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tramp1987 2013-05-16 09:06

Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         @mRrA#E#{  
SJc@iffS  
iA{jKk=  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪,其应用在光学测量学中(光学特性和表面分析系统);也应用在激光测量学中(分析仪和相适应的光学环);同样应用在生物领域(成像相位)等。 @&xaaqQ-  
{2gd4[:  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量,可以给出相位和强度的分布图,并可提供精确的激光束分析功能。 qq7X ",s  
特点: rjQhU%zv  
高分辨率(400*300) S Ljf<.S  
消色差功能 ~ 9~\f  
测量可重复性高 Sc$8tLDLj  
对振动不敏感 o"}&qA;  
易于使用,Firewire IEEE1394接口 pH l2!{z  
结构紧凑(可用笔记本电脑控制) KP d C9H  
^C)TM@+  
参数:      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人:马忠华  联系电话:021-34635258  15618996225      邮箱:saleschina@rayscience.com
=>z tBw\  
型号
C"^hMsU8  
采样数
 ; zE5(3x  
感光尺寸(mm&sup2;)
Z t+FRR=  
精度/动态范围
l8AEEG8>  
光谱范围
VMye5  P  
采样速率
Z*9]:dG:!  
SID4
9C)3 b3  
120×160
CL'Xip')T  
3.6×4.8
m_Ac/ct f  
10nm RMS/100μm
O:^LQ  
350-1100nm
oSA*~N:  
60fps
Q$h:[_v  
SID4UV-HR
`=}UFu  
250×250
71/m.w  
8.0×8.0
T<e7(=  
10nm RMS/200μm
P&%eIgAOL  
190-400nm
87pXv6'FQ  
30fps
hKZ`DB4  
SID4 NIR
KA-/k@1&  
120×160
"`i:)Et  
3.6×4.8
7Cd_zZ  
15nm RMS/100μm
g;!@DVF$  
1500-1600nm
mhi90Jc  
60fps
~'NpM#A  
SID4-HR
r -q3+c^+  
300×400
6(J4IzZ  
8.9×11.8
4]aiT8))  
10nm RMS/500μm
#3Ej0"A@-B  
400-1100nm
,c%K)KuPK.  
10fps
8hKP  
SID4 DWIR
Ed^uA+D  
72×96
<{cNgKd9  
10.08×13.44
b WbXh$  
75nm RMS
]Q4PbW  
3-5μm&8-14μm
oO#xx)b  
50fps
{ 8f+h  
SID4 BIO
"7yNKO;W  
300×400
t `Y!"l  
8.9×11.8
~3bZ+*H>  
500μm
H\| ]!8w5Z  
350-1100nm
a%T -Z.rd  
10Hz
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