜林科技 morningtech.cn 特别推出 适合高校研究所 研究级别应用的 晶控仪。欢迎高校研究所申请试用。
morningtech 2015-05-05 21:42
也非常适合 增透膜,高反膜 9i n&\  
操作简单
morningtech 2015-05-07 17:36
也非常适合 增透膜,高反膜 E=7~\7TE  
操作简单
morningtech 2015-05-22 18:05
接组委会通知,为响应《国务院关于中国人民抗日战争暨世界反法西斯战争胜利70周年纪念日调休放假的通知》, "[76>\'H  
2015年 深圳光博会 展期调整 为 2015.08.31~09.02. J*.qiUAgW  
上海膜林科技有限公司,一流的光学镀膜膜厚过程控制仪器提供商,与您相约展位  7F43 。
yuliang518 2015-05-23 06:25
给个赞
morningtech 2015-06-02 08:37
yuliang518:给个赞 (2015-05-23 06:25)  s#>Bwn&b)  
?J|~ G{yH  
好东西也得要宣传啊.
morningtech 2015-06-29 23:21
morningtech:晶控仪频率自检,方便实用. *DcJ).  
配合晶振片阻力损害检查, 对晶控系统可以实现实时方便的在线监测.故障快速定位. (2014-11-03 10:14)  (< gk<e*  
fO|oV0Rw  
半年多的事实证明,去年开发的频率自检功能结合 XDM-3K 或 MXC-3K晶控仪阻力损耗(发明专利已授权)功能,对晶振故障的快速定位真的非常有帮助。
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