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tramp1987 2013-05-16 09:06

Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         (Y86q\DQ?|  
W-MQMHQ  
B(hNBq7  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪,其应用在光学测量学中(光学特性和表面分析系统);也应用在激光测量学中(分析仪和相适应的光学环);同样应用在生物领域(成像相位)等。 SrxX-Hir  
LdcP0G\"VG  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量,可以给出相位和强度的分布图,并可提供精确的激光束分析功能。 Y|",.~  
特点: ^B<jMt  
高分辨率(400*300) 6k-]2,\#  
消色差功能 8@!SM  
测量可重复性高 2B|3`trY4x  
对振动不敏感 '` n\YO.N  
易于使用,Firewire IEEE1394接口 f-PDgs   
结构紧凑(可用笔记本电脑控制)  c`TgxMu  
Z=ho7i  
参数:      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人:马忠华  联系电话:021-34635258  15618996225      邮箱:saleschina@rayscience.com
LYT0 XB)A  
型号
V'8 (}(s/  
采样数
/ wEr>[8S  
感光尺寸(mm&sup2;)
"qF8'58  
精度/动态范围
Z"A:^jZ<s  
光谱范围
?AR6+`0  
采样速率
C]}0h!_V  
SID4
Xo P]PR`cQ  
120×160
&}WSfZ0{  
3.6×4.8
Li}yK[\]  
10nm RMS/100μm
f_}55?i0  
350-1100nm
/%~`B[4F  
60fps
v+Hu=RZE  
SID4UV-HR
,ua]h8  
250×250
<I7UyCAF  
8.0×8.0
Z# 1Qj9  
10nm RMS/200μm
sD M!Uv2n  
190-400nm
L_/.b%0)  
30fps
fV3J:^)F  
SID4 NIR
9K)2OX;$w  
120×160
$OmtN"  
3.6×4.8
^#;2 Pd>  
15nm RMS/100μm
Da.vyp  
1500-1600nm
a XwFQ,  
60fps
UJO+7h'  
SID4-HR
V /|@   
300×400
*<J**FhcMu  
8.9×11.8
nfd^'}$]  
10nm RMS/500μm
o+&/ N-t  
400-1100nm
B<i1UJ5  
10fps
NVP~`sxiZ  
SID4 DWIR
Fm:Ri$iT  
72×96
)U5AnL  
10.08×13.44
pDW .Pav  
75nm RMS
VPK)HzPG,  
3-5μm&8-14μm
/6g*WX2P1  
50fps
p=p,sJ/@  
SID4 BIO
J-=&B5"O>  
300×400
HyZh27PE  
8.9×11.8
;vuok]@  
500μm
~Xa >;  
350-1100nm
23 3jT@Z  
10Hz
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