CIOE2013:深圳市华腾半导体设备有限公司HT-7900测试分选机 &Cv0oi&B 高速:单颗LED测试周期≥120ms,其中测试时间≥35ms。 C^2J< 高品质:搭配日本原装测试仪,相关测试项目之GRR小于10%。 Cp { j+Ia 操作方便:PLC控制,全彩液晶触摸屏,高品质人机界面,中英文显示。 &