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tramp1987 2013-05-16 09:06

Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         ^:c"%<"='  
cI Byv I-  
H)${"  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪,其应用在光学测量学中(光学特性和表面分析系统);也应用在激光测量学中(分析仪和相适应的光学环);同样应用在生物领域(成像相位)等。 z'FJx2  
XZk?aik}`  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量,可以给出相位和强度的分布图,并可提供精确的激光束分析功能。 \?9{H6<=  
特点: z^q ~|7  
高分辨率(400*300) %HNe"7gk  
消色差功能 mP?~#RZ  
测量可重复性高 F9SkEf]99  
对振动不敏感 ~/B[;#  
易于使用,Firewire IEEE1394接口 )|`# BC  
结构紧凑(可用笔记本电脑控制) w53+k\.  
#CaT0#v  
参数:      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人:马忠华  联系电话:021-34635258  15618996225      邮箱:saleschina@rayscience.com
kZsat4r  
型号
VZ:L K  
采样数
=[ $zR>o*%  
感光尺寸(mm&sup2;)
;6?VkF  
精度/动态范围
(Es0n$Xb  
光谱范围
hu G]kv3F:  
采样速率
lR9~LNK?  
SID4
zoU-*Rs6  
120×160
V_SZp8  
3.6×4.8
j/FFxlFNL  
10nm RMS/100μm
: Nf-}"  
350-1100nm
m R3km1T  
60fps
b\U p(]  
SID4UV-HR
j0L A  
250×250
2JV,A Zf  
8.0×8.0
8u401ddg  
10nm RMS/200μm
oA _,jsD4  
190-400nm
%:P&! F\?  
30fps
,MtN_V-  
SID4 NIR
?G#T6$E8  
120×160
L)sCc0fv7k  
3.6×4.8
.mse.$TK.^  
15nm RMS/100μm
j>5D4}*]f  
1500-1600nm
jG0o-x=X  
60fps
YB}p`b42L  
SID4-HR
Rw54`_kFEB  
300×400
*:q,G  
8.9×11.8
\ >@'wl  
10nm RMS/500μm
k_2W*2'S  
400-1100nm
"uz}`G~O  
10fps
J(\]39y  
SID4 DWIR
c&+p{hH+  
72×96
(>OCLmV$  
10.08×13.44
483BrFV  
75nm RMS
SLa\F  
3-5μm&8-14μm
)_bR"!Z  
50fps
FE)L?  
SID4 BIO
}#[MV+D  
300×400
03iD(,@  
8.9×11.8
\` |*i$  
500μm
#8!xIy  
350-1100nm
)1KlcF  
10Hz
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