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newopto 2013-07-01 10:58

SpotOn位敏探测系统

SpotOn位敏探测系统 n[E/O}3& /  
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新势力光电供应SpotOn位敏探测系统，光谱范围350-1100nm 、位置精度±0.1um或者光束尺寸±0.025%。该系列位敏探测系统用于测量：激光中心/位移/功率的测量、光学系统准直及品质控制、旋转及位移的测量、平面度及准直性的校准、振动及缺陷的监控。 P9yg  
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Model
Descriptions
SPOTUSB-L
Lateral effect PnP 9mm×9mm, no glass cover
SPOTUSB-N
Lateral effect PnP 10mm×10mm, with glass cover
SPOTUSB-Q
Four quadrant PnP 10mm×10mm, with 30um gap, no glass cover
SPOTUSB-U
Four quadrant PnP 10mm×10mm, with 10um gap, with glass cover
SPOTON-LA
Large aperture, 135mm×100mm, 400-800nm
Optional heads
L44
Lateral effect PnP, usable beam size<25mm
L18
Lateral effect PnP 18mm×18mm, with glass cover
L4
Lateral effect PnP 4mm×4mm, no glass cover
Optional accessories
NG4
ND filter in housing (3/4"-32 thread)
NG9
ND filter in housing (3/4"-32 thread)
NG10
ND filter in housing (3/4"-32 thread)
Hood
55mm long, for ambient light suppression
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www.NewOpto.com VKb=)v[K  
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相关商品 g3*J3I-O  
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  •      qe_qag9  
    位敏探测器(PSD)
  • jccSjGX@w  
    BeamOn光束质量分析仪
  • i5; _  
    紧凑型位敏探测系统
  • V2oXg  
    SpotOn Analog位敏探测系统
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