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tramp1987 2013-05-16 09:06

Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         Mg^A,8lrm  
 )iPU   
9CIQRc  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪,其应用在光学测量学中(光学特性和表面分析系统);也应用在激光测量学中(分析仪和相适应的光学环);同样应用在生物领域(成像相位)等。 }Vm'0  
:de4Fje/4y  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量,可以给出相位和强度的分布图,并可提供精确的激光束分析功能。 :Xx7':5  
特点: c~\^C_  
高分辨率(400*300) kMa|V0  
消色差功能 9(a*0H  
测量可重复性高 \D%n8O  
对振动不敏感 >k}Kf1I  
易于使用,Firewire IEEE1394接口 Ym-mfWo^#  
结构紧凑(可用笔记本电脑控制) 3Dh{#"88  
+&1#ob"6lq  
参数:      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人:马忠华  联系电话:021-34635258  15618996225      邮箱:saleschina@rayscience.com
7{rRQ~s&g9  
型号
Y\(?&7Aax  
采样数
${t$:0R,h  
感光尺寸(mm²)
Us>n`Lj@  
精度/动态范围
N45@)s!F9j  
光谱范围
bGj<Dojl  
采样速率
jlD3SF~2  
SID4
 )Z:maz  
120×160
VhgcvS@V  
3.6×4.8
d5W =?  
10nm RMS/100μm
Pn}oSCo  
350-1100nm
3/su1M[  
60fps
ar`}+2Qh0  
SID4UV-HR
gX5.u9%C\  
250×250
/hGu42YG  
8.0×8.0
) d=&X|S>  
10nm RMS/200μm
U}-hV@y  
190-400nm
ef:Zi_o   
30fps
8PRB_ny  
SID4 NIR
1!ijRr  
120×160
<ou=f'  
3.6×4.8
{~=gKZ:-@  
15nm RMS/100μm
ev yA#~o  
1500-1600nm
Xpmi(~n  
60fps
 OF( tCK  
SID4-HR
<+`}: A  
300×400
lIatM@gU  
8.9×11.8
hl+ T  
10nm RMS/500μm
`9G1Bd8k  
400-1100nm
fd1z XK#Z2  
10fps
}M(XHw  
SID4 DWIR
YtT:\#D  
72×96
vqwSOh|P9  
10.08×13.44
&<5oDdC  
75nm RMS
HD}3mP  
3-5μm&8-14μm
m\|ie8  
50fps
1ZfhDtK(  
SID4 BIO
Z&y9m@  
300×400
@ |7e~U  
8.9×11.8
"Ze<dB#,Y  
500μm
Ktf lbI!  
350-1100nm
)G$0:-J-  
10Hz
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