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tramp1987 2013-05-16 09:06

Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         9e|-sn  
32h}+fd  
8@;|x2=y  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪,其应用在光学测量学中(光学特性和表面分析系统);也应用在激光测量学中(分析仪和相适应的光学环);同样应用在生物领域(成像相位)等。 )CgKZ"  
Y%<y`]I  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量,可以给出相位和强度的分布图,并可提供精确的激光束分析功能。 %oPW`r  
特点: Bgb~Tz'  
高分辨率(400*300) U9w0kcUw#J  
消色差功能 &b :u~puM  
测量可重复性高 {"{kWbXZ  
对振动不敏感 +/xmxh$ $  
易于使用,Firewire IEEE1394接口 Jr|"QRC  
结构紧凑(可用笔记本电脑控制) \j C[|LM&  
ogD 8qrZ6J  
参数:      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人:马忠华  联系电话:021-34635258  15618996225      邮箱:saleschina@rayscience.com
\S #Mc  
型号
581Jp'cje  
采样数
z[Sq7bbYO  
感光尺寸(mm&sup2;)
Cj{+DXT  
精度/动态范围
VF#2I %R*  
光谱范围
r?cDyQE  
采样速率
w:[1,rRvT  
SID4
scr`] tD  
120×160
>ZRCM  
3.6×4.8
]QM{aSvXA  
10nm RMS/100μm
117`=9F  
350-1100nm
_(A9k{  
60fps
HJ5 Ktt  
SID4UV-HR
'7BJ.  
250×250
*=G~26*!V  
8.0×8.0
zNTcy1Sthk  
10nm RMS/200μm
87&BF)]  
190-400nm
9gWR djK:  
30fps
Ug}dw a  
SID4 NIR
h\qQ%|X  
120×160
D1xIRyc/  
3.6×4.8
=yT3#A~<G  
15nm RMS/100μm
Z\1*g k  
1500-1600nm
o 8fB  
60fps
CdB sd  
SID4-HR
TNi4H:\  
300×400
A=N &(k  
8.9×11.8
XSfl'Fll D  
10nm RMS/500μm
;i;2cq  
400-1100nm
[u?*' c{  
10fps
/-C`*P=:u  
SID4 DWIR
i sK_t*  
72×96
/Kw}R5l  
10.08×13.44
B7'rbc'  
75nm RMS
U3UKu/Z  
3-5μm&8-14μm
MKdS_&F;~  
50fps
30BFwNE  
SID4 BIO
Pn?,56SD=  
300×400
B|fh 4FNy  
8.9×11.8
)Z/L  
500μm
[quT&E  
350-1100nm
to2#PXf]y  
10Hz
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