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tramp1987 2013-05-16 09:06

Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         m4?a'z"  
jI%glO'2  
Sq]QRI/  
法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪,其应用在光学测量学中(光学特性和表面分析系统);也应用在激光测量学中(分析仪和相适应的光学环);同样应用在生物领域(成像相位)等。 {uurLEe?  
S]Ye`  
该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量,可以给出相位和强度的分布图,并可提供精确的激光束分析功能。 Z8`Y}#Za[  
特点: Gn^m541  
高分辨率(400*300) o(yyj'=(  
消色差功能 $|t={s34  
测量可重复性高 V[0 ZNT&  
对振动不敏感 6w~Cyu4Ov  
易于使用,Firewire IEEE1394接口 uC%mGZ a  
结构紧凑(可用笔记本电脑控制) KNjU!Z/4  
W5>emx'>  
参数:      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人:马忠华  联系电话:021-34635258  15618996225      邮箱:saleschina@rayscience.com
aKintb}n  
型号
3)y=}jw  
采样数
N@X(YlO  
感光尺寸(mm²)
]CDUHz  
精度/动态范围
Ax*xa6_2  
光谱范围
-""(>$b 2  
采样速率
i,wZNX  
SID4
5?m4B:W  
120×160
M(vX.kF  
3.6×4.8
CA5T3J@vAQ  
10nm RMS/100μm
P!I Lji!  
350-1100nm
xlH3t&i7  
60fps
C;~LY&=  
SID4UV-HR
g3 Oro}wt6  
250×250
L{oG'aK4  
8.0×8.0
_9'hmej  
10nm RMS/200μm
^!z(IE'  
190-400nm
2"c5<  
30fps
3H|drj:KV  
SID4 NIR
8erG](  
120×160
@9~x@[  
3.6×4.8
GT\ yjrCd  
15nm RMS/100μm
5?[hr5E.E  
1500-1600nm
Eihy|p  
60fps
}<zbx*!  
SID4-HR
[^D>xD3B2  
300×400
N 1ydL  
8.9×11.8
X#HH7V>  
10nm RMS/500μm
}rUAYr~VZ  
400-1100nm
CY.4>,  
10fps
zB/VS_^^W:  
SID4 DWIR
[SD mdr1T$  
72×96
YRMe<upo  
10.08×13.44
?Qx4Z3n  
75nm RMS
4o"?QV:  
3-5μm&8-14μm
&TL"Hd  
50fps
Ow(aRWUZD_  
SID4 BIO
7!wc'~;  
300×400
3D^cPkX  
8.9×11.8
5 D=r7  
500μm
,.h@tN<C  
350-1100nm
B&_Z&H=  
10Hz
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